本实用新型专利技术公开了一种低电阻细长测试探针，包括一两端开口的针管，针管内设有一弹簧，弹簧的两端分别设置有长针轴和短针轴，长针轴与短针轴和弹簧的接触面均为锥面。本实用新型专利技术低电阻细长测试探针，利用针管与弹簧间隙增大，长针轴、短针轴与弹簧接触面均设计为锥面，当长针轴下压时，弹簧受到压缩力的反作用力迫使长针轴和短针轴的锥面与弹簧紧密接触，弹簧受力扭曲变形，做S形曲线，带动长针轴和短针轴与针管管壁摩擦，减小电阻，解决细长探针电阻大的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种低电阻细长测试探针
本技术涉及一种测试探针，具体地说，涉及一种低电阻细长测试探针。
技术介绍
测试探针是一种高端精密的电子元件，广泛应用于测试PCB板、FPC等，主要作为连接作用的精密探针使用，目前已广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等
由于被测试板有大小要求，根据被测试板焊点不同测试探针设计也各不相同，外径就有所不同，影响电流的因素是电压和电阻，所以对测试探针的电阻要求较高；电阻与横截面积和长度有关系：（1）横截面积（外径）越大，针越短电阻越小；（2）针轴与针管摩擦越大，电阻越小；过电流能力就越大，对于细长测试探针外径较小且较长，电阻就会很大，过电流能力就会小，稍有加大电流就会烧坏弹簧，造成探针失效，不能准确的测试被测试板。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种低电阻细长测试探针，以解决现有测试探针减小外径以及加长长度时，导致电阻增大的问题。为了解决上述技术问题，本技术公开了一种低电阻细长测试探针，包括一两端开口的针管，针管内设有一弹簧，弹簧的两端分别设置有长针轴和短针轴，长针轴与短针轴和弹簧的接触面均为锥面。进一步地，长针轴的一端与弹簧连接，长针轴的另一端伸出针管外。进一步地，长针轴位于针管空腔内的部分与针管之间间隙配合。进一步地，长针轴与弹簧相连接的面为第一接触面，第一接触面为锥面。进一步地，短针轴的一端与弹簧连接，短针轴的另一端伸出针管外。进一步地，短针轴位于针管空腔内的部分与针管之间间隙配合。进一步地，短针轴与弹簧相连接的面为第二接触面，第二接触面为锥面。与现有技术相比，本技术可以获得包括以下技术效果：本技术低电阻细长测试探针，利用针管与弹簧间隙增大，长针轴、短针轴与弹簧接触面均设计为锥面，当长针轴下压时，弹簧受到压缩力的反作用力迫使长针轴和短针轴的锥面与弹簧紧密接触，弹簧受力扭曲变形，做S形曲线，带动长针轴和短针轴与针管管壁摩擦，减小电阻，解决细长探针电阻大的问题。附图说明此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：图1是本技术低电阻细长测试探针的结构示意图；图2是本技术低电阻细长测试探针工作时状态示意图。具体实施方式以下将配合实施例来详细说明本技术的实施方式，藉此对本技术如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。本技术公开了一种低电阻细长测试探针，如图1所示，包括一两端开口的针管1，针管1中间形成空腔，针管1空腔内设有一弹簧2，弹簧2的两端分别设置有长针轴3和短针轴4，长针轴3与短针轴4和弹簧2的接触面均为锥面。利用精密铆合技术将长针轴3、短针轴4、弹簧2和针管1铆合成为一个整体。本技术低电阻细长测试探针，利用针管1与弹簧2间隙增大，长针轴3、短针轴4与弹簧2接触面均设计为锥面，当长针轴3下压时，弹簧2受到压缩力的反作用力迫使长针轴3和短针轴4的锥面与弹簧2紧密接触，弹簧2受力扭曲变形，做S形曲线，带动长针轴3和短针轴4与针管1管壁摩擦，减小电阻，解决细长探针电阻大的问题。长针轴3的一端与弹簧2连接，长针轴3的另一端伸出针管1外，长针轴3位于针管1空腔内的部分与针管1之间间隙配合，长针轴3与弹簧2相连接的面为第一接触面5，第一接触面5为锥面。短针轴4的一端与弹簧2连接，短针轴4的另一端伸出针管1外，短针轴4位于针管1空腔内的部分与针管1之间间隙配合，短针轴4与弹簧2相连接的面为第二接触面6，第二接触面6为锥面。需要说明的是，长针轴3和短针轴4与弹簧2的接触面均设计为锥面，锥面角度较小，弹簧2能很紧密的与长针轴3和短针轴4接触，弹簧2与针管1间隙较大，当弹簧2收到来自针轴的压缩力做S型扭曲变形，带动两个针轴与针管1内部接触摩擦，来减小电阻，从而增大过电流能力。使用时，将本技术低电阻细长测试探针安装在测试治具上，如图2所示，当长针轴3与被测试界面接触，长针轴3做往返运动时，由于弹簧2与针管1空腔间隙较大，弹簧2收到压缩力时扭曲变形，由于弹簧2置于针管1空腔内部，故弹簧2变形到一定程度能带动长针轴3偏摆，与针管1内腔摩擦，减小电阻，从而增大电流，电流经过长针轴3与针管1摩擦将电流分解为过长针轴3传到针管1再传到短针轴4，电流不经过弹簧2，避免过高电流时，烧坏弹簧2，造成测试探针失效，从而增加探针使用寿命。上述说明示出并描述了专利技术的若干优选实施例，但如前所述，应当理解专利技术并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述专利技术构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离专利技术的精神和范围，则都应在专利技术所附权利要求的保护范围内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种低电阻细长测试探针，其特征在于，包括一两端开口的针管，所述针管内设有一弹簧，所述弹簧的两端分别设置有长针轴和短针轴，所述长针轴与所述短针轴和所述弹簧的接触面均为锥面。/n
【技术特征摘要】
1.一种低电阻细长测试探针，其特征在于，包括一两端开口的针管，所述针管内设有一弹簧，所述弹簧的两端分别设置有长针轴和短针轴，所述长针轴与所述短针轴和所述弹簧的接触面均为锥面。
2.根据权利要求1所述的低电阻细长测试探针，其特征在于，所述长针轴的一端与所述弹簧连接，所述长针轴的另一端伸出所述针管外。
3.根据权利要求2所述的低电阻细长测试探针，其特征在于，所述长针轴位于针管空腔内的部分与针管之间间隙配合。
4.根据权利要求3所述的低电阻细长测试探针，...
【专利技术属性】
技术研发人员：张小英，申啸，李红叶，
申请(专利权)人：渭南高新区木王科技有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61
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