LED驱动测试电路制造技术

本发明专利技术实施例公开了一种LED驱动测试电路，所述包括：驱动模块、测试引脚和开关模块，所述驱动模块与所述开关模块连接，所述测试引脚与所述开关模块连接；所述驱动模块用于接收测试驱动信号；所述测试引脚用于连接待测LED芯片；所述开关模块用于根据控制信号使所述测试驱动信号驱动所述待测LED芯片。本发明专利技术实施例实现了在驱动芯片与Micro‑LED芯片阵列封装之前对驱动芯片进行检测，降低了检测成本。

【技术实现步骤摘要】
LED驱动测试电路
本专利技术实施例涉及半导体
，尤其涉及一种LED驱动测试电路。
技术介绍
微型发光二极管(MicroLight-EmittingDiode，Micro-LED)具有自发光显示特性，其为全固态发光二极管，寿命长、亮度高、功耗低、体积较小、具有超高分辨率，可应用于高温或辐射等极端环境，越来越多的厂家已将其作为新一代显示技术进行规划。Micro-LED显示器件通常由驱动芯片驱动Micro-LED芯片阵列进行发光，即驱动芯片通电后，向Micro-LED芯片阵列发送驱动信号，驱动Micro-LED芯片按要求进行发光。但是驱动芯片的质量有好有坏，而目前通常是在Micro-LED芯片阵列与驱动芯片封装之后，对封装后的器件进行整体测试，来检测驱动芯片的质量。当驱动芯片质量问题，不能实现驱动功能时，需要重新将驱动芯片从封装后的器件中提取出来，去倒查到底是电路设计的问题，还是半导体制造的问题。这种检测方式使得检测成本较高，且容易造成资源的浪费。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供一种LED驱动测试电路，以实现在驱动芯片与Micro-LED芯片阵列封装之前对驱动芯片进行检测，降低检测成本。本专利技术实施例提供一种LED驱动测试电路，包括：驱动模块、测试引脚和开关模块，所述驱动模块与所述开关模块连接，所述测试引脚与所述开关模块连接；所述驱动模块用于接收测试驱动信号；所述测试引脚用于连接待测LED芯片；所述开关模块用于根据控制信号使所述测试驱动信号驱动所述待测LED芯片。进一步的，所述开关模块包括第一接口、第二接口和第三接口，所述第一接口用于接收控制信号，所述第二接口与所述驱动模块连接，所述第三接口与所述测试引脚连接。进一步的，所述开关模块为NMOS管，所述第一接口为所述NMOS管的栅极，所述第二接口为所述NMOS管的漏极，所述第三接口为所述NMOS管的源极。可选的，所述开关模块为三极管，所述第一接口为所述三极管的基极，所述第二接口为所述三极管的集电极，所述第三接口为所述三极管的发射极。进一步的，所述驱动模块包括信号接收电路、信号保持电路和调节电路，所述信号接收电路与所述信号保持电路连接，所述信号保持电路与所述调节电路连接，所述调节电路与所述开关模块连接。进一步的，所述信号接收电路包括第一NMOS管和第二NMOS管，所述第一NMOS管的栅极和所述第二NMOS管的栅极连接且用于接收第一测试驱动信号，所述第一NMOS管的漏极用于接收第二测试驱动信号，所述第二NMOS管的漏极用于接收第三测试驱动信号。进一步的，所述第一测试驱动信号为行测试驱动信号，所述第二测试驱动信号为第一列测试驱动信号，所述第三测试驱动信号为第二列测试驱动信号，所述第一列测试驱动信号与所述第二列测试驱动信号互为相反信号。进一步的，所述信号保持电路包括第一PMOS管、第二PMOS管、第三NMOS管和第四NMOS管；所述第一PMOS管的栅极、所述第三NMOS管的栅极、所述第二PMOS管的漏极和所述第四NMOS管的漏极四者相连接；所述第二PMOS管的栅极、所述第四NMOS管的栅极、所述第一PMOS管的漏极和所述第三NMOS管的漏极四者相连接；所述第三NMOS管的栅极与与所述第一NMOS管的源极连接，所述第四NMOS管的栅极与所述第二NMOS管的源极连接；所述第一PMOS管的漏极与所述第三NMOS管的漏极连接，所述第二PMOS管的漏极与所述第四NMOS管的漏极连接；所述第一PMOS管的源极和第二PMOS管的源极均连接工作电源正极；所述第三NMOS管的源极和第四NMOS管的源极均连接工作电源负极。进一步的，所述调节电路包括第三PMOS管和第四PMOS管，所述第三PMOS管的栅极用于接收调节信号，所述第三PMOS管的源极连接工作电源正极，所述第三PMOS管的漏极与所述第四PMOS管的源极连接，所述第四PMOS管的栅极与所述第三NMOS管的栅极连接，所述第四PMOS管的漏极与所述开关模块连接。进一步的，所述测试驱动信号和所述控制信号均由FPGA电路产生。本专利技术实施例提供的LED驱动测试电路通过驱动模块、测试引脚和开关模块，检测操作简单易实现，实现了在驱动芯片与Micro-LED芯片阵列封装之前对驱动芯片进行检测，降低了检测成本。附图说明图1为本专利技术实施例一提供的一种LED驱动测试电路的流程示意图；图2为本专利技术实施例二提供的一种LED驱动测试电路的流程示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或。虽然流程图将各步骤描述成顺序的处理，但是其中的许多步骤可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各步骤的顺序可以被重新安排。当其操作完成时处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。处理可以对应于、函数、规程、子例程、子程序等等。此外，术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种方向、动作、步骤或元件等，但这些方向、动作、步骤或元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个方向、动作、步骤或元件与另一个方向、动作、步骤或元件区分。术语“第一”、“第二”等而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”、“批量”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。实施例一图1为本专利技术实施例一提供的一种LED驱动测试电路的流程示意图，本实施例可适用于Micro-LED
如图1所示，本专利技术实施例一提供的LED驱动测试电路包括：驱动模块100、测试引脚300和开关模块200，驱动模块100与开关模块200连接，测试引脚300与开关模块200连接。驱动模块100即为LED芯片的驱动电路，在进行测试时，驱动模块100用于接收测试驱动信号，测试驱动信号是指测试过程中的对待测LED芯片的驱动信号。测试引脚300用于连接待测LED芯片(也即待测Micro-LED芯片)。开关模块200用于根据控制信号使测试驱动信号驱动待测LED芯片，控制信号是用于控制开关模块200打开或关闭的信号。在进行测试时，向驱动模块100输入预先设置好的测试驱动信号，并向开关模块200输入控制开关模块200打开的控制信号。此时，驱动模块100接收的测试驱动信号经过开关模块200传输到待测LED芯片。若此时能够驱动待测LED芯片发光，则说明LED驱动电路性能良好；若此时待测LED芯片不能够发光，则说明LED驱动电路由问题，不能够进行实际应用。可选的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED驱动测试电路，其特征在于，包括：驱动模块、测试引脚和开关模块，所述驱动模块与所述开关模块连接，所述测试引脚与所述开关模块连接；/n所述驱动模块用于接收测试驱动信号；/n所述测试引脚用于连接待测LED芯片；/n所述开关模块用于根据控制信号使所述测试驱动信号驱动所述待测LED芯片。/n

【技术特征摘要】
1.一种LED驱动测试电路，其特征在于，包括：驱动模块、测试引脚和开关模块，所述驱动模块与所述开关模块连接，所述测试引脚与所述开关模块连接；
所述驱动模块用于接收测试驱动信号；
所述测试引脚用于连接待测LED芯片；
所述开关模块用于根据控制信号使所述测试驱动信号驱动所述待测LED芯片。


2.如权利要求1所述的LED驱动测试电路，其特征在于，所述开关模块包括第一接口、第二接口和第三接口，所述第一接口用于接收控制信号，所述第二接口与所述驱动模块连接，所述第三接口与所述测试引脚连接。


3.如权利要求2所述的LED驱动测试电路，其特征在于，所述开关模块为NMOS管，所述第一接口为所述NMOS管的栅极，所述第二接口为所述NMOS管的漏极，所述第三接口为所述NMOS管的源极。


4.如权利要求2所述的LED驱动测试电路，其特征在于，所述开关模块为三极管，所述第一接口为所述三极管的基极，所述第二接口为所述三极管的集电极，所述第三接口为所述三极管的发射极。


5.如权利要求1所述的LED驱动测试电路，其特征在于，所述驱动模块包括信号接收电路、信号保持电路和调节电路，所述信号接收电路与所述信号保持电路连接，所述信号保持电路与所述调节电路连接，所述调节电路与所述开关模块连接。


6.如权利要求5所述的LED驱动测试电路，其特征在于，所述信号接收电路包括第一NMOS管和第二NMOS管，所述第一NMOS管的栅极和所述第二NMOS管的栅极连接且用于接收第一测试驱动信号，所述第一NMOS管的漏极用于接收第二测试驱动信号，所述第二NMOS管的漏极用于接收第三测试驱动信号。


7.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘召军，吕志坚，何先顺，陈锐，黄利将，盘福波，叶嘉豪，
申请(专利权)人：深圳市思坦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44