一种用于NWR激光剥蚀装置TV2样品池的样品支架制造方法及图纸

技术编号:28112624 阅读:53 留言:0更新日期:2021-04-18 18:24
本实用新型专利技术公开了一种用于NWR激光剥蚀装置TV2样品池的样品支架,包括透明材料的基体,所述基体的表面开设有多个待测样品放置槽及多个标准样品放置槽,所述待测样品放置槽内开设有一贯穿所述基体的通孔,所述标准样品放置槽内开设有一贯穿所述基体的螺纹孔,所述螺纹孔内配合设置有调节螺丝。本实用新型专利技术的样品支架是全透明的,可以方便地进行光学观察。本实用新型专利技术结构简单、操作方便、成本低,能够减少实验人员前期准备时间,提高实验效率,待测样品和标准样品位于同一平面,有利于提高实验准确性,待测样品和标准样品的设置位置一一对应,能够清楚的进行对比分析。能够清楚的进行对比分析。能够清楚的进行对比分析。

【技术实现步骤摘要】
一种用于NWR激光剥蚀装置TV2样品池的样品支架


[0001]本技术涉及激光剥蚀分析测试
,具体为一种用于NWR激光剥蚀装置TV2样品池的样品支架。

技术介绍

[0002]现如今激光剥蚀电感耦合等离子体质谱联用已广泛应用于地质、生物、材料等领域。应用方法是激光剥蚀装置通过激光束能量将固体样品剥蚀成气溶胶,通过载气将其传输进电感耦合等离子体质谱进行元素分析。
[0003]实验时会使用待测样品和标准样品进行定量分析,所以待测样品和标准样品的支架对于定量分析尤为重要。
[0004]目前市面上该型激光剥蚀装置使用的样品支架一般是一个透明的玻璃载片,通过橡皮泥或者双面胶将待测样品和标准样品固定在玻璃载片上,再进行剥蚀进样。
[0005]由于激光剥蚀电感耦合等离子体质谱具有高分辨率、高灵敏度等优点,所以橡皮泥或双面胶有可能在分析测试过程中进入质谱,导致实验结果有偏差。

技术实现思路

[0006]本技术的目的是提出一种用于NWR激光剥蚀装置TV2样品池的样品支架,以解决
技术介绍
中提出的问题。
[0007]为实现上述目的,本技术提供了一种用于NWR激光剥蚀装置TV2样品池的样品支架,包括透明材料的基体,所述基体的表面开设有多个待测样品放置槽及多个标准样品放置槽,所述待测样品放置槽内开设有一贯穿所述基体的通孔,所述标准样品放置槽内开设有一贯穿所述基体的螺纹孔,所述螺纹孔内配合设置有调节螺丝。
[0008]优选的,所述标准样品放置槽的深度大于所述标准样品的厚度。
[0009]优选的,所述待测样品放置槽的深度与待测样品的厚度相同。
[0010]优选的,所述待测样品放置槽均匀分布在所述基体表面,所述标准样品放置槽均匀分布在所述基体表面。
[0011]优选的,所述待测样品放置槽的设置位置与所述标准样品放置槽的设置位置一一对应。
[0012]优选的,所述待测样品放置槽为方形槽。
[0013]优选的,所述待测样品放置槽的尺寸为28mm
×
49mm
×
2mm。
[0014]优选的,所述标准样品放置槽为圆形槽。
[0015]优选的,所述标准样品放置槽的直径为26mm,深度为5mm。
[0016]优选的,所述透明材料为聚甲基丙烯酸甲酯。
[0017]与现有技术相比,本技术具有如下有益效果:
[0018](1)本技术的样品支架是全透明的,可以方便地进行光学观察。
[0019](2)本技术的待测样品和标准样品位于同一平面,有利于提高实验准确性,待
测样品和标准样品的设置位置一一对应,能够清楚的进行对比分析。
[0020](3)本技术能有效减少样品池内空腔体积,可以节约载气、降低吹扫时间、降低测试成本。
[0021](4)本技术结构简单、操作方便、成本低,能够减少实验人员前期准备时间,提高实验效率。
附图说明
[0022]图1为本技术的结构示意图;
[0023]图2为本技术的俯视图。
[0024]图中:1、基体;2、待测样品放置槽;3、标准样品放置槽;4、通孔;5、螺纹孔。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0026]图1示出了本实施例的用于NWR激光剥蚀装置TV2样品池的样品支架的结构示意图,包括透明材料的基体1,透明材料优选为聚甲基丙烯酸甲酯,基体1的表面开设有多个待测样品放置槽2及多个标准样品放置槽3,待测样品放置槽2内开设有一贯穿基体1的通孔4,用于取出待测样品,待测样品放置槽2的深度与待测样品的厚度相同,以使待测样品与基体1的表面平齐;标准样品放置槽3内开设有一贯穿基体1的螺纹孔5,螺纹孔5内配合设置有调节螺丝(图中未示出),调节螺丝用于调节标准样品的高度,也可用于取出标准样品,标准样品放置槽3的深度大于标准样品的厚度,以便于调节标准样品的高度。
[0027]待测样品放置槽2均匀分布在基体1的表面,标准样品放置槽3均匀分布在基体1表面,待测样品放置槽2的设置位置与标准样品放置槽3的设置位置一一对应,以便于清楚的进行对比分析。
[0028]在一较佳地实施例中,待测样品放置槽2为方形槽,可以放置实验室常用的自制样品或载玻片,待测样品放置槽2的尺寸为28mm
×
49mm
×
2mm。
[0029]在一较佳地实施例中,标准样品放置槽3为圆形槽,可以放置常用的圆形标准样品,标准样品放置槽3的直径为26mm,深度为5mm。
[0030]对于本领域技术人员而言,显然本技术不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本技术。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
[0031]此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员
可以理解的其他实施方式。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于NWR激光剥蚀装置TV2样品池的样品支架,其特征在于,包括透明材料的基体,所述基体的表面开设有多个待测样品放置槽及多个标准样品放置槽,所述待测样品放置槽内开设有一贯穿所述基体的通孔,所述标准样品放置槽内开设有一贯穿所述基体的螺纹孔,所述螺纹孔内配合设置有调节螺丝。2.根据权利要求1所述的样品支架,其特征在于,所述标准样品放置槽的深度大于所述标准样品的厚度。3.根据权利要求1所述的样品支架,其特征在于,所述待测样品放置槽的深度与待测样品的厚度相同。4.根据权利要求1所述的样品支架...

【专利技术属性】
技术研发人员:任德馨刘朋陈微言胡勇刚
申请(专利权)人:上海凯来仪器有限公司
类型:新型
国别省市:

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