快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法技术

本发明专利技术公开一种快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，包括以下步骤：步骤一、选择数台画面品质合格的液晶显示屏作为测试样机；步骤二、将所述测试样机置于恒温箱中，各测试样机之间间隔放置，并使各测试样机均处于工作状态；步骤三、设置不同的环境参数，对所述测试样机进行多次且连续的冲击测试，各次所述的冲击测试均为在三组环境参数下进行多次反复测试，步骤四、将上述经连续冲击测试的测试样机取出，在常温下静置后再进行画面品质检测，并根据检测结果记录测试样机中出现的液晶泄露异常。利用本方法能够有效的检测出液晶泄漏等缺陷，检测更方便。检测更方便。

【技术实现步骤摘要】
快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法


[0001]本专利技术属于液晶显示屏
，具体涉及一种快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法。

技术介绍

[0002]随着技术的发展，产品的生产效率不断提高，质量要求也越来越高。然而对于一些行业，还需再用由人的肉眼去观察判定，这样容易伤害工人的身体，若能够使用机器视觉替代人眼来检测会安全，并且精度高速度快，还可以将采集到图片重复观察。液晶是一种高分子材料，由长棒状的分子组成。在自然状态下，这些棒状分子的轴大致平行。液晶应用于显示技术的基本原理是在两块平行板之间填充液晶材料，通过电压来改变液晶材料内部分子的排列状况，以达到遮光和透光的目的从而显示深浅不一，错落有致的图象。而且只要在两块平板间再加上三元色的滤光层，就可实现显示彩色图象。而目前常规使用的用于检测液晶屏液晶泄漏的方法是在恒温恒湿的条件下进行的，无法提供实际使用中液晶显示屏所处的工作环境，因此也无法快速检测出液晶屏是否存在液晶泄漏的潜在可能性。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，包括以下步骤：
[0005]步骤一、选择数台画面品质合格的液晶显示屏作为测试样机；
[0006]步骤二、将所述测试样机置于恒温箱中，各测试样机之间间隔放置，并使各测试样机均处于工作状态；
[0007]步骤三、设置不同的环境参数，对所述测试样机进行多次且连续的冲击测试，各次所述的冲击测试均为在三组环境参数下进行多次反复测试，所述环境参数包括温度、相对湿度及时间；
[0008]步骤四、将上述经连续冲击测试的测试样机取出，在常温下静置后再进行画面品质检测，并根据检测结果记录测试样机中出现的液晶泄露异常；
[0009]步骤五、对记录异常的测试样机进行设计更改，更改后重复上述的测试步骤直至无异常出现。
[0010]优选的，所述测试样机在进行画面品质检测时的环境照度为180
±
10Lux。
[0011]优选的，所述测试样机之间的间隔要大于30cm。
[0012]优选的，所述反复测试至少为三次。
[0013]优选的，所述冲击测试为三次，其中第一次冲击测试时的三组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：45℃～50℃、90％RH～95％RH、 2h～3h；15℃～20℃、90％RH～95％RH、2h～3h；30℃～40℃、90％RH～ 95％RH、2h～3h
[0014]优选的，第二次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：40℃～45℃、20％RH～25％RH、2h～3h；
‑
5℃～0℃、90％ RH～95％RH、2h～3h；
‑
10℃～
‑
5℃、50％RH～75％RH、2h～3h
[0015]优选的，第三次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：50℃～55℃、80％RH～85％RH、2h～3h；
‑
10℃～5℃、80％ RH～85％RH、2h～3h；0℃～20℃、80％RH～85％RH、2h～3h
[0016]优选的，经连续冲击测试后的测试样机在进行画面品质检测前的常温静置时间至少为3h。
[0017]本专利技术的有益效果是：
[0018]利用本方法能够有效的检测出液晶泄漏等缺陷，检测更方便。
具体实施方式
[0019]下面将结合本专利技术实施例，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0020]本专利技术提供一种快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，包括以下步骤：步骤一、选择数台画面品质合格的液晶显示屏作为测试样机；步骤二、将所述测试样机置于恒温箱中，各测试样机之间间隔放置，并使各测试样机均处于工作状态；步骤三、设置不同的环境参数，对所述测试样机进行多次且连续的冲击测试，各次所述的冲击测试均为在三组环境参数下进行多次反复测试，所述环境参数包括温度、相对湿度及时间；步骤四、将上述经连续冲击测试的测试样机取出，在常温下静置后再进行画面品质检测，并根据检测结果记录测试样机中出现的液晶泄露异常；步骤五、对记录异常的测试样机进行设计更改，更改后重复上述的测试步骤直至无异常出现。
[0021]优选的，所述测试样机在进行画面品质检测时的环境照度为180
±
10Lux。
[0022]优选的，所述测试样机之间的间隔要大于30cm。
[0023]优选的，所述反复测试至少为三次。
[0024]优选的，第一次冲击测试时的三组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：45℃～50℃、90％RH～95％RH、2h～3h；15℃～20℃、90％ RH～95％RH、2h～3h；30℃～40℃、90％RH～95％RH、2h～3h
[0025]优选的，第二次冲击测试时的三组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：40℃～45℃、20％RH～25％RH、2h～3h；
‑
5℃～0℃、90％ RH～95％RH、2h～3h；
‑
10℃～
‑
5℃、50％RH～75％RH、2h～3h
[0026]优选的，第三次冲击测试时的三组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：50℃～55℃、80％RH～85％RH、2h～3h；
‑
10℃～5℃、80％ RH～85％RH、2h～3h；0℃～20℃、80％RH～85％RH、2h～3h
[0027]优选的，经连续冲击测试后的测试样机在进行画面品质检测前的常温静置时间至少为3h。
[0028]尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以
理解在不脱离本专利技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本专利技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一、选择数台画面品质合格的液晶显示屏作为测试样机；步骤二、将所述测试样机置于恒温箱中，各测试样机之间间隔放置，并使各测试样机均处于工作状态；步骤三、设置不同的环境参数，对所述测试样机进行多次且连续的冲击测试，各次所述的冲击测试均为在三组环境参数下进行多次反复测试，所述环境参数包括温度、相对湿度及时间；步骤四、将上述经连续冲击测试的测试样机取出，在常温下静置后再进行画面品质检测，并根据检测结果记录测试样机中出现的液晶泄露异常；步骤五、对记录异常的测试样机进行设计更改，更改后重复上述的测试步骤直至无异常出现。2.根据权利要求1所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于，所述测试样机在进行画面品质检测时的环境照度为180
±
10Lux。3.根据权利要求1所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于，所述测试样机之间的间隔要大于30cm。4.根据权利要求1所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于，所述反复测试至少为三次。5.根据权利要求1或4所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于，所述冲击测试为三次，其中第一次冲击测...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟伟，
申请(专利权)人：岳阳市海圣祥科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：