一种SPI通讯接口测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术所述的一种SPI通讯接口测试装置，包括：微控制器、双电源电路、过载保护电路、启断电控制电路和PC端，SPI通讯接口与所述微控制器连通，所述双电源电路输出端将电压信号传输给所述过载保护电路，并由所述微控制器进行信号控制，所述过载保护电路输出端与所述微控制器的供电电压端相连，所述启断电电路输入端与所述过载保护电路输出端相连，微控制器向启断电电路传输控制信号，且启断电电路的输出端与所述SPI通讯接口的供电电压端连接，所述PC端与微控制器互连；本实用新型专利技术将因为外加双电压切换、启断电、过载保护，和外挂USB 2.0 PHY电路，提高了与PC的通讯速度和增加了双电压切换功能和具有过载保护的启断电测试，足以应用于可靠性测试方案。

【技术实现步骤摘要】
一种SPI通讯接口测试装置
本技术涉及一种测试装置，具体涉及一种SPI通讯接口测试装置。
技术介绍
在现有的SPI测试平台，多是使用现有的SPI桥接器，如FTDI的FT4222为USB转SPI的桥接芯片，但此芯片虽有支持QuadSPI，但速度只能达到30MHz，对于现代速度快速需求下的108MHz是不足的。市面上为了携带型设备低电压的需求，产生了两种主流工作电压3.3V和1.8V，而一般测试平台多是为不同平台对应不同电压，所以在交换电压测试时会造成平台交换的麻烦，因此同一平台双电压切换测试将可简化测试操作，减少人为交换平台操作失误的可能，进而增进测试的平稳。
技术实现思路
技术目的：为了克服现有技术的不足，本技术提供了一种SPI通讯接口测试装置，解决了现有技术中通讯速度低、电压置换操作失误率高的问题。技术方案：本技术所述的一种SPI通讯接口测试装置，包括：微控制器、双电源电路、过载保护电路、启断电控制电路和PC端，SPI通讯接口与所述微控制器连通，所述双电源电路输出端将电压信号传输给所述过载保护电路，并由所述微控制器进行信号控制，所述过载保护电路输出端与所述微控制器的供电电压端相连，所述启断电电路输入端与所述过载保护电路输出端相连，微控制器向启断电电路传输控制信号，且启断电电路的输出端与所述SPI通讯接口的供电电压端连接，所述PC端与微控制器互连。进一步的，包括：所述微控制器的型号为STM32F7系列。进一步的，包括：所述SPI通讯接口连接在所述微控制器的QSPI接口上。进一步的，包括：所述装置还包括SMSC公司的USB3315，所述USB3315安装在所述微控制器的USB接口上，PC端与外加的USB3315连接。进一步的，包括：所述启断电控制电路通过所述微控制器接口GPIO0接收控制信号，双电源电路通过所述微控制器接口GPIO1接收控制信号。进一步的，包括：所述过载保护电路包括三极管、第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述第一电阻连接在所述三极管的发射极端，所述第二电阻连接在所述三极管的集电极和基极之间，第三电阻连接在所述三极管的基极与发射极之间。进一步的，包括：所述启断电电路包括第一场效应管、第一反相器和第二场效应管，所述第一场效应管的源极与所述微控制器的供电电压端连接，漏极与SPI通讯接口的供电电压端连接，所述第一场效应管的栅极与第二场效应管的栅极互连后，与所述第一反相器相连，所述微控制器向其传输控制信号，所述第二场效应管的漏极连接到SPI通讯接口的供电电压端，源极接地。进一步的，包括：所述双电源电路包括1.8V低功耗LDO、3.3V低功耗LDO、第三场效应管、第四场效应管以及第二反相器，所述第三场效应管的源极连接1.8V低功耗LDO、第四场效应管的源极连接3.3V低功耗LDO，第三场效应管和第四场效应管的漏极相连并将信号输入到所述过载保护电路中，所述第三场效应管的栅极连接第二反相器，与所述第四场效应管的栅极共同连接到所述微控制器的控制端，由所述微控制器向其传输控制信号。有益效果：本技术与现有技术相比，其显著优点是：本技术将STM32F7MCU加入固件和软件，快速实现低成本且高速108MHzQSPI测试平台。此装置通过软件和固件，不单能测试108MHzQuad模式，还能测试1bit、2bit、4bit、Quad模式的读写测试，并因为外加“双电压切换”、“启断电”、“过载保护”，和外挂“USB2.0PHY”电路，提高了与PC的通讯速度和增加了双电压测试和具有过载保护的启断电测试，足以应用于可靠性测试方案。附图说明图1为本技术的测试装置的模块连接图；图2为本技术的实施例测试装置电路图；图3为本技术的实施例的测试命令界面图。具体实施方式如图1所示，本技术所述的一种SPI通讯接口测试装置，包括：微控制器、双电源电路、过载保护电路、启断电控制电路和PC端，SPI通讯接口与微控制器连通，双电源电路输出端将电压信号传输给过载保护电路，并由微控制器进行信号控制，过载保护电路输出端与微控制器的供电电压端VCC相连，启断电电路输入端与过载保护电路输出端相连，微控制器向启断电电路传输控制信号，且启断电电路的输出端与SPI通讯接口的供电电压端VCC连接，PC端与微控制器互连。图1中的101为本技术所述的高速108MHzQSPI测试装置本体，使用微控制器STM32F7中特有的108MHzQSPI硬件，经由USB桥接SPI通讯接口，用以连接图1中的102，SPI待测物如SPINANDFlash，再透过USB跟PC连接，使用图1中的103软件完成高速108MHzQSPI命令验证测试。本技术所述的装置还包括SMSC公司的USB3315，USB3315安装在微控制器的USB接口上，PC端与外加的USB3315连接，其是为了配合高速的测试，需提升测试平台和PC的通讯速度，因此，外加了USB2.0的PHY，将原本STM32F7内置的USB1.1的速度提升至2.0，外加的器件使用了SMSC公司的USB3315。双电源电路提供两种电源切换，主要由USB5V转3.3V和1.8V并由MCU中的GPIO1透过USB来切换电压，其输出的电压再由启断电控制电路经由MCU中的GPIO0来控制供给待测元件并由软件透过USB来完成启断电测试，过载保护电路用以防待测物发生短路造成电流过大，以达到保护微控制器的目的。PC中含有用于测试的软件界面，软件界面中含有按钮启动和关闭按钮以及电源选择按钮。如图2所示，启断电控制电路2由软件透过USB至MCU并由GPIO0来控制SPI待测物的启断电，因此，可以实现启断电的测试项，并由过载保护电路1来提供过载保护，以防止SPI待测物短路情况发生，本方式通过PC端的软件提供验证的多样化，以完成高速QSPI的可靠性测试程序。启断电控制电路2包括第一场效应管P3、第一反相器和第二场效应管N1，第一场效应管P3的源极与微控制器供电电压端VCC连接，漏极与SPI通讯接口的供电电压端VCC连接，P3和N1的两个栅极相连，且再与第一反相器连接，并与微控制器的GPIO0连接，由微控制器发送控制信号。第二场效应管N1的漏极连接到SPI通讯接口的供电电压端，源极接地。启断电控制电路2的工作原理是：当工作人员电机启动按钮，微控制器的GPIO0端口置1，即高电平，第一场效应管P3导通，SPI通讯硬件得电，由于连接反相器，第二场效应管N1截止，避免了电源与地短接；当工作人员点击关闭按钮，微控制器的GPIO0端口置0，即低电平，第一场效应管P3截止，SPI通讯硬件不得电，由于存在反相器，第二场效应管N1导通。双电源电路3包括1.8V低功耗LDO、3.3V低功耗LDO、第三场效应管P1、第四场效应管P2以及第二反相器，第三场效应管P1的源极连接1.8V低功耗LDO、第四场本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SPI通讯接口测试装置，其特征在于，包括：微控制器、双电源电路、过载保护电路、启断电控制电路和PC端，SPI通讯接口与所述微控制器连通，所述双电源电路输出端将电压信号传输给所述过载保护电路，并由所述微控制器进行信号控制，所述过载保护电路输出端与所述微控制器的供电电压端相连，所述启断电电路输入端与所述过载保护电路输出端相连，微控制器向启断电电路传输控制信号，且启断电电路的输出端与所述SPI通讯接口的供电电压端连接，所述PC端与微控制器互连。/n

【技术特征摘要】
1.一种SPI通讯接口测试装置，其特征在于，包括：微控制器、双电源电路、过载保护电路、启断电控制电路和PC端，SPI通讯接口与所述微控制器连通，所述双电源电路输出端将电压信号传输给所述过载保护电路，并由所述微控制器进行信号控制，所述过载保护电路输出端与所述微控制器的供电电压端相连，所述启断电电路输入端与所述过载保护电路输出端相连，微控制器向启断电电路传输控制信号，且启断电电路的输出端与所述SPI通讯接口的供电电压端连接，所述PC端与微控制器互连。


2.根据权利要求1所述的SPI通讯接口测试装置，其特征在于，所述微控制器的型号为STM32F7系列。


3.根据权利要求2所述的SPI通讯接口测试装置，其特征在于，所述SPI通讯接口与所述微控制器的QSPI接口连接。


4.根据权利要求2所述的SPI通讯接口测试装置，其特征在于，所述装置还包括SMSC公司的USB3315，所述USB3315安装在所述微控制器的USB接口上，PC端与外加的USB3315连接。


5.根据权利要求2所述的SPI通讯接口测试装置，其特征在于，所述启断电控制电路通过微控制器接口GPIO0接收控制信号，双电源电路通过微控制器接口GPIO1接收控制信号。


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【专利技术属性】
技术研发人员：施冠良，郑文豪，朱纯莹，刘安伟，
申请(专利权)人：南京斐立芯微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32