基于电容耦合式天线的CT检测装置及天线制作方法制造方法及图纸

技术编号:28293214 阅读:21 留言:0更新日期:2021-04-30 16:15
本发明专利技术涉及一种基于电容耦合式天线的CT检测装置及天线制作方法,涉及柔性电路技术领域,解决了现有的电容耦合式天线的长度和阻抗无法满足实际需求的问题,CT检测装置包括:CT探测器、旋转盘、电容耦合式天线和数据处理单元;所述CT探测器用于采集被检测物体的图像,通过所述电容耦合式天线将所被检测物体的图像传输至所述数据处理单元;所述CT探测器和所述电容耦合式天线安装在所述旋转盘上;所述电容耦合式天线为电路板制成的天线,所述电路板基材的材料包括:聚乙烯和/或聚四氟乙烯。本发明专利技术提供的技术方案能够提高检测设备的传输信号效率。

【技术实现步骤摘要】
基于电容耦合式天线的CT检测装置及天线制作方法
本专利技术涉及柔性电路
,尤其涉及一种基于电容耦合式天线的CT检测装置及天线制作方法。
技术介绍
X射线计算机断层扫描成像技术(简称“CT技术”)因其自身特有的优势,在安全检查领域被高度重视并广泛使用。在扫描过程中,检测设备需要用电容耦合式天线进行实时数据交互,电容耦合式天线通常是圆形的。然而,受工艺和天线材质影响,现有的电容耦合式天线的长度和阻抗无法满足实际需求,从而降低了检测设备的传输信号效率。
技术实现思路
鉴于上述的分析,本专利技术旨在提出一种基于电容耦合式天线的CT检测装置及天线制作方法,从而提高了检测设备的信号传输效率。本专利技术的目的主要是通过以下技术方案实现的:第一方面,本专利技术实施例提供了一种基于电容耦合式天线的CT检测装置,包括:CT探测器、旋转盘、电容耦合式天线和数据处理单元;所述CT探测器用于采集被检测物体的X射线信号,通过所述电容耦合式天线将所被检测物体的X射线信号传输至所述数据处理单元;所述CT探测器和所述电容耦合式天线安装在所述旋转盘上;所述电容耦合式天线为电路板制成的天线,所述电路板基材的材料包括:聚乙烯和/或聚四氟乙烯。进一步地,所述电容耦合式天线的数量为两个;两个所述电容耦合式天线围绕所述旋转盘的外边缘上,信号输出端和信号输入端相互接触,形成信号传输通路。进一步地,所述电路板还包括:插件、上铜箔走线和下铜箔走线;所述插件、所述上铜箔走线和所述下铜箔走线设置在所述基材上;所述插件设置在所述电路板的一端;所述插件一端连接所述上铜箔走线,另一端连接下铜箔走线。进一步地,所述上铜箔走线的厚度为:0.1mm-0.2mm;所述上铜箔走线铜箔宽度为:4mm-7mm。进一步地,所述下铜箔走线的厚度为:0.1mm-0.2mm;所述下铜箔走线铜箔宽度为:3cm-5cm。进一步地,所述电路板为双层电路板;所述双层电路板的电路分别设置在所述基材两侧;每一侧的电路包括:插件、上铜箔走线和下铜箔走线。进一步地,所述电路板的厚度为1mm-1.5mm。进一步地,所述装置还包括:编码器和传送带;所述编码器设置在所述传送带上,并跟随所述传送带移动;所述编码器用于采集所述传动带的移动数据,并将所述移动数据传输至所述数据处理单元,所述移动数据包括:所述传送带的移动速度和移动时间;所述数据处理单元用于根据外部输入的停止指令,确定所述传送带处于停带状态;并根据所述电容耦合式天线传输的X射线信号、所述移动数据和预设的倒带时间,对停带前后被检测物体的图像进行拼接。进一步地,所述基材的厚度为0.7mm-1.0mm。第二方面,本专利技术实施例提供了一种电容耦合式天线的制作方法,制备第一方面中任一项所述的CT检测装置的电容耦合式天线,包括:基材选择;确定上铜箔走线的厚度和宽度、下铜箔走线的厚度和宽度以及基材厚度;将所述上铜箔走线和所述下铜箔走线贴在所述基材上,得到电路板;在所述电路板的顶面和底面贴上绝缘膜,得到所述电容耦合式天线。进一步地,所述上铜箔走线和所述下铜箔走线为差分线,差分阻抗为80欧姆-100欧姆。进一步地,所述基材的介电常数为2.2-2.8。进一步地,所述CT探测器用于采集被检测物体的第一图像;通过所述信号传输天线将所述第一图像传输至所述数据处理单元;所述编码器用于采集所述传送带的移动数据,并将所述移动数据传输至所述数据处理单元,所述移动数据包括:所述传送带的移动速度和移动时间;所述数据处理单元用于根据外部输入的停止指令,确定所述被检测物体停止移动;根据所述第一图像、所述移动数据和预设倒带时间中的一个或多个,生成移动指令,并将所述移动指令发送至所述编码器和所述CT探测器;所述编码器用于根据所述移动指令控制,控制所述传送带移动;所述CT探测器用于根据所述移动指令采集所述被检测物体的第二图像,并通过所述信号传输天线将所述第一图像传输至所述数据处理单元;所述数据处理单元用于拼接所述第一图像和所述第二图像,得到被检测物体的完整图像。本专利技术技术方案具有如下有益效果之一:1.CT检测设备包括旋转盘,电容耦合式天线通常需要缠绕在旋转盘上,并伴随旋转盘进行360度转动。因此,将电路板制成天线,从而能够将通信模块(在本专利技术实施例中通信模块设置在插件上)集成在天线上,以便于电容耦合式天线伴随旋转盘进行360度转动。2.现有技术中通常用PCB电路板做电容耦合式天线,由于PCB板的材质比较脆,因此PCB板做成的电容耦合式天线容易在弯折的过程中断裂,且生产出的PCB板做成的电容耦合式天线的长度有限,一般不超过1.2m。因此,将两条PCB板做成的电容耦合式天线围绕在旋转盘上时,由于长度有限,两条天线的信号输出端和信号输入端之间存在距离,从而降低信号传输效率。由于弯折过程中易断裂,两条天线很可能在使用过程中失去信息传输功能。本专利技术利用聚乙烯或四氟乙烯为基材制作电容耦合式天线,使得电容耦合式天线具有足够柔性且生成出的天线长度可以到达2m以上,因而可以使两条天线的信号输出端和信号输入端相接触,并能够保证天线在弯折的过程中不会出现折断的情况,从而提高了信号的传输效率。3.本专利技术提供的电容耦合式天线的信号输出端和信号输入端之间相互接触,减小了信号衰减,保证了图像的清晰度。同时,以聚乙烯或四氟乙烯为基材保证电容耦合式天线在缠绕在旋转盘上时不会折断,从而保证图像的稳定度。由此可知本专利技术提供的电容耦合式天线,为图像拼接奠定了技术基础,以便于在传送带停带后,CT检测装置可以自行对停带前未完成检测的物体继续进行安检,提高检测效率。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分的从说明书中变得显而易见,或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图仅用于示出具体实施例的目的,而并不认为是对本专利技术的限制,在整个附图中,相同的参考符号表示相同的部件。图1为本专利技术实施例提供的一种CT检测装置的结构示意图;图2为本专利技术实施例提供的一种两层电路板的结构示意图。附图说明:1-插件;2-第一金属铜箔;3-基材;4-第二金属铜箔;10-射线源;20-旋转盘;30-CT探测器;40-被检测物体;50-传送带;60-传送带电机;70-运动控制计算机;80-滑环电机;90-数据处理计算机。具体实施方式下面结合附图来具体描述本专利技术的优选实施例,其中,附图构成本申请一部分,并与本专利技术的实施例一起用于阐释本专利技术的原理,并非用于限定本专利技术的范围。CT装置的结构通常如图1所示,包括:射线源10、旋转盘20和CT探测器30、传送带50、数据处理单元90、传送带电机60、滑环本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于电容耦合式天线的CT检测装置,其特征在于,包括:CT探测器、旋转盘、电容耦合式天线和数据处理单元;/n所述CT探测器用于采集被检测物体的X射线信号,通过所述电容耦合式天线将所被检测物体的X射线信号传输至所述数据处理单元;/n所述CT探测器和所述电容耦合式天线安装在所述旋转盘上;/n所述电容耦合式天线为电路板制成的天线,所述电路板基材的材料包括:聚乙烯和/或聚四氟乙烯。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于电容耦合式天线的CT检测装置,其特征在于,包括:CT探测器、旋转盘、电容耦合式天线和数据处理单元;
所述CT探测器用于采集被检测物体的X射线信号,通过所述电容耦合式天线将所被检测物体的X射线信号传输至所述数据处理单元;
所述CT探测器和所述电容耦合式天线安装在所述旋转盘上;
所述电容耦合式天线为电路板制成的天线,所述电路板基材的材料包括:聚乙烯和/或聚四氟乙烯。


2.根据权利要求1所述的CT检测装置,其特征在于,
所述电容耦合式天线的数量为两个;
两个所述电容耦合式天线围绕所述旋转盘的外边缘上,信号输出端和信号输入端相互接触,形成信号传输通路。


3.根据权利要求1所述的CT检测装置,其特征在于,
所述电路板还包括:插件、上铜箔走线和下铜箔走线;
所述插件、所述上铜箔走线和所述下铜箔走线设置在所述基材上;
所述插件设置在所述电路板的一端;
所述插件一端连接所述上铜箔走线,另一端连接下铜箔走线。


4.根据权利要求3所述的CT检测装置,其特征在于,
所述上铜箔走线的厚度为:0.1mm-0.2mm;
所述上铜箔走线铜箔宽度为:4mm-7mm。


5.根据权利要求3所述的CT检测装置,其特征在于,
所述下铜箔走线的厚度为:0.1mm-0.2mm;
所述下铜箔走线铜箔宽度为:3cm-5cm。

【专利技术属性】
技术研发人员:刘晓超徐圆飞李保磊刘念翟利梁丽华李华宇
申请(专利权)人:北京航星机器制造有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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