一种具有在不同模式下操作的子像素的辐射检测器制造技术

本文公开一种辐射检测器，其包括包含多个子像素的像素。每个所述子像素配置成在暴露于辐射时产生电信号。所述辐射检测器进一步包括电连接到所述多个子像素的开关。所述开关配置成组合由所述子像素的子集生成的电信号。本文还公开一种与所述辐射检测器有关的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】一种具有在不同模式下操作的子像素的辐射检测器
本文的公开涉及一种辐射检测器，特别涉及一种具有在不同模式下操作的子像素的辐射检测器。
技术介绍
辐射检测器是一种测量辐射特征的装置。所述特征的示例可包括辐射的强度、相位和偏振的空间分布。辐射可以是与对象相互作用的辐射。例如，由辐射检测器测量的辐射可以是已经从对象穿透或从对象反射的辐射。辐射可以是电磁辐射，比如红外光、可见光、紫外光、X射线或γ射线。辐射可以是其他类型，比如α射线和β射线。一种类型的辐射检测器是基于辐射和半导体之间的相互作用。例如，该类型的辐射检测器可具有吸收辐射并产生载流子(例如，电子和空穴)的半导体层和用于检测所述载流子的电路。
技术实现思路
本文公开一种辐射检测器，其包括：包含多个子像素的像素，每个所述子像素配置成在暴露于辐射时产生电信号；电连接到所述多个子像素的开关；其中所述开关配置成组合由所述子像素的子集生成的电信号。根据实施例，其中每个所述子像素配置成检测由每个所述子像素产生的所述电信号的幅度。根据实施例，其中所述开关本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辐射检测器，其包括：/n像素，其包含多个子像素，每个所述子像素配置成在暴露于辐射时产生电信号；/n开关，其电连接到所述多个子像素；/n其中所述开关配置成组合由所述子像素的子集生成的电信号。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种辐射检测器，其包括：
像素，其包含多个子像素，每个所述子像素配置成在暴露于辐射时产生电信号；
开关，其电连接到所述多个子像素；
其中所述开关配置成组合由所述子像素的子集生成的电信号。


2.如权利要求1所述的辐射检测器，其中所述开关配置成检测由每个所述子像素产生的所述电信号的幅度。


3.如权利要求2所述的辐射检测器，其中所述开关配置成在由所述子像素产生的所述电信号的所述幅度超过幅度阈值时，断开任何一个所述子像素。


4.如权利要求1所述的辐射检测器，其中所述开关包括分别连接到所述子像素的多个子开关。


5.如权利要求4所述的辐射检测器，其中每个所述子开关配置成检测由与其连接的所述子像素产生的所述电信号的幅度。


6.如权利要求5所述的辐射检测器，其中每个所述子开关配置成在所述幅度超过幅度阈值时断开与其连接的所述子像素。


7.如权利要求1所述的辐射检测器，其中所述像素包括四个子像素。


8.如权利要求1所述的辐射检测器，其中所述像素进一步包括辐射吸收层。


9.如权利要求8所述的辐射检测器，其中所述辐射吸收层包括半导体。


10.如权利要求9所述的辐射检测器，其中所述半导体选自硅、锗、GaAs、CdTe、CdZnTe及其组合。


11.如权利要求1所述的辐射检测器，其中所述开关进一步包括累加器，其用以组合由所述子像素的任何子集产生的所述电信号。


12.如权利要求1所述的辐射检测器，其进一步包括：
比较器，其配置成将来自所述开关的输出信号与输出阈值进行比较；
计数器，其配置成记录由辐射检测器吸收的若干辐射粒子；
控制器；
仪表，其配置成测量所述输出信号；
其中所述控制器配置成在所述比较器确定所述输出信号的绝对值等于或超过所述输出阈值的绝对值时启动时间延迟；
其中所述控制器配置成使仪表在所述时间延迟期满时测量所述输出信号；
其中所述控制器配置成通过将由所述仪表测量的所述输出信号除以单个粒子产生的所述开关的输出信号来确定若干粒子；
其中所述控制器配置成使所述计数器记录的数目随粒子数目的增加而增加。


13.如权利要求12所述的辐...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹培炎，刘雨润，
申请(专利权)人：深圳帧观德芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44