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本申请提供一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法，获取待检测图像和所述待检测图像的像素灰度；用预设固定大小的掩膜区在所述待检测图像上逐像素遍历，以获得所述待检测图像上所述掩膜区对应像素点的像素值；计算所述掩膜区对应像素点的灰度均值和标准差；...
该专利属于凌云光技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过凌云光技术股份有限公司授权不得商用。

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