基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法、系统及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法、系统及装置，包括：实时获取镀膜过程中待测带材的膜层所在侧的灰度图像，将每条待测带材划分为多个部分，得到对应的多个灰度值；将不同部分的灰度值与预设值相减，得到灰度差；根据所述灰度差反馈控制镀膜的温度，在所述灰度差为正的情况下降低相应部分的温度，在所述灰度差为负的情况下增加相应部分的温度。本发明专利技术采用基于灰度识别对超导带材的制备进行温度控制，能够有效的反馈超导层镀膜温度，根据识别的的灰度对镀膜的温度进行反馈控制，获得最优的镀膜温度，从而得到最好的临界电流。

【技术实现步骤摘要】
基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法、系统及装置
本专利技术涉及超导带材制备
，具体地，涉及一种基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法、系统及装置。
技术介绍
第二代超导带材，由于其作为超导载流核心的ReBCO本身硬且脆，所以一般是在镍基合金基底上采用多层覆膜的工艺生产，所以又被称为涂层导体。第二代超导带材一般由基带、缓冲层（过渡层）、超导层以及保护层组成。第二代高温超导体是多层薄膜结构，一般由基带、种子层、隔离层、帽子层（模板层）、超导层、保护层等组成。本文以REBCO膜层进行叙述但不限于REBCO一种超导材料。在各种真空镀膜工艺的镀膜过程中，为保证基底上薄膜的质量，很多薄膜的制备都需要对镀膜的基底进行加热，并且对镀膜过程中基底的温度偏差范围有着严格的要求。因此，加热系统是镀膜设备中至关重要的部分。而对于窄且长的连续的柔性基底带材，在镀膜中常采用循环往复的卷对卷结构，以增加镀膜面积，提高镀膜效率。虽然在不同的设备中，加热系统的结构、尺寸、几何形状等有所不同，但对于近似二维的柔性基底的带材来说卷对卷的走带结构要求所采用加本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法，其特征在于，包括：/n灰度采集步骤：实时获取镀膜过程中待测带材的膜层所在侧的灰度图像，将每条待测带材按照长度方向划分为多个部分，对每个部分预设探测区域进行灰度值检测，得到对应的多个灰度值；/n灰度差计算步骤：分别将每个部分的灰度值与预设值相减，得到灰度差；/n反馈控制步骤：根据所述灰度差反馈控制镀膜的温度，在所述灰度差为正的情况下降低相应部分的温度，在所述灰度差为负的情况下增加相应部分的温度。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法，其特征在于，包括：
灰度采集步骤：实时获取镀膜过程中待测带材的膜层所在侧的灰度图像，将每条待测带材按照长度方向划分为多个部分，对每个部分预设探测区域进行灰度值检测，得到对应的多个灰度值；
灰度差计算步骤：分别将每个部分的灰度值与预设值相减，得到灰度差；
反馈控制步骤：根据所述灰度差反馈控制镀膜的温度，在所述灰度差为正的情况下降低相应部分的温度，在所述灰度差为负的情况下增加相应部分的温度。


2.根据权利要求1所述的基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法，特征在于，所述预设探测区域位于待测带材刚出镀膜区的位置。


3.根据权利要求1所述的基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法，其特征在于，还包括：
缺陷检测步骤：检测每个部分的灰度值变化曲线，在灰度值突变的情况下，判定对应部分存在表面缺陷，保存存在表面缺陷的灰度图像并报警。


4.根据权利要求3所述的基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法，其特征在于，对于缺陷的寻找利用学习算法，对存在表面缺陷的灰度图像进行打标签，输入深度学习模型进行深度学习。


5.根据权利要求1所述的基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法，其特征在于，将每条待测带材划分为多个部分包括：沿待测带材的长度方向划分为左、中、右三个部分。


6.根据权利要求1所述的基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法，其特征在于，所述灰度采集步骤对采集到的灰度图像进行背景灰度校准，再根据校准后的灰度图像得到所述灰度值；
所述背景灰度校准包括设置一个或多个背景灰度校准点，通过对采集到的灰度图像中的其中背景灰度校准点的灰度的来校准灰度图像的其余部分的灰度。


7.根据权利要求1所述的基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法，其特征在于，通过软件锁定所述预设探测区域的相对位置，再检测所述灰度值。


8.根据权利要求1所述的基于灰度识别的超导带材制备温度控制方法，其特征在于，通过所述软件探测每条待测带材宽度方向的轮廓，通过宽度方向的轮廓之间的距离判断每条待测带材是否倾斜。


9.根据权利要求1所述的基于灰度识别的超...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱佳敏，仝明磊，陈思侃，张子旭，娄策力，赵跃，高中赫，吴蔚，丁逸珺，
申请(专利权)人：上海超导科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31