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本发明公开了一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，属于插口测试装置技术领域。一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，包括测试主体，测试主体左侧下端设有调节盒，转盘上侧呈环形等间距设有多个固定块，夹板内侧夹设有待测插口，缺口圆盘圆周外壁一侧设有摇臂...
该专利属于梁远威所有，仅供学习研究参考，未经过梁远威授权不得商用。

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