触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质，触摸屏包括多个目标像素，检测方法包括：测量每个目标像素的电容值；利用多个目标像素的电容值得到差值矩阵；利用差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个目标像素的电容均匀性；根据多个目标像素的电容均匀性确定触摸屏的均匀性。本发明专利技术实施方式的检测方法中，通过每个像素的电容值来计算每个像素的电容均匀性，并利用像素的电容均匀性来确定触摸屏的均匀性，可以实现对触摸屏均匀性的检测。

【技术实现步骤摘要】
触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质
本专利技术涉及触摸屏
，特别涉及一种触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质。
技术介绍
目前，触摸屏被广泛地应用于人机交互的输入/输出界面。在相关技术中，触摸屏包括面板和位于面板下方的传感器，传感器的功能检测包括产品均匀性检测，是一种直接收集记录触摸屏电性参数的方式。因此，有必要提供一种触摸屏均匀性的检测方法和装置。
技术实现思路
本专利技术实施方式提供了一种触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质。本专利技术实施方式的触摸屏均匀性的检测方法，所述触摸屏包括目标区域，所述目标区域内有多个目标像素，其特征在于，所述检测方法包括：测量每个所述目标像素的电容值；利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵；利用所述差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个所述目标像素的电容均匀性；根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性。本专利技术实施方式的检测方法中，通过每个像素的电容值来计算每个像素的电容均匀性，并利用像素的电容均匀性来确定触摸屏本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触摸屏均匀性的检测方法，所述触摸屏包括目标区域，所述目标区域内有多个目标像素，其特征在于，所述检测方法包括：/n测量每个所述目标像素的电容值；/n利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵；/n利用所述差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个所述目标像素的电容均匀性；/n根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性。/n

【技术特征摘要】
1.一种触摸屏均匀性的检测方法，所述触摸屏包括目标区域，所述目标区域内有多个目标像素，其特征在于，所述检测方法包括：
测量每个所述目标像素的电容值；
利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵；
利用所述差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个所述目标像素的电容均匀性；
根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性。


2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵，包括：
对每个所述目标像素的电容值进行拟合处理以获取每个所述目标像素的电容拟合值；
利用所述多个目标像素的电容拟合值计算得到电容拟合结果矩阵；
利用所述电容拟合结果矩阵和所述多个目标像素的电容值计算所述差值矩阵。


3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述拟合处理包括线性拟合处理。


4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述多个目标像素包括多个第一目标像素和多个第二目标像素，所述多个第一目标像素沿第一方向排列，所述多个第二目标像素沿第二方向排列，所述第一方向不同于所述第二方向，
所述利用所述多个目标像素的电容拟合值计算得到电容拟合结果矩阵，包括：
利用所述多个第一目标像素的电容拟合值计算得到第一电容拟合结果矩阵；
利用所述多个第二目标像素的电容拟合值计算得到第二电容拟合结果矩阵；
根据所述第一电容拟合结果矩阵和所述第二电容拟合结果矩阵计算得到所述电容拟合结果矩阵。


5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一电容拟合结果矩阵和所述第二电容拟合结果矩阵计算得到所述电容拟合结果矩阵，包括：
计算所述第一电容拟合结果矩阵和所述第二电容拟合结果矩阵的平均值作为所述电容拟合结果矩阵。


6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性，包括：
判断所述多个目标像素的电容均匀性是否位于预设范围；
在所述多个目标像素的电容均匀性均位于...

【专利技术属性】
技术研发人员：田舒韵，
申请(专利权)人：南昌欧菲显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36