芯片验证方法、装置、设备、存储介质制造方法及图纸

本公开提供了一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质。芯片验证方法，包括：覆盖点建立步骤，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点；验证覆盖点建立步骤，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；非法仓建立步骤，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；验证步骤，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性。本公开可以实现无论是直接通过监控设计行为，还是间接从验证环境配置信息所采样收集到的功能覆盖率结果均可靠。

【技术实现步骤摘要】
芯片验证方法、装置、设备、存储介质
本公开涉及芯片验证领域，尤其涉及一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质。
技术介绍
针对超大规模、日益复杂的芯片验证要求，功能覆盖率被用于表征整个设计中所有功能点的验证覆盖情况，体现了对设计功能进行验证的完备程度。功能覆盖率的采样收集可以通过如下两种方法：1.直接采样设计中的信号组合以表征设计中对应的功能点是否被覆盖。2.间接采样验证环境中配置信息以表征设计中对应的功能点是否被覆盖。对于方法1而言，得到的功能覆盖率统计结果真实体现了设计中的功能点是否有被覆盖。然而，这种采样方法无法保证收集到的功能覆盖点如实反映了验证的意图。与此同时，一旦验证环境的缺陷导致检查机制没有对这种测试激励与设计行为之间的失配问题进行报错，那么最终统计得到的功能覆盖率结果将会显示该设计的功能点在验证过程中被覆盖到了，这反而掩盖了验证环境中存在的缺陷，使得问题无法暴露。对于方法2而言，得到的功能覆盖率统计结果真实体现了验证环境所希望配置的设计功能点是否有被覆盖。然而，这种采样方式无法保证收集到的功能覆盖点如实反映了设计的真实行为。与此同时，一旦验证环境中的检查机制不够完备，使得一些设计上的漏洞没有被查验出来，那么最终统计得到的功能覆盖率结果将会显示该设计的功能点在验证过程中被配置过了，反而掩盖了设计本身的缺陷，使得问题无法暴露。
技术实现思路
本公开正是为了解决上述课题而完成，其目的在于提供一种基于功能覆盖点中的非法仓构建校验验证环境配置信息与设计行为之间相关性的芯片验证方法、装置、设备、存储介质。本公开提供该
技术实现思路
部分以便以简要的形式介绍构思，这些构思将在后面的具体实施方式部分被详细描述。该
技术实现思路
部分并不旨在标识要求保护的技术方案的关键特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保护的技术方案的范围。为了解决上述技术问题，本公开实施例提供一种芯片验证方法，采用了如下所述的技术方案，包括：覆盖点建立步骤，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点，所述两个覆盖点中的仓分别对应于验证环境配置信息和设计行为；验证覆盖点建立步骤，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；非法仓建立步骤，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；验证步骤，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，以验证所述功能是否完备。为了解决上述技术问题，本公开实施例还提供一种芯片验证装置，采用了如下所述的技术方案，包括：覆盖点建立模块，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点，所述两个覆盖点中的仓分别对应于验证环境配置信息和设计行为；验证覆盖点建立模块，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；非法仓建立模块，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；验证模块，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，以验证所述功能是否完备。为了解决上述技术问题，本公开实施例还提供一种计算机设备，采用了如下所述的技术方案，包括：存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如前述所述的方法。为了解决上述技术问题，本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质，采用了如下所述的技术方案，包括：所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前述所述的方法。根据本公开所公开的技术方案，与现有技术相比，本公开可以实现在收集功能覆盖率的同时，基于非法仓在每次功能覆盖率采样时检查当前采样到的设计行为是否符合验证环境配置意图，从而保证了：1.由于验证环境中的缺陷而导致测试激励没有触发正确的设计行为将报告仿真错误；2.由于设计本身的缺陷而导致设计行为没有正确的响应验证环境的测试激励将报告仿真错误；3.无论是直接通过监控设计行为，还是间接从验证环境的配置信息所采样收集到的功能覆盖率结果是可靠的。附图说明图1是根据本公开的芯片验证方法的一个实施例的流程图；图2是根据本公开的芯片验证方法的由对设计行为的监控建立新覆盖点的一个实施例的示意图；图3是根据本公开的芯片验证方法的由验证环境配置信息建立新覆盖点的一个实施例的示意图；图4是根据本公开的芯片验证方法的生成覆盖点之间第二对应关系的一个实施例的示意图；图5是根据本公开的芯片验证方法的建立交叉覆盖点中非法仓的一个实施例的示意图；图6是根据本公开的芯片验证方法的一个实施例的流程示意图；图7是根据本公开的芯片验证装置的一个实施例的示意图；图8是根据本公开的计算机设备的一个实施例的结构示意图。结合附图并参考以下具体实施方式，本公开各实施例的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。贯穿附图中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的元素。应当理解附图是示意性的，元件和元素不一定按照比例绘制。具体实施方式除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本公开的
的技术人员通常理解的含义相同；本文中在申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本公开；本公开的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。本公开的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本公开的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。为了使本
的人员更好地理解本公开方案，下面将结合附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。首先说明本公开中用到的相关术语及其定义：功能覆盖率(FCOV,FunctionalCoverage)：功能覆盖率用于表征设计中所有功能点的验证覆盖情况，体现了针对设计功能进行验证的完备程度。覆盖组(covergroup)：覆盖组是一种用于统计功能覆盖率的模型，其中涵盖了表征不同设计功能的覆盖点，覆盖组的整体覆盖率由其中包含的所有覆盖点的覆盖情况来体现。覆盖点(coverpoint)：覆盖点存在于覆盖组之中，对应于设计中某个需要被验证到的功能点。在功能覆盖率采样之后，覆盖点会统计其下本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：/n覆盖点建立步骤，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点，所述两个覆盖点中的仓分别对应于验证环境配置信息和设计行为；/n验证覆盖点建立步骤，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；/n非法仓建立步骤，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；/n验证步骤，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，以验证所述功能是否完备。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：
覆盖点建立步骤，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点，所述两个覆盖点中的仓分别对应于验证环境配置信息和设计行为；
验证覆盖点建立步骤，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；
非法仓建立步骤，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；
验证步骤，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，以验证所述功能是否完备。


2.如权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，
所述覆盖点包括第一覆盖点和第二覆盖点，所述第一覆盖点对应于所述验证环境配置信息，所述第二覆盖点对应于所述设计行为。


3.如权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，还包括，
对应关系确定步骤，确定所述第一覆盖点中所有仓与所述第二覆盖点中所有仓之间的第一对应关系，根据所述第一对应关系确定所述第一覆盖点中所有仓与所述第二覆盖点中所有仓之间的第二对应关系。


4.如权利要求3所述的芯片验证方法，其特征在于，
所述验证覆盖点根据所述第一覆盖点和所述第二覆盖点建立，
所述非法仓建立步骤包括，在所述验证覆盖点中根据所述第二对应关系建立所述非法仓。


5.如权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，
所述验证覆盖点同时包含所述验证环境配置信息和所述设计行为。


6.如权利要求5所述的芯片验证方法，其特征在于，
所述验证覆盖点建立步骤还包括，
相关性建立步骤，根据所述验证环境配置信息与所述验证环境配置信息所对应的所述设计行为建立所述验证覆盖点中所述验证环境配置信息和所述设计行为之间的相关性；
所述非法仓建立步骤包括，在所述验证覆盖点中根据所述相关性建立所述非法仓。


7.如权利要求1-6任一项所述的芯片验证方法，其特征在于，
所述验证步骤还包括，
通过所述非法仓校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，
若所述相关性失配，则触发所述非法仓，并报告错误，
若未触发所述非法仓，则输出所述功能覆盖率。


8.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：
覆盖点建立模块，基于芯片中待验证的功能...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晶晶，谭帆，魏炽频，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12