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本公开提供了一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质。芯片验证方法，包括：覆盖点建立步骤，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点；验证覆盖点建立步骤，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关...
该专利属于海光信息技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光信息技术股份有限公司授权不得商用。

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