一种大规模复杂版图电阻提取加速方法技术

一种大规模复杂版图电阻提取加速方法，包括以下步骤：将复杂图形切分为多个简单子图形；将所述简单子图形数据存入快速图形查询数据结构；匹配所有所述简单子图形关联的复杂图形与对应端口图形；计算所有端口到端口的寄生电阻。本发明专利技术的大规模复杂版图电阻提取加速方法，可以将一个复杂图形切分为多个简单子图形，每个端口图形（或阻挡图形）可以快速查询到有连接关系的子图形，与简单子图形做图形几何运算效率很高，可以快速找到端口图形与电阻图形的匹配关系，大大缩短了电阻提取时间，提高了效率，也保证了端口与电阻图形的匹配正确性，确保了端口到端口寄生电阻提取准确性。确保了端口到端口寄生电阻提取准确性。确保了端口到端口寄生电阻提取准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种大规模复杂版图电阻提取加速方法


[0001]本专利技术涉及半导体集成电路自动化设计
，尤其涉及半导体电路后仿真以及版图寄生电阻提取技术。

技术介绍

[0002]集成电路设计和显示面板设计中，需要对所设计的电路进行电学(或光学)仿真，用以判断电路设计是否达标。在电路仿真时，需要考虑半导体工艺中寄生效应对电路时序的影响，通常需要对集成电路版图提取寄生电阻，添加到仿真电路网表中进行时序的验证。EDA软件中寄生电阻提取需要对输入版图进行处理，得到所需提取电阻端口到端口的实际二维图形以及端口图形(或阻挡图形)的属性。在提取寄生电阻的时候，需要匹配提取图形以及对应的端口图形(或阻挡图形)，随着集成电路规模的不断增大，版图图形也越来越复杂，对应端口图形(或阻挡图形)的数目也越来越多，匹配图形的时间已经明显影响到电阻提取的时间效率。
[0003]在复杂集成电路寄生电阻提取中，如果提取的信号线版图图形很复杂(例如功率电路中的电源信号线图形，平板显示电路中的电流通路信号线图形)，根据网表电阻端口节点信息进行版图切割后，对应电阻图形以及端口图形(或阻挡图形)匹配效率较低，会造成可观的时间开销，再加上利用有限元等方法计算端口到端口电阻的时间，整体寄生电阻提取时间过长。
[0004]如果不对大规模复杂图形进行切分，则需要用复杂图形查询所有端口图形(或阻挡图形)，并与查询到有连接可能的端口图形(或阻挡图形)做图形相交运算，由于复杂图形顶点数目庞大，做图形几何运算效率很低，造成图形匹配时间较长。

技术实现思路
r/>[0005]为了解决现有技术存在的不足，本专利技术的目的在于提供一种大规模复杂版图电阻提取加速方法，可以将一个复杂图形切分为多个简单子图形，每个端口图形(或阻挡图形)可以快速查询到有连接关系的子图形，与简单子图形做图形几何运算，快速找到端口图形与电阻图形的匹配关系。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供的大规模复杂版图电阻提取加速方法，包括以下步骤：
[0007]将复杂图形切分为多个简单子图形；
[0008]将所述简单子图形数据存入快速图形查询数据结构；
[0009]匹配所有所述简单子图形关联的复杂图形与对应端口图形；
[0010]计算所有端口到端口的寄生电阻。
[0011]进一步地，所述将复杂图形切分为多个简单子图形的步骤，还包括，
[0012]根据复杂图形顶点数，计算出单位小图形顶点数目阈值；
[0013]将复杂图形切分为多个顶点数为单位小图形顶点数目阈值的简单子图形。
[0014]进一步地，所述将所述简单子图形数据存入快速查询数据结构的步骤，还包括，
[0015]将切分后的简单子图形数据存入到快速图形查询数据结构中；
[0016]将快速图形查询数据结构与对应的复杂图形相关联。
[0017]进一步地，所述快速图形查询数据结构为查找树。
[0018]进一步地，所述匹配所有所述简单子图形关联的复杂图形与对应端口图形的步骤，还包括，
[0019]所有端口图形或阻挡图形在复杂图形对应的快速图形查询数据结构中进行查找，查询到有图形连接关系的对应简单子图形；
[0020]端口图形或阻挡图形与查询到的对应简单子图形做相交判断，如果判断两图形有相交或者接触，匹配简单子图形关联的复杂图形与对应端口图形或阻挡图形；
[0021]完成所有端口图形或阻挡图形关联的复杂图形与对应端口图形或阻挡图形的匹配。
[0022]更进一步地，所述计算所有端口到端口的寄生电阻的步骤，还包括，进行建模计算所有端口到端口的寄生电阻。
[0023]为实现上述目的，本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时执行如上文所述的大规模复杂版图电阻提取加速方法的步骤。
[0024]为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序运行时执行如上文所述的大规模复杂版图电阻提取加速方法的步骤。
[0025]本专利技术的大规模复杂版图电阻提取加速方法，具有以下有益效果：
[0026]可以将一个复杂图形切分为多个简单子图形，每个端口图形(或阻挡图形)可以快速查询到有连接关系的子图形，与简单子图形做图形几何运算效率很高，可以快速找到端口图形与电阻图形的匹配关系，大大缩短了电阻提取时间，提高了效率。
[0027]在提高电阻计算效率的同时，也保证了端口与电阻图形的匹配正确性，确保了端口到端口寄生电阻提取准确性。
[0028]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。
附图说明
[0029]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本专利技术的实施例一起，用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：
[0030]图1为根据本专利技术的大规模复杂版图电阻提取加速方法流程图；
[0031]图2为复杂电阻版图连接示意图；
[0032]图3为切分复杂图形示意图；
[0033]图4为复杂图形数据结构示意图。
具体实施方式
[0034]以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0035]本专利技术实施例中，图2为复杂电阻版图连接示意图，如图2所示，在需要进行电阻提取的复杂图形中，需要进行电阻提取的端口图形或阻挡图形共有2n个，复杂图形A与复杂图形B都是顶点数目庞大的多边形，复杂图形之间有顶点数目较少的简单多边形图形，复杂图形与简单图形通过端口图形(或阻挡图形)连接，端口图形(或阻挡图形)可以是矩形也可以是带端口属性的线段。
[0036]图1为根据本专利技术的大规模复杂版图电阻提取加速方法流程图，下面将参考图1，对本专利技术的大规模复杂版图电阻提取加速方法进行详细描述。
[0037]首先，在步骤101，将复杂图形切分为多个简单子图形。
[0038]在本专利技术实施例中，根据复杂图形顶点数CNT，计算出单位小图形顶点数目阈值TVertex，并将复杂图形切分为多个顶点数为TVertex的简单子图形，切分复杂图形如图3所示。
[0039]例如：当复杂图形顶点数目小于等于10000个时，取单位小图形个数为10，此时阈值TVertex＝CNT/10；当复杂图形顶点数大于10000个时，取单位小图形顶点数阈值为1000。此取值方法可以平衡小图形查找与图形计算的时间。
[0040]在步骤102，将简单子图形数据存入数据结构。
[0041]本专利技术实施例中，将切分后的简单子图形数据存入到查找树等可以进行快速图形查询的数据结构中，此数据结构与对应复杂图形相关联，存入后的复杂图形数据结构如图4所示。
[0042]本专利技术实施例中，相同复杂图形的简单子图形存为一组快速查询数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大规模复杂版图电阻提取加速方法，其特征在于，包括以下步骤：将复杂图形切分为多个简单子图形；将所述简单子图形数据存入快速图形查询数据结构；匹配所有所述简单子图形关联的复杂图形与对应端口图形；计算所有端口到端口的寄生电阻。2.根据权利要求1所述的大规模复杂版图电阻提取加速方法，其特征在于，所述将复杂图形切分为多个简单子图形的步骤，还包括，根据复杂图形顶点数，计算出单位小图形顶点数目阈值；将复杂图形切分为多个顶点数为单位小图形顶点数目阈值的简单子图形。3.根据权利要求1所述的大规模复杂版图电阻提取加速方法，其特征在于，所述将所述简单子图形数据存入快速查询数据结构的步骤，还包括，将切分后的简单子图形数据存入到快速图形查询数据结构中；将快速图形查询数据结构与对应的复杂图形相关联。4.根据权利要求3所述的大规模复杂版图电阻提取加速方法，其特征在于，所述快速图形查询数据结构为查找树。5.根据权利要求1所述的大规模复杂版图电阻提取加速方法，其特征在于，所述匹配所有所述简单子图...

【专利技术属性】
技术研发人员：童振霄，刘伟平，李相启，陆涛涛，
申请(专利权)人：南京华大九天科技有限公司，
类型：发明
国别省市：