可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针制造技术

本发明专利技术公开了一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针，包括第一针套，所述第一针套内设置有第一弹性件，第一针套的上侧可滑动地设置有第二针套，所述第二针套的下端抵压在第一弹性件的上端，所述第二针套内设置有第二弹性件，所述第二针套的上侧可滑动地设置第三针套，所述第三针套内设置有通道，第三针套的下端抵压在第二弹性件的上端；所述第一针套和第二针套内设置有针管，所述针管的外壁上设置有第一限位圆台，所述第一限位圆台限位在所述第二针套内，所述针管的上端设置有针头，所述针头伸入所述通道中。该可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针，解决了现有测试探针使用过程中受力较大容易发生弯曲的问题。容易发生弯曲的问题。容易发生弯曲的问题。

【技术实现步骤摘要】
可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针


[0001]本专利技术属于半导体检测设备
，具体涉及一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针。

技术介绍

[0002]测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等
，是一种高端的电子元件。
[0003]测试探针的结构通常是由针头、针管、弹簧三部分组成，针头和弹簧装在针管内部，在针管两端口运用压铆缩口方式，使得针头、弹簧保持在针管内部，成为一个整体的结构。使用时，针头受力向针管内压缩弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针头，针头与被测件良好接触，进行测试。
[0004]然而现有测试探针使用时对针头的直线度要求很高且针头一般较为细长，测试过程中针头受到较大力作用时，往往容易发生弯曲，进而造成难以达到使用要求的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针，解决现有测试探针使用过程中受力较大容易发生弯曲的问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本专利技术公开了一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针，包括第一针套，所述第一针套内设置有第一弹性件，第一针套的上侧可滑动地设置有第二针套，所述第二针套的下端抵压在第一弹性件的上端，所述第二针套内设置有第二弹性件，所述第二针套的上侧可滑动地设置第三针套，所述第三针套内设置有通道，第三针套的下端抵压在第二弹性件的上端；所述第一针套和第二针套内设置有针管，所述针管的外壁上设置有第一限位圆台，所述第一限位圆台限位在所述第二针套内，所述针管的上端设置有针头，所述针头伸入所述通道中。
[0007]本专利技术的技术方案，还具有以下特点：
[0008]进一步地，所述针管内设置有第三弹性件，所述针头的下端设置有第二限位圆台，所述第二限位圆台限位在所述针管内，并且第二限位圆台抵压在第三弹性件的上端。
[0009]进一步地，所述第一弹性件、第二弹性件和第三弹性件均为压缩弹簧。
[0010]进一步地，所述第二针套的下端设置有第三限位圆台，所述第三限位圆台限位在所述第一针套内，并且第三限位圆台抵压在第一弹性件的上端。
[0011]进一步地，所述第三针套的下端设置有第四限位圆台，所述第四限位圆台限位在所述第二针套内，并且第四限位圆台抵压在第二弹性件的上端。
[0012]与现有技术相比，本专利技术具有以下优点：(1)本专利技术的一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针，采用多个针套和弹性件配合可以对针头实施过压缓冲保护，避免其直接受力发生弯曲；(2)本专利技术的一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针，通过通道可以对针头实施导向和保护，确保其具有较好的直线度。
附图说明
[0013]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0014]图1是本专利技术的一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针的结构示意图；
[0015]图2本专利技术的一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针中针头和针管的装配示意图。
[0016]图中：1.第一针套，2.第一弹性件，3.针管4.第三限位圆台，5.第二针套，6.第二弹性件，7.第四限位圆台，8.通道，9.第三针套，10.针头，11.第二限位圆台，12.第三弹性件，13.第一限位圆台。
具体实施方式
[0017]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0018]在本专利技术的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0019]本专利技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本专利技术中的具体含义。
[0020]如图1所示，本专利技术公开了一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针，包括第一针套1，第一针套1内设置有第一弹性件2，第一针套1的上侧可滑动地设置有第二针套5，第二针套5的下端抵压在第一弹性件2的上端，第二针套5内设置有第二弹性件6，第二针套5的上侧可滑动地设置第三针套9，第三针套9内设置有通道8，第三针套9的下端抵压在第二弹性件6的上端；第一针套1和第二针套5内设置有针管3，针管3的外壁上设置有第一限位圆台13，第一限位圆台13限位在第二针套5内，针管3的上端设置有针头10，针头10伸入通道8中。
[0021]结合图2，测试时，针管3的下端与测试机连接，第三针套8的上端压向被检测产品，之后第二弹性件6和第一弹性件2逐渐受力压缩，针头10也渐渐从第三针套9中的通道8漏出与被检测产品接触，之后可进行测试。
[0022]由于第二弹性件6和第一弹性件2会形成两道弹力缓冲，会对接触压力进行过压缓冲分解，因此不会直接作用在针头10上，从而避免了针头10直接作用上，容易过压造成弯曲的问题。
[0023]另外，通道8可对针头10实施导向和校直，能够确保其沿着通道8上下运动，也能够确保针头10具有较好的直线度。
[0024]结合图2，在本专利技术的一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针中，针管3内设置有第三弹性件12，针头10的下端设置有第二限位圆台11，第二限位圆台11限位在针管3内，并且第二限位圆台11抵压在第三弹性件12的上端。
[0025]针头10的上端从针管3的上端口伸出后，针管3的上端口形成缩口，该缩口的内径小于第二限位圆台11的外径，因此在第二限位圆台11的限位作用下，针头10只会沿着一定距离在针管3内上下移动，避免使用时候弹出造成损坏。
[0026]结合图2，在本专利技术的一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针中，第一弹性件2、第二弹性件6和第三弹性件12均优选为压缩弹簧。
[0027]压缩弹簧可提供足够大小的压缩弹性，以便确保针头10能够与被检测产品实现紧接触。
[0028]如图1所示，在本专利技术的一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针中，第二针套5的下端设置有第三限位圆台4，第三限位圆台4限位在第一针套1内，并且第三限位圆台4抵压在第一弹性件2的上端。
[0029]第一针套1的上侧设置有通孔，第二针套5从该通孔中伸出，第三限位圆台4的外径大于该通过的内径，第二针套5在第三限位圆台4的限位作用下，可以确保第二针套5沿着第一针套1在一定范围内上下滑动，不会滑出造成损毁。
[0030]如图1所示，在本专利技术的一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针，其特征在于，包括第一针套(1)，所述第一针套(1)内设置有第一弹性件(2)，第一针套(1)的上侧可滑动地设置有第二针套(5)，所述第二针套(5)的下端抵压在第一弹性件(2)的上端，所述第二针套(5)内设置有第二弹性件(6)，所述第二针套(5)的上侧可滑动地设置第三针套(9)，所述第三针套(9)内设置有通道(8)，第三针套(9)的下端抵压在第二弹性件(6)的上端；所述第一针套(1)和第二针套(5)内设置有针管(3)，所述针管(3)的外壁上设置有第一限位圆台(13)，所述第一限位圆台(13)限位在所述第二针套(5)内，所述针管(3)的上端设置有针头(10)，所述针头(10)伸入所述通道(8)中。2.根据权利要求1所述的可以防止针头变形且具有过压缓冲功能的三联动测试探针，其特征在于，所述针管(3)内设置有第三弹性件(12)，所述针头(...

【专利技术属性】
技术研发人员：张飞龙，付盼红，申啸，
申请(专利权)人：渭南高新区木王科技有限公司，
类型：发明
国别省市：