电子系统技术方案

本发明专利技术提供一种电子系统，包括由第一电压供电且内部设有第一装置的集成电路；检测装置耦接第一装置，用以检测归因于制程、电压及温度（ＰＶＴ）效应的第一装置的输出偏移；以及补偿装置耦接检测装置，响应输出偏移而调节并输出第一电压至集成电路，以补偿制程、电压及温度效应。电子系统更包括转换装置，耦接检测装置及补偿装置，用以产生对应于输出偏移的指示信号，以供补偿装置对第一电压进行调节。此外，补偿装置可对指示信号及参考电压的电压电平进行比较，并将两者的电平差放大，以线性地调节第一电压而补偿制程、电压及温度效应。本发明专利技术提供的电子系统，补偿制程、电压及温度效应，进一步的具有简易及低成本电路设计的功效。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种电子系统，特别是有关于能够补偿制程、电压及温度(process、voltage and temperature；PVT)效应并且具有简易及低成本电路设计的电子系统。
技术介绍
诸如集成电路(integrated circuit)、集总电路(lump circuit)或其组合的电子系统的输出信号，会因温度变化而扭曲失真，造成电气特性(例如电压及电流等)与时序(例如设定/保持时间)从原始设计的期待值偏移或漂移，导致系统不正常运作。通常，工程师对电子产品进行烧机测试(chamber burn-in test)，以验证所设计的固件参数(firmware parameter)是否符合在高/低温环境下操作的需求。基于测试过的固件参数而设计电子产品，未必能保证其操作稳定性，特别是在不同环境下或在其它外围条件下操作时。倘若电子产品需要重复的修正测试(modified test)，会使得测试时间及制造成本增加。除了前述的温度波动效应之外，电子产品特别是集成电路，也会遭受制程/电压偏移效应的影响，例如使用不同制程所制造的集成电路，在电气特性上也会有不一致的状况。
技术实现思路
为了解决现有技术中由制程、电压及温度效应导致的集成电路产生输出偏移的问题，本专利技术提供一种能够补偿制程、电压及温度效应的电子系统。 本专利技术实施方式提出一种电子系统，包括由第一电压供电的集成电路，其包括第一装置；检测装置耦接第一装置，以检测第一装置的输出偏移，输出偏移归因于制程、电压及温度效应；以及补偿装置耦接检测装置，响应输出偏移而调节第一电压，并输出第一电压至集成电路以补偿制程、电压及温度效应。该电子系统，更包括转换装置耦接检测装置及补偿装置。转换装置产生对应于检测装置所侦得的输出偏移的指示信号，供补偿装置调节第一电压。此外，补偿装置可对指示信号与参考电压的电压电平进行比较，并将两者的电压电平差放大，以对第一电压进行线性调节，而补偿制程、电压及温度效应。 本专利技术另一实施方式提出一种电子系统，包括由第二电源供电的集成电路；以及，电压调节器，耦接主电源用以输出该第二电源，电压调节器包括用以监测电子系统或集成电路温度的热传感器，并依据热传感器的检测结果调节第二电源的电压电平。热传感器为电阻值随温度变化的热敏电阻器。 本专利技术提供的电子系统，补偿制程、电压及温度效应，进一步的具有简易及低成本电路设计的功效。 下述的实施方式将参照所附图式以对本专利技术作更详细的说明。 附图说明 图1A概要表示依据本专利技术一个实施方式的电子系统的电路方框图。 图1B概要表示依据本专利技术另一实施方式的电子系统的电路方框图。 图2概要表示依据本专利技术另一实施方式的电子系统的电路方框图。 图3概要表示依据本专利技术另一实施方式的电子系统的电路方框图。 具体实施例方式 以下对本专利技术实施方式的描述，均基于本专利技术的可能最佳实施样态，仅用以阐明本专利技术的通用原则，且并非用以限制本专利技术。本专利技术的专利范围当以所附的权利要求书来界定。 图1A概要表示依据本专利技术一个实施方式的电子系统100的电路方框图。图1A中，电子系统100包括集成电路101以及补偿装置102，集成电路101包括第一装置101a、检测装置101b及转换装置101c。集成电路101于其电源端Tp接收第一电压V1。集成电路101可具有电源模块(未显示于图1A中)设于其内部，用以执行电源管理及装置驱动。 第一装置101a设置于集成电路101内部，例如为环形振荡器(ring oscillator)，设计成用以输出既定的频率及电压。第一装置101a的输出频率(或电压)可能由于制程、电压及温度(以下简称为PVT)效应而扭曲失真，因此导致第一装置101a的输出并非是其既定频率(或电压)，而发生输出偏移的问题。需注意本专利技术所述的PVT效应，是指电路反应一或多个制程、电压及温度偏移而造成的影响。检测装置101b，设置于集成电路101内部，耦接第一装置101a，用以检测第一装置101a因PVT效应的输出偏移。在此实施方式中，检测装置101b，例如可包括频率计数器(frequency counter)(但是并非限定于此)，用以决定第一装置101a的实际输出频率相对于既定频率的频率偏移。例如，检测装置101b可输出对应于频率偏移的偏移计数值的数字数据。 转换装置101c从检测装置101b接收数字数据，将其转换成对应于频率偏移的指示信号。例如，转换装置101c可为数模转换器(digital-to-analog converter；DAC)，将数字数据转换成直流电压VDC。补偿装置102接收直流电压VDC，并响应第一装置101a的频率偏移而调整并输出第一电压V1至集成电路101以补偿PVT效应。 补偿装置102对指示信号的直流电压VDC与参考电压VREF进行比较及放大，而产生加权差值(weighted difference)，即α×VDC-β×VREF，以对第一电压V1进行线性调整。如图1A所示，补偿装置102可包括运算放大器102a，以及电阻器R1、R2与R3，但是并非限定于此。第一电压V1是依据直流电压VDC、参考电压VREF以及放大率而定，并且放大率取决于电阻器R1、R2。运算放大器102a是用以确保能提供充分的驱动电压(即第一电压V1)及驱动电流给集成电路101。 图1A中，第一装置101a、检测装置101b以及转换装置101c设置于集成电路101内部。转换装置101c也可以选择设置于集成电路101的外部。图1B概要表示依据本专利技术另一实施方式的电子系统150的电路方框图。电子系统150包括外部转换装置152，设置于集成电路101的外部。电子系统150与前述电子系统100具有相同的功能与动作。图1B中，检测装置101b可透过并行接口(parallel interface)、串行接口(serial interface)或I2C接口(I2C interface)而与外部转换装置152通讯。 图2概要表示依据本专利技术另一实施方式的电子系统200的电路方框图。图2中，电子系统200包括集成电路201、积分电路203以及补偿装置202，集成电路201包括第一装置201a、检测装置201b及转换装置201c。集成电路201于其电源端Tp接收第一电压V1。集成电路201可具有电源模块(未显示于图2)设于其内部，用以执行电源管理及装置驱动。图2的第一装置201a及检测装置201b分别与前述图1A的第一装置101a及检测装置101b，具有基本相同的功能与动作，为简洁起见在此不再详细说明。 第一装置201a设置于集成电路201内部，例如为环形振荡器，设计成用以输出既定的频率及电压。检测装置201b，设置于集成电路201内部，耦接第一装置201a用以检测第一装置201a归因于PVT效应的输出偏移。在此实施方式中，检测装置201b，用以决定第一装置201a的实际输出频率相对于既定频率的频率偏移。 转换装置201c接收由检测装置201b取得的频率偏移，并转换成为指示信号。在此，转换装置201c可为脉宽调制(pulse width modulation；以下简称为PWM)装置，以依据频率偏移而输出PWM信号SPWM作为指示信号。PWM信号SPWM本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子系统，包括：　由第一电压供电的集成电路，包括检测装置及产生一输出的第一装置；该检测装置耦接该第一装置，并从该输出检测该第一装置的输出偏移，其中该输出偏移是归因于制程、电压及温度效应；以及　补偿装置耦接该检测装置，响应该输出偏移而调节该第一电压，并输出该第一电压至该集成电路以补偿该制程、电压及温度效应。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴茂林，沈志宏，何玉屏，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]