一种数字图像坏簇统计方法及集成电路自动测试机技术

本发明专利技术提供了一种数字图像坏簇统计方法、CIS芯片测试方法及集成电路自动测试机。其中，所述数字图像坏簇统计方法包括：将第一格式的图像数据分解为预设尺寸的多个子矩阵，每个所述子矩阵与所述预设尺寸的核矩阵进行预设计算；其中，所述核矩阵中的元素符合如下规律：任意两种包含至少两个元素的组合相乘的结果均不相同。如此配置，使得对原始的数字图像只需要进行一次扫描处理和计算就能够统计预设尺寸的各坏簇类型图像的数量，具备严谨高效的特点，解决了现有技术中图像坏簇的统计方法不够严谨，导致统计结果不够准确，统计效率低下的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种数字图像坏簇统计方法及集成电路自动测试机
本专利技术涉及半导体测试领域，特别涉及一种数字图像坏簇统计方法、CIS芯片测试方法及集成电路自动测试机。
技术介绍
当前国内CIS芯片测试评估坏簇统计或数字图像评估坏簇统计一般有以下缺陷：1.defect统计算法不够严谨，统计结果形式不便处理；2.为了便于统计和计算，单次统计block区域有限，比如3*3；3.不同类型坏簇(defect组合)统计不足或重复统计，且需要多种类型的算子和多次扫描和计算。总之，现有技术中，图像坏簇的统计方法不够严谨，导致统计结果不够准确，统计效率低下。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种数字图像坏簇统计方法、CIS芯片测试方法及集成电路自动测试机，以解决现有技术中，图像坏簇的统计方法不够严谨，导致统计结果不够准确，统计效率低下的问题。为了解决上述技术问题，根据本专利技术的第一个方面，提供了一种数字图像坏簇统计方法，其特征在于，所述数字图像坏簇统计方法包括：将第一格式的图像数据分解为预设尺寸的多个子矩阵，每本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数字图像坏簇统计方法，其特征在于，所述数字图像坏簇统计方法包括：将第一格式的图像数据分解为预设尺寸的多个子矩阵，每个所述子矩阵与所述预设尺寸的核矩阵进行预设计算；其中，所述核矩阵中的元素符合如下规律：任意两种包含至少两个元素的组合相乘的结果均不相同。/n

【技术特征摘要】
1.一种数字图像坏簇统计方法，其特征在于，所述数字图像坏簇统计方法包括：将第一格式的图像数据分解为预设尺寸的多个子矩阵，每个所述子矩阵与所述预设尺寸的核矩阵进行预设计算；其中，所述核矩阵中的元素符合如下规律：任意两种包含至少两个元素的组合相乘的结果均不相同。


2.根据权利要求1所述的数字图像坏簇统计方法，其特征在于，所述核矩阵由各不相同的质数填充。


3.根据权利要求1所述的数字图像坏簇统计方法，其特征在于，所述核矩阵由最小的N个质数填充，其中N等于所述预设尺寸的行数与所述预设尺寸的列数的乘积。


4.根据权利要求1所述的数字图像坏簇统计方法，其特征在于，所述第一格式为，用0或者1对所述图像数据的像素点进行赋值，其中用0对正常的像素点进行赋值，用1对异常的像素点进行赋值；
同时满足行数相等和列数相等的所述子矩阵中的元素和所述核矩阵中的元素具有对应关系，所述预设计算包括，将所述子矩阵中赋值为1的元素所对应的所述核矩阵中的元素相乘。


5.根据权利要求4所述的数字图像坏簇统计方法，其特征在于，所述数字图像坏簇统计方法包括：设定阈值，对第二格式的图像数据进行赋值操作，将所述第二格式的图像数据中像素点的绝对值大于或等于所述阈值的点赋值为1，将其余的像素点赋值为0，得到所述第一格式的图像数据。


6.根据权利要求5所述的数字图像坏簇统计方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：李冲，杜镇涛，温建新，叶红波，张悦强，
申请(专利权)人：上海集成电路研发中心有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31