一种基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法技术

技术编号:27936633 阅读:40 留言:0更新日期:2021-04-02 14:16
一种基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法,包括以下步骤:设置经验参数,筛选时序违例的时序路径;分别统计时序违例和非违例的时序路径包含的单元并进行关联;制定瓶颈单元的筛选策略,筛选瓶颈特征单元运算得到瓶颈单元数据集并区分主次;根据时序路径与单元的关联关系检查时序违例的时序路径是否完全覆盖,将未覆盖到的时序违例时序路径构建新的数据集来执行迭代;通过迭代得到最终瓶颈单元数据集进行时序修复。本发明专利技术的基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法,能够综合考虑Path与Cell的逻辑结构与物理特性,快速筛选出瓶颈Cell加快时序违例Path的时序修复工作以及整个IC设计的时序验收工程。

【技术实现步骤摘要】
一种基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法
本专利技术涉及电子设计自动化(ElectronicDesignAutomation,EDA)
,特别是涉及一种基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈Cell的方法。
技术介绍
时序分析是ASIC设计流程中的关键问题,STA(StaticTimingAnalysis)执行速度快,且不需要测试向量,时序路径覆盖率几乎100%,而基于SPICE模型的门级或晶体管级时序仿真方法则可已同时完成电路时序和功能的分析,精度较高且支持多种类型的电路。当随着IC工艺的发展进步,LocalVariation的关键性和重要性增加,但传统的OCV模型忽略了电路器件的逻辑级数和物理位置因素,导致STA结果对于大部分的Path过于悲观,对于小部分的Path过于乐观。而SPICE模型仿真能够很好地识别电路器件的物理特性,通过近似迭代的方式不断逼近真实值,但是却存在计算时间过长的缺点。当出现时序违例的时序路径(Path),如何快速定位到瓶颈单元(Cell)并快速完成时序修复(TimingECO)成为数字IC工程师需要本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法,其特征在于,包括以下步骤:/n设置经验参数,筛选时序违例的时序路径;/n分别统计时序违例和非违例的时序路径包含的单元并进行关联;/n制定瓶颈单元的筛选策略,筛选瓶颈特征单元运算得到瓶颈单元数据集并区分主次;/n根据时序路径与单元的关联关系检查时序违例的时序路径是否完全覆盖,将未覆盖到的时序违例时序路径构建新的数据集来执行迭代;/n通过迭代得到最终瓶颈单元数据集进行时序修复。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法,其特征在于,包括以下步骤:
设置经验参数,筛选时序违例的时序路径;
分别统计时序违例和非违例的时序路径包含的单元并进行关联;
制定瓶颈单元的筛选策略,筛选瓶颈特征单元运算得到瓶颈单元数据集并区分主次;
根据时序路径与单元的关联关系检查时序违例的时序路径是否完全覆盖,将未覆盖到的时序违例时序路径构建新的数据集来执行迭代;
通过迭代得到最终瓶颈单元数据集进行时序修复。


2.根据权利要求1所述的基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法,其特征在于,所述设置经验参数,筛选时序违例的时序路径的步骤,还包括,
根据时序分析关键参数经验值在原始的时序路径数据集中筛选出数据子集;
对数据子集中的时序路径元素进行仿真得到关键参数精确值,确定最终的时序违例路径集。


3.根据权利要求1所述的基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法,其特征在于,所述制定瓶颈单元的筛选策略,筛选瓶颈特征单元运算得到瓶颈单元数据集并区分主次的步骤,还包括,分别统计时序路径数据子集及其补集中所有时序路径元素包含的单元总出现次数,并进行排序,按顺序提取单元构造第一单元数据子集。


4.根据权利要求3所述的基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法,其特征在于,还包括,判断时序违例路径得到的单元数据子集中任一元素是否属于非时序违例路径得到单元数据子集,若是,则将该元素从此单元数据子集中剔除,按顺序依次迭代得到最终满足条件的第一单元数据子集。


5.根据权利要求4所述的基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法,其特征在于,所述制定瓶颈单元的筛选策略,筛选瓶颈特征单元运算得到瓶颈单元数据集并区分主次的步骤,还包括,计算非公共时序违例路...

【专利技术属性】
技术研发人员:江荣贵董森华郭超陈彬都长鑫
申请(专利权)人:南京华大九天科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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