【技术实现步骤摘要】
装片银浆残余检测机构
[0001]本技术涉及半导体生产辅助设备
,特别涉及一种装片银浆残余检测机构。
技术介绍
[0002]在半导体封装生产过程中,装片银浆更换一般采用计数更换和员工肉眼检查胶量的方式更换。
[0003]目前这种更换方式存在很多问题,一是银浆浪费问题,有的胶管还残余很多就进行了更换,二是有的胶管胶量用光还在正常作业,大大的增加了生产成本和芯片成本,同时也增加了后续的返工成本。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是提供装片银浆残余检测机构,可以自由更换大小胶管,操作简单,运行稳定,在预设的位置可以有效的检测胶量残余,避免胶量残余过多和太少而带来的相关问题,大大节约了生产成本,避免相关生产事故的发生。
[0005]本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:
[0006]一种装片银浆残余检测机构,包括安装板,所述安装板上连接有管安装座以及滑块,所述管安装座内设有银浆管;
[0007]所述滑块连接有沿银浆管径向滑移的感应器、驱动感应器抵接于银浆管外壁的弹性 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种装片银浆残余检测机构,其特征在于:包括安装板(2),所述安装板(2)上连接有管安装座(21)以及滑块(3),所述管安装座(21)内设有银浆管(1);所述滑块(3)连接有沿银浆管(1)径向滑移的感应器(4)、驱动感应器(4)抵接于银浆管(1)外壁的弹性件,感应器(4)用于感应银浆管(1)在其对准高度上是否还有银浆。2.根据权利要求1所述的装片银浆残余检测机构,其特征在于:所述感应器(4)为激光对射传感器。3.根据权利要求1所述的装片银浆残余检测机构,其特征在于:所述弹性件包括抵接于感应器(4)与滑块(3)之间的压缩弹簧(34)。4.根据权利要求3所述的装片银浆残余检测机构,其特征在于:所述滑块(3)中贯穿设置有若干用于导向感应器(4)滑移的导向轴(31),所述压缩弹簧(34)套设于导向轴(31)外。5.根据权利要求4所述的装片银浆残余检测机构,其特征在于:所述导向轴(31)远离感应器(4)一端连接于同一安装块(32),安装块(32)位于滑块(3)远离感应器(4)一侧,所述安装块(32)中螺纹连接有调节螺丝(33),所述调节螺丝(33)靠近...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱冬成,
申请(专利权)人:南通斯康泰智能装备有限公司,
类型:新型
国别省市:
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