一种芯片测试用封装盒制造技术

本实用新型专利技术涉及测试装置技术领域，且公开了一种芯片测试用封装盒，包括封装盒体，所述封装盒体的左侧活动连接有连接轴，所述连接轴的左端固定连接有手动转柄，所述连接轴的右端固定连接有第一圆锥齿轮，所述第一圆锥齿轮的底部啮合有第二圆锥齿轮，所述第二圆锥齿轮的内侧固定连接有螺旋杆，所述螺旋杆的顶端和底端均固定连接有滚动块，所述螺旋杆的外侧螺纹连接有螺旋块，所述螺旋块的右侧固定连接有测试板。该芯片测试用封装盒，整体结构简单，方便使用，实现了芯片测试效果好的目的，不需要工作人员单个的对芯片进行检测，省时省力，避免出现测试误差，降低了工作人员的劳动强度，提高了芯片的生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试用封装盒
本技术涉及测试装置
，具体为一种芯片测试用封装盒。
技术介绍
芯片在电子学中是一种将电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，芯片是将大量的微电子元器件形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片。芯片在生产加工的过程中，往往需要对芯片进行测试，以便于检测芯片的质量是否符合要求，但是目前芯片测试的方法通常是工作人员单个的进行测试，这种方法不仅费时费力，而且容易出现测试误差，提高了工作人员的劳动强度，不方便使用，降低了芯片的生产效率，故而提出一种芯片测试用封装盒来解决上述所提出的问题。
技术实现思路
（一）解决的技术问题针对现有技术的不足，本技术提供了一种芯片测试用封装盒，具备测试效果较好等优点，解决了目前芯片测试的方法通常是工作人员单个的进行测试，这种方法不仅费时费力，而且容易出现测试误差，提高了工作人员的劳动强度，不方便使用，降低了芯片的生产效率的问题。（二）技术方案为实现上述测试效果较好目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试用封装盒，包括封装盒体，所述封装盒本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试用封装盒，包括封装盒体（1），其特征在于：所述封装盒体（1）的左侧活动连接有连接轴（2），所述连接轴（2）的左端固定连接有手动转柄（3），所述连接轴（2）的右端固定连接有第一圆锥齿轮（4），所述第一圆锥齿轮（4）的底部啮合有第二圆锥齿轮（5），所述第二圆锥齿轮（5）的内侧固定连接有螺旋杆（6），所述螺旋杆（6）的顶端和底端均固定连接有滚动块（7），所述螺旋杆（6）的外侧螺纹连接有螺旋块（8），所述螺旋块（8）的右侧固定连接有测试板（9），所述测试板（9）的右侧固定连接有滑动块（10），所述封装盒体（1）的内侧固定连接有滑动杆（11），所述测试板（9）的内侧固定连接有测试杆（12...

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试用封装盒，包括封装盒体（1），其特征在于：所述封装盒体（1）的左侧活动连接有连接轴（2），所述连接轴（2）的左端固定连接有手动转柄（3），所述连接轴（2）的右端固定连接有第一圆锥齿轮（4），所述第一圆锥齿轮（4）的底部啮合有第二圆锥齿轮（5），所述第二圆锥齿轮（5）的内侧固定连接有螺旋杆（6），所述螺旋杆（6）的顶端和底端均固定连接有滚动块（7），所述螺旋杆（6）的外侧螺纹连接有螺旋块（8），所述螺旋块（8）的右侧固定连接有测试板（9），所述测试板（9）的右侧固定连接有滑动块（10），所述封装盒体（1）的内侧固定连接有滑动杆（11），所述测试板（9）的内侧固定连接有测试杆（12），所述测试杆（12）的顶端固定连接有测试灯（13），所述测试板（9）的底部固定连接有橡胶块（14），所述封装盒体（1）的内底壁固定连接有测试工作台（15），所述测试工作台（15）的顶部固定连接有缓冲块（16），所述测试工作台（15）的顶部活动连接有工业芯片（17），所述测试工作台（15）的右侧固定连接有电源线（18），所述封装盒体（1）的正面活动连接有盒体门（19），所述盒体门（19）的正面固定连接有观察窗（20）。


2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用封装盒，其特征在于：所述螺旋杆（6）的...

【专利技术属性】
技术研发人员：林仰霖，
申请(专利权)人：福州五诚精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35