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一种集成电路设计的验证方法、验证装置及存储介质。该验证方法包括根据使用测试用例组对该集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定该测试用例组中的重复测试用例。该集成电路设计的预期功能对应多个功能覆盖单元，该测试用例组包括多个测试用例，该多个...
该专利属于海光信息技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光信息技术股份有限公司授权不得商用。

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