一种接触式微位移检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种接触式微位移检测装置，包括中空的壳体，壳体内横向设有测量杆，测量杆的左端穿出壳体外，测量杆上下两侧从内向外依次设有磁控弹性体、压电片和U型安装槽，两个U型安装槽相背设置，且分别与壳体的上、下内侧壁围成分别用于放置第一永磁体与第二永磁体的空腔，两个压电片均连接有引线，壳体内靠右固设有定向板，测量杆右端穿过定向板自由悬空，壳体右内侧壁上设有垫块；壳体左侧壁和定向板上均设有导向环，测量杆上靠左固定连接有左推板，靠右固定连接有右推板，左推板与左侧壁之间连接有左弹性复位机构，右推板与定向板之间连接有右弹性复位机构。能够准确检测物体产生的微小的位移。产生的微小的位移。产生的微小的位移。

【技术实现步骤摘要】
一种接触式微位移检测装置


[0001]本专利技术涉及测量
，具体涉及一种接触式微位移检测装置。

技术介绍

[0002]微位移检测技术是精密定位、精密仪器加工制造、精密测量等应用领域中的关键技术之一，在尖端的工业生产领域和科学研究中占有极其重要的地位。随着科技不断进步，微纳米技术迅速兴起，使微位移检测技术的要求不断提高。
[0003]公开号为CN208902127U的专利文献公开了一种光纤微位移传感器，包括传动杆、相对设置的两锯齿状的反射镜和分别射入和射出的两个准直透镜等；传动杆推动其中一个锯齿状的反射镜，引起两反射镜的反射小形成偏差，以此造成光路反射时光路行程产生变化；导致测量光路的光信号相位相对参考光路发生变化，通过相位比较器两个探测相位变化量便可以解调位移变化。
[0004]但是上述技术方案存在以下技术问题：无法避免光源误差、几何安装误差与环境因素影响引起的误差等多种不确定因素。

技术实现思路

[0005]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题，特别创新地提出了一种接触式微位移检测装置。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种接触式微位移检测装置，包括中空的壳体，所述壳体内横向设有测量杆(11)，所述测量杆(11)的左端穿出壳体外，其特征在于：所述测量杆(11)中部的上下两侧从内向外依次设有磁控弹性体(7)、压电片(5)和U型安装槽(3)，两个所述U型安装槽(3)相背设置，且分别与壳体的上、下内侧壁围成分别用于放置第一永磁体(6)与第二永磁体(14)的空腔，所述第一永磁体(6)和第二永磁体(14)相对一侧的磁极极性相反，且均固定在U型安装槽(3)的槽底，两个所述压电片(5)均连接有引线(8)，所述引线(8)穿过壳体上设置的通孔(14)，引出至壳体外；所述壳体内靠右固设有定向板(17)，所述测量杆(11)右端穿过定向板(17)自由悬空，所述壳体右内侧壁上设有用于为测量杆(11)右端提供缓冲的垫块(12)；所述壳体左侧壁和定向板(17)上供测量杆(11)穿过的穿孔内均设有导向环(13)，所述测量杆(11)滑动连接在穿孔内，所述测量杆(11)上靠左固定连接有左推板(15)，靠右固定连接有右推板(16)，所述左推板(15)与左侧壁之间连接有左弹性复位机构(2)，所述右推板(16)与定向板(17)之间连接有右弹性复位机构(18)。2.根据权利要求1所述的一种接触式微位移检测装置，其特征在于：所述测量杆(11)中部的上下两侧设为扁平状，两个所述磁控弹性体(7)分别固定在测量杆(11)中部扁平部位(19)的上、下两侧。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：居本祥，米曾真，
申请(专利权)人：重庆理工大学，
类型：发明
国别省市：