一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法技术

本申请提供一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法，获取待检测图像和所述待检测图像的像素灰度；用预设固定大小的掩膜区在所述待检测图像上逐像素遍历，以获得所述待检测图像上所述掩膜区对应像素点的像素值；计算所述掩膜区对应像素点的灰度均值和标准差；当所述待检测图像的像素灰度与所述掩膜区对应像素点的灰度均值的差值大于预设灰度差时，所述掩膜区为目标区域；获取所述待检测图像中所有的目标区域；对所述所有的目标区域通过预设阈值范围进行特征提取，得到子目标区域；筛选所述子目标区域中的点类背景；去除所述待检测图像中所述子目标区域的点类背景，得到弱线缺陷的检测结果。本申请在弧形面渐变背景下精准且全面的检测出弱线缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法
本申请涉及图像处理领域，尤其涉及一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法。
技术介绍
随着电子产品行业不断发展，对产品表面线状缺陷检测的要求也不断提高。目前，产品表面线状缺陷检测主要是针对高对比度的平面检测，即，先对待测图像进行滤波平滑，然后通过阈值提取分割，通过Blob分析，最后筛选出可疑缺陷区域；筛选出可疑缺陷区域后进行闭操作，经过特定特征筛选后，检测出最终线状缺陷。然而，现有缺陷检测的方法却不适用于待测产品表面为弧形的情况。待测产品表面为弧面时，待测产品表面图像的背景会因为待测产品表面的不平整而出现背景渐变的情况。若采用低阈值提取时，背景和对低对比度的线状缺陷(即弱线缺陷)混在一起；若采用高阈值提取时，导致弱线缺陷的断裂和缺失，因而弱线缺陷检测存在困难，且无法将全部的弱线缺陷检测出。
技术实现思路
本申请提供了一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法，以解决现有缺陷检测的方法对于产品表面为弧形的情况，存在的弱线缺陷检测不完整、不全面的技术问题。r>为了达到上述目的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：/n获取待检测图像和所述待检测图像的像素灰度；/n用预设固定大小的掩膜区在所述待检测图像上逐像素遍历，以获得所述待检测图像上所述掩膜区对应像素点的像素值；/n计算所述掩膜区对应像素点的灰度均值和标准差；/n当所述待检测图像的像素灰度与所述掩膜区对应像素点的灰度均值的差值大于预设灰度差时，所述掩膜区为目标区域；/n获取所述待检测图像中所有的目标区域；/n对所述所有的目标区域通过预设阈值范围进行特征提取，得到子目标区域；/n筛选所述子目标区域中的点类背景；/n去除所述待检测图像中所述子目标区域的点类背景，得到弱线缺陷的检测结...

【技术特征摘要】
1.一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：
获取待检测图像和所述待检测图像的像素灰度；
用预设固定大小的掩膜区在所述待检测图像上逐像素遍历，以获得所述待检测图像上所述掩膜区对应像素点的像素值；
计算所述掩膜区对应像素点的灰度均值和标准差；
当所述待检测图像的像素灰度与所述掩膜区对应像素点的灰度均值的差值大于预设灰度差时，所述掩膜区为目标区域；
获取所述待检测图像中所有的目标区域；
对所述所有的目标区域通过预设阈值范围进行特征提取，得到子目标区域；
筛选所述子目标区域中的点类背景；
去除所述待检测图像中所述子目标区域的点类背景，得到弱线缺陷的检测结果。


2.根据权利要求1所述的一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法，其特征在于，所述预设灰度差为所述掩膜区对应像素点的标准差与所述预设系数的乘积。


3.根据权利要求1所述的一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：解三霞，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11