一种用于北斗导航芯片的插口测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，属于插口测试装置技术领域。一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，包括测试主体，测试主体左侧下端设有调节盒，转盘上侧呈环形等间距设有多个固定块，夹板内侧夹设有待测插口，缺口圆盘圆周外壁一侧设有摇臂，转轴中部套接有半球形槽轮，半球形槽轮上侧圆周外壁呈环形等间距开设有过个弧形槽，弧形槽与缺口圆盘滑动连接，结构间的紧密配合，使其可以对多个芯片插口进行间接测试，有效的避免了每次测试完一个插口再更换一个的情况，从而提高了芯片插口测试的效率，减轻了工作人员的负担，同时避免了反复更换造成芯片插口损坏的情况，有效得节约了成本。有效得节约了成本。有效得节约了成本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于北斗导航芯片的插口测试装置


[0001]本专利技术涉及插口测试装置
，更具体地说，涉及一种用于北斗导航芯片的插口测试装置。

技术介绍

[0002]随着科技的进步和发展，芯片的发展迅速，芯片，又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(英语：integrated circuit,IC)。是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分。芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体。
[0003]近年来，随着我国卫星导航定位技术的快速发展和应用，北斗芯片作为卫星导航定位技术的基础和核心，北斗芯片包含了RF射频芯片，基带芯片及微处理器的芯片组，相关设备通过北斗芯片，可以接受由北斗卫星发射的信号，从而完成定位导航的功能，不同领域对北斗芯片需求量越来越大，为了保证北斗芯片的功能和性能，北斗芯片出厂前的测试必不可少，所以一种既安全又操作方便的北斗芯片测试装置显得尤为重要。现有技术公开号为CN111649928A的文本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，包括测试主体(1)，其特征在于：所述测试主体(1)左侧上端设有检测插头(2)，所述测试主体(1)左侧下端设有调节盒(3)，所述调节盒(3)上方设有转盘(4)，所述转盘(4)上侧呈环形等间距设有多个固定块(5)，所述固定块(5)内部对称设有两个夹板(501)，所述夹板(501)内侧夹设有待测插口(503)，所述固定块(5)底面呈对角结构设有两个套筒(401)，所述套筒(401)上侧设有伸缩杆(402)，所述伸缩杆(402)下端穿过套筒(401)上壁延伸至内部并固设有限位板(403)，所述限位板(403)下方设有弹簧A(404)，所述调节盒(3)左侧中部后端设有摇把(6)，所述摇把(6)右端穿过调节盒(3)外壁延伸至内部并套接有凸轮(601)，所述摇把(6)右端套接有缺口圆盘(602)，所述缺口圆盘(602)圆周外壁一侧设有摇臂(603)，所述摇臂(603)外侧固设有限位柱(604)，所述摇把(6)右侧圆周外壁固设有指针(605)，所述调节盒(3)内部中间位置转动连接有转轴(301)，所述转轴(301)上端穿过调节盒(3)内壁延伸至外部并与所述转盘(4)底面中部连接固定，所述转轴(301)中部套接有半球形槽轮(302)，所述调节盒(3)内部左侧中间位置固设有固定耳(7)，所述固定耳(7)上侧通过销轴对称转动连接有两个活动杆(701)，位于内侧的所述活动杆(701)右端套接有调节柱(702)，所述调节柱(702)后端套接有调节块(703)，所述调节块(703)上方设有杠杆(704)，所述杠杆(704)左侧上端设有推杆(706)，所述调节盒(3)左侧外壁后端呈环形等间距设有多个刻度线(3...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁远威，
申请(专利权)人：梁远威，
类型：发明
国别省市：