一种双基线双光路光学能见度测量设备制造技术

技术编号:28081617 阅读:75 留言:0更新日期:2021-04-14 15:29
本实用新型专利技术涉及能见度测量设备技术领域,且公开了一种双基线双光路光学能见度测量设备,包括箱体,所述箱体内腔的底部固定安装有发射光源,所述箱体内腔的顶部固定安装有位于发射光源上方的离轴抛物面镜,所述箱体内腔的右侧固定安装有固定块,所述固定块的顶部和底部分别活动连接有分光镜和反射镜,所述分光镜和反射镜的中心位于同一竖直面上。该双基线双光路光学能见度测量设备,通过第一接收箱和光电探测器内部设置的光电探测器,同时通过两个接收箱的测量数据,分别获得两个大气消光系数计算方程,能够消除发射光源强度变化和光学窗口污染对大气消光系数测量的影响,从而有效提高设备的测量精度、稳定性和使用寿命。稳定性和使用寿命。稳定性和使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种双基线双光路光学能见度测量设备


[0001]本技术涉及能见度测量设备
,具体为一种双基线双光路光学能见度测量设备。

技术介绍

[0002]双基线透射式能见度探测技术在能见度探测设备上已有多年的实际应用,测量光路时一般采用同一束发散光照射到不同位置的两个接收装置上,此类光路系统结构简单,但由于发散角较大,光的利用率低,为了满足能见度测量范围的要求,需要加大发射功率,从而导致光源选择受限、密封系统散热困难、光学及电子器件寿命降低等一系列的问题,此外,由于两个接收器同时接收同一束光,在光照面积加大的情况下,大气中各个方向的多次散射量加大,对透射光的测量会产生干扰,影响测量精度,为此我们提出一种双基线双光路光学能见度测量设备。

技术实现思路

[0003]本技术提供了一种双基线双光路光学能见度测量设备,具备消除光源不稳定对测量的影响,发射光利用率高,设备可靠性高的优点,解决了光源不稳定或衰变造成测量结果不准确,系统散热困难,发射光利用率低,设备可靠性低的问题。
[0004]本技术提供如下技术方案:一种双基线双光路光学能见度测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双基线双光路光学能见度测量设备,包括箱体(1),其特征在于:所述箱体(1)内腔的底部固定安装有发射光源(2),所述箱体(1)内腔的顶部固定安装有位于发射光源(2)上方的离轴抛物面镜(3),所述箱体(1)内腔的右侧固定安装有固定块(4),所述固定块(4)的顶部和底部分别活动连接有分光镜(5)和反射镜(6),所述分光镜(5)和反射镜(6)的中心位于同一竖直面上,所述固定块(4)一侧的顶部和中部分别开设有第一开口(7)和第二开口(8),所述第一开口(7)的中心与分光镜(5)的中心位于同一水平线上,所述第二开口(8)的中心与反射镜(6)的中心位于同一水平线上,所述箱体(1)右侧的底部固定连接有支撑桅杆(9),所述支撑桅杆(9)顶部的一侧固定安装有第一接收箱(10),所述第一接收箱(10)内腔的右侧固定安装有第一光电探测器(11),所述第一接收箱(10)的内部固定安装有第一窄带干涉滤光片(12),所述第一接收箱(10)内腔的一侧固定安装有第一透镜(13),所述支撑桅杆(9)顶部的另一侧固定安装有支撑板(14),所述支撑板(14)的顶部固定安装有光电探测器(15),所述光电探测器(15)内腔的右侧固定安装有第二光电探测器(16),所述光电探测器(15)的内部固定安装有第二窄带干...

【专利技术属性】
技术研发人员:李昀泽
申请(专利权)人:廊坊研领科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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