电子组件检测系统技术方案

一种电子组件检测系统包含一第一待测面检测装置以及一第二待测面检测装置。第一待测面检测装置定义有一第一待测面检测区域，用以在电子组件的第一待测面移动至第一待测面检测区域时，对第一待测面进行图像检测。第二待测面检测装置包含一旋转式检测平台、一固定治具以及至少一检测模块，借以在旋转式检测平台带动固定治具移动时，利用检测模块对电子组件的第二待测面进行图像检测。

【技术实现步骤摘要】
电子组件检测系统
本专利技术关于一种电子组件检测系统，尤其是指一种用来检测电子组件的多个待检测面的电子组件检测系统。
技术介绍
为了提升人类生活品质，近年来的科技发展趋势主要是以小尺寸且功能强大的科技产品为主，也因此构成科技产品的电子零组件的尺寸也必须越来越小，但当电子零组件的尺寸精密到一定程度时，在生产制造的过程中很容易因为些微的碰撞而受到损坏，尤其当电子零组件的制程包含多个工作站时，电子零组件很容易在经过多个工作站的取放后受损，因此在电子零组件制造出来后，还需要经过一连串的电气测试与外观测试，才能确保电子零组件能提供预设的功能；其中，以光学元件为主的电子零组件，由于表面的刮痕或污点等瑕疵都会影响到光学元件的功能，因此针对外观的图像检测往往更为严苛。承上所示，由于以光学元件为主的电子零组件在外观上的要求较高，因此在进行外观检测时，通常需要通过多道图像检测的步骤来控管成品的品质，然而越多检测的步骤也代表着电子零组件取放或移动的次数也会相对的增加，进而提高了损坏电子零组件的风险。
技术实现思路
有鉴于以光学元件为主的电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子组件检测系统，用于对一电子组件进行图像检测，该电子组件具有一第一待测面以及至少一与该第一待测面不同的第二待测面，其特征在于，该电子组件检测系统包含：/n一第一待测面检测装置，定义有一第一待测面检测区域，用以在该电子组件的该第一待测面移动至该第一待测面检测区域时，对该第一待测面进行图像检测；以及/n一第二待测面检测装置，邻近于该第一待测面检测装置，并且包含：/n一旋转式检测平台，具有一承载面，并受驱动地沿一转动方向转动；/n一固定治具，设置于该承载面，用以固定该电子组件，且该电子组件的该至少一第二待测面露出于该固定治具，该固定治具随着该旋转式检测平台的转动而沿一检测路径移动；以及/n...

【技术特征摘要】
20191004 TW 1081360951.一种电子组件检测系统，用于对一电子组件进行图像检测，该电子组件具有一第一待测面以及至少一与该第一待测面不同的第二待测面，其特征在于，该电子组件检测系统包含：
一第一待测面检测装置，定义有一第一待测面检测区域，用以在该电子组件的该第一待测面移动至该第一待测面检测区域时，对该第一待测面进行图像检测；以及
一第二待测面检测装置，邻近于该第一待测面检测装置，并且包含：
一旋转式检测平台，具有一承载面，并受驱动地沿一转动方向转动；
一固定治具，设置于该承载面，用以固定该电子组件，且该电子组件的该至少一第二待测面露出于该固定治具，该固定治具随着该旋转式检测平台的转动而沿一检测路径移动；以及
至少一检测模块，邻近于该旋转式检测平台而设置，用以在该固定治具沿该检测路径移动至该至少一检测模块的检测区域时，对该电子组件的该至少一第二待测面进行图像检测。


2.如权利要求1所述的电子组件检测系统，其特征在于，更包含：
一待测物输送组件，设置于该第一待测面检测装置与该第二待测面检测装置之间；
一第一搬移组件，用以移动该电子组件，使该电子组件在通过该第一待测面检测区域后放置于该待测物输送组件；以及
一第二搬移组件，将放置于该待测物输送组件的该电子组件移动至该固定治具。


3.如权利要求2所述的电子组件检测系统，其特征在于，更包含一输入载盘叠置机构，用以堆叠设置多个载盘，且该些载盘用以放置该些电子组件。


4.如权利要求3所述的电子组件检测系统，其特征在于，该第一搬移组件包含一第一轨道与一第一取物设备，该第一轨道自邻近于该输入载盘叠置机构处沿一第一方向延伸至邻近该待测物输送组件处，该第一取物设备沿该第一方向可移动地连结于该第一轨道。


5.如权利要求4所述的电子组件检测系统，其特征在于，该第一取物设备包含一取物设备本体、一第一吸嘴与至少一第二吸嘴，该取物设备本体沿该第一方向可移动地连结于该第一轨道，并开设有一...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建元，陈建名，吕孟恭，张博翔，罗文期，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32