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本发明提供了一种数字图像坏簇统计方法、CIS芯片测试方法及集成电路自动测试机。其中，所述数字图像坏簇统计方法包括：将第一格式的图像数据分解为预设尺寸的多个子矩阵，每个所述子矩阵与所述预设尺寸的核矩阵进行预设计算；其中，所述核矩阵中的元素符合...
该专利属于上海集成电路研发中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海集成电路研发中心有限公司授权不得商用。

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