本发明专利技术提供了一种能对小尺寸、具有异形结构或三维结构的光学材料进行光透过率检测的光学材料光透过率检测系统及该系统的设置方法。本发明专利技术系统包括依次设置的光源系统（1）、待测产品的放置治具（2）及光束强度采集系统（3）；该系统的设置方法为：步骤1、设置测试环境；步骤2、光谱仪参数设置；步骤3、调整准直器（1a）的出射光垂直照射到所述孔径光阑（1b）；步骤4、调节入射到孔径光阑的光沿着孔径光阑的轴心射出；步骤5、对所述放置治具（2）上的可更换式夹具的位置进行标定。本发明专利技术可应用于测试领域。本发明专利技术可应用于测试领域。本发明专利技术可应用于测试领域。
【技术实现步骤摘要】
一种光学材料光透过率检测系统及系统设置方法
[0001]本专利技术涉及测量领域，尤其涉及一种光学材料光透过率检测系统及系统设置方法。
技术介绍
[0002]对于玻璃、瓷器、塑料等透明或半透明的材料来说，当光照射在其表面时，会发生光的反射、吸收、透射。其中光的透射包括定向透射和漫透射两种。将透过透明或半透明材料的透射光强度与其入射光强度比值的百分率，称为材料的光透过率，表示该光学材料对相应光谱的透光能力。
[0003]现有技术中，一般的检测设备如图1所示，都是在光学平台上用带有准直系统的照射光束探头将入射光束照射到检测样品，再用带有积分球系统的接受光束探头接受入射光和透射光，再通过光强度测量系统测出检测产品的光透过率。
[0004]现有技术的光学检测设备都是针对大尺寸的待加工光学材料的光透过率进行检测，且只能针对一些具有通用性的光学基材进行检测，并且都是针对平面光学产品。但是对于小尺寸、异形结构体、3D产品的检测就不适用。而小尺寸、异形结构体等需要检测的产品越来越多。现有的检测技术越来越不能满足对各种产品的检测要求。
技术实现思路
[0005]本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种能对小尺寸、具有异形结构或三维结构的光学材料进行光透过率检测的光学材料光透过率检测系统，以及该系统的设置方法，该方法简单，调节方便，设置的系统能够对小尺寸、具有异形结构或三维结构的光学材料进行光透过率进行检测。
[0006]本专利技术所述光学材料光透过率检测系统所采用的技术方案是：它包括依次设置的光源系统、待测产品的放置治具及光束强度采集系统，所述光源系统包括光源，所述光源系统还包括设置于所述光源的出光口处的准直器及设置于所述准直器出光口处的孔径光阑，所述准直器设置于一五轴调节支架上，所述孔径光阑设置于一两轴调节支架上；所述放置治具上设置有可更换式夹具，所述可更换式夹具上设置有与待测产品的形状仿形的放置位，待测产品配合在仿形的放置位上；所述光束强度采集系统包括积分球，在所述积分球内还设置有可更换的滤光片，在所述滤光片的一侧设置有挡板，所述积分球上还设置有SMA接口及BNC接口，所述SMA接口通过光纤连接有光谱仪，所述BNC接口连接有电流表。
[0007]进一步地，所述孔径光阑的孔径为2mm。
[0008]再进一步地，在所述准直器的出光口与所述孔径光阑之间还设置有反射型光束扩束器，从所述准直器出射的光线进入到所述反射型光束扩束器进行扩束后，从所述反射型光束扩束器的出光口出射出并到达所述孔径光阑处。
[0009]此外，所述光源为卤钨灯灯源、氙气灯灯源或连续激光光源。
[0010]上述光学材料光透过率检测系统的设置方法包括以下步骤：步骤1、设置测试环境：设置一个密封暗室，该密封暗室的四周贴设有吸光材料和隔震块，将所述光源系统、所述待测产品的放置治具及所述光束强度采集系统置于所述密封暗室内并依次装配好；步骤2、光谱仪参数设置：设置光谱仪的工作模式、曝光时间及光源峰值波长的ADC读数值；步骤3、调整准直器的出射光垂直照射到所述孔径光阑：将平面反射镜放在所述孔径光阑的出光口处，调节准直器的五轴调节支架的旋钮，使得从所述准直器射出的光束经过平面反射镜反射后，平面反射镜的入射光束和反射光束的光斑在所述准直器的出光口重合，此时，准直器的出射光垂直照射到所述孔径光阑，锁紧五轴调节支架的旋钮；步骤4、调节入射到孔径光阑的光沿着孔径光阑的轴心射出：将一可调光阑安装在孔径光阑的出光口处，调节所述两轴调节支架的水平调节旋钮，以及所述五轴调节支架的水平调节旋钮，同时调节可调光阑的通光孔的直径到最小，并且一直保持有光束射出，此时，入射到孔径光阑的光沿着孔径光阑的轴心射出，之后，卸掉可调光阑后，光谱仪测试的ADC值是最大的，然后锁紧所述两轴调节支架及所述五轴调节支架的旋钮；步骤5、对所述放置治具上的可更换式夹具的位置进行标定：在可更换式夹具上的形状仿形的放置位上设置待标定块，待标定块上设置有与待测产品上的检测区域相一致的标定区域，调整可更换式夹具的位置，直至孔径光阑出射的光束整好照射到待标定块的标定区域上，完成可更换式夹具的位置的标定，完成整个检测系统的设置。
[0011]本专利技术的有益效果是：本专利技术系统能够满足待测产品尺寸灵活多变的要求，可以兼容大、中、小尺寸的透光材料，同时对于大尺寸光学材料进行测量时，可以分区域进行局部测量，更好的分析材料表面各部分的光透过率；同时，可以制作不同结构的仿形工装测量平面产品和异性产品的光透过率，实现对小尺寸、具有异形结构或三维结构的光学材料进行光透过率检测。此外，其设置过程简单，调节方便，设置的系统能够对小尺寸、具有异形结构或三维结构的光学材料进行光透过率进行检测，同时能够保证检测精度。
附图说明
[0012]图1是现有技术的透光率检测系统简易结构示意图；图2是本专利技术系统的简易结构示意图；图3是所述光源系统的简易结构示意图；图4是所述孔径光阑部分的简易结构示意图；图5是包含有反射型光束扩束器的本专利技术系统的简易结构示意图；图6是所述光束强度采集系统的简易示意图；图7是所述放置治具的简易平视结构示意图；图8是所述放置治具的简易俯视结构示意图；图9是选用滤光片光谱透过率曲线图，其中横坐标表示波长（单位为nm，纵坐标表示光透过率，用百分率表示，FGS900
‑
A为
Ø
25 mm KG3有色玻璃滤光片）。
具体实施方式
[0013]本实施例以对红外光学窗口滤光片进行透光率检测对本专利技术进行具体的说明。其中，光学窗口：英文名称：Optical Window，也称光学窗口片，它是指在各种光学基底材料上镀膜的元件或者是注塑成型的光学产品。按波长不同，光学窗口滤光片可分为紫外窗口、可见光窗口、和红外窗口；按结构形状的不同，光学窗口滤光片可分为不同基底材料的平窗口片或者异形窗口片。
[0014]如图2至图9所示，本专利技术系统包括依次设置的光源系统1、待测产品的放置治具2及光束强度采集系统3，所述光源系统1包括光源。
[0015]所述光源系统1还包括设置于所述光源的出光口处的准直器1a及设置于所述准直器1a出光口处的孔径光阑1b，所述准直器1a设置于一五轴调节支架上，所述孔径光阑1b设置于一两轴调节支架1c上；在对准直器1a进行选择时，通过五轴调节支架使准直器出射的光束垂直照射到红外光学窗口滤光片上。
[0016]所述放置治具2上设置有可更换式夹具，所述可更换式夹具上设置有与待测产品的形状仿形的放置位，待测产品配合在仿形的放置位上。
[0017]所述光束强度采集系统3包括积分球3a，在所述积分球3a内还设置有可更换的滤光片，在所述滤光片的一侧设置有挡板，所述积分球3a上还设置有SMA接口及BNC接口，所述SMA接口通过光纤连接有光谱仪，所述BNC接口连接有电流表。
[0018]本专利技术中使用定制设计的积分球。为了能够检测某一离散光谱，对红外光学窗口滤光片的光透过率，在积分球内置滤光片，依据检测条件的要求，可以本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学材料光透过率检测系统，包括依次设置的光源系统（1）、待测产品的放置治具（2）及光束强度采集系统（3），所述光源系统（1）包括光源，其特征在于：所述光源系统（1）还包括设置于所述光源的出光口处的准直器（1a）及设置于所述准直器（1a）出光口处的孔径光阑（1b），所述准直器（1a）设置于一五轴调节支架上，所述孔径光阑（1b）设置于一两轴调节支架（1c）上；所述放置治具（2）上设置有可更换式夹具，所述可更换式夹具上设置有与待测产品的形状仿形的放置位，待测产品配合在仿形的放置位上；所述光束强度采集系统（3）包括积分球（3a），在所述积分球（3a）内还设置有可更换的滤光片，在所述滤光片的一侧设置有挡板，所述积分球（3a）上还设置有SMA接口及BNC接口，所述SMA接口通过光纤连接有光谱仪，所述BNC接口连接有电流表。2.根据权利要求1所述的一种光学材料光透过率检测系统，其特征在于：所述孔径光阑（1b）的孔径为2mm。3.根据权利要求1所述的一种光学材料光透过率检测系统，其特征在于：在所述准直器（1a）的出光口与所述孔径光阑（1b）之间还设置有反射型光束扩束器（4），从所述准直器（1a）出射的光线进入到所述反射型光束扩束器（4）进行扩束后，从所述反射型光束扩束器（4）的出光口出射出并到达所述孔径光阑（1b）处。4.根据权利要求1所述的一种光学材料光透过率检测系统，其特征在于：所述光源为卤钨灯灯源、氙气灯灯源或连续激光光源。5.一种如权利要求1所述的光学材料光透过率检测系统的设置方法，其特征在于，该方法包括以下步骤...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘俊，王灵光，张本伍，张望旺，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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