集成电路设计的验证方法、验证装置以及存储介质制造方法及图纸

一种集成电路设计的验证方法、验证装置及存储介质。该验证方法包括根据使用测试用例组对该集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定该测试用例组中的重复测试用例。该集成电路设计的预期功能对应多个功能覆盖单元，该测试用例组包括多个测试用例，该多个测试用例的每个覆盖该多个功能覆盖单元中的至少一个，该重复测试用例所覆盖的功能覆盖单元被其它测试用例完全覆盖。该验证方法可以有效提高验证效率。

【技术实现步骤摘要】
集成电路设计的验证方法、验证装置以及存储介质
本公开的实施例涉及一种集成电路设计的验证方法、验证装置以及存储介质。
技术介绍
在集成电路的设计中，需要用硬件描述语言(也即硬件编程语言)将硬件电路形成为寄存器传输级逻辑代码，使用验证工具对该逻辑代码进行仿真验证后再通过综合工具将逻辑代码转换为门级电路网表，然后再使用自动布局布线工具将网表转换为要实现的具体电路布线结构。随着集成电路技术的不断发展，芯片的规模和复杂度在不断提升，验证时间也越来越长，如何提高验证效率、缩短验证时长是本领域关注的问题。
技术实现思路
本公开至少一实施例提供一种集成电路设计的验证方法，包括：根据使用测试用例组对所述集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定所述测试用例组中的重复测试用例。所述集成电路设计的预期功能对应多个功能覆盖单元，所述测试用例组包括多个测试用例，所述多个测试用例的每个覆盖所述多个功能覆盖单元中的至少一个，所述重复测试用例所覆盖的功能覆盖单元被其它测试用例完全覆盖。在一些示例中，所述验证方法还包括：将所述重复测试用例从所述测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路设计的验证方法，包括：/n根据使用测试用例组对所述集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定所述测试用例组中的重复测试用例，/n其中，所述集成电路设计的预期功能对应多个功能覆盖单元，所述测试用例组包括多个测试用例，所述多个测试用例的每个覆盖所述多个功能覆盖单元中的至少一个，所述重复测试用例所覆盖的功能覆盖单元被其它测试用例完全覆盖。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路设计的验证方法，包括：
根据使用测试用例组对所述集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定所述测试用例组中的重复测试用例，
其中，所述集成电路设计的预期功能对应多个功能覆盖单元，所述测试用例组包括多个测试用例，所述多个测试用例的每个覆盖所述多个功能覆盖单元中的至少一个，所述重复测试用例所覆盖的功能覆盖单元被其它测试用例完全覆盖。


2.如权利要求1所述的验证方法，还包括：将所述重复测试用例从所述测试用例组中移除以对所述测试用例组进行优化。


3.如权利要求2所述的验证方法，还包括：将优化后的测试用例组用于对所述集成电路设计进行仿真。


4.如权利要求1所述的验证方法，其中，所述功能覆盖单元为所述集成电路设计的预期功能的最小功能覆盖单元。


5.如权利要求1所述的验证方法，其中，根据使用测试用例组对所述集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定所述测试用例组中的重复测试用例包括：
从所述功能覆盖率报告中提取所述多个测试用例中每个所覆盖的功能覆盖单元信息，以及
对所述多个功能覆盖单元中被多个测试用例所覆盖的功能覆盖单元进行标记。


6.如权利要求1所述的验证方法，还包括：
根据所述功能覆盖率报告确定所述集成电路设计的预期功能对应的多个功能覆盖单元是否被所述测试用例组完全覆盖。


7.如权利要求6所述的验证方法，还包括：
当所述集成电路设...

【专利技术属性】
技术研发人员：张剑峰，王斌，鄢传钦，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12