触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质，触摸屏包括多个目标像素，检测方法包括：测量每个目标像素的电容值；利用多个目标像素的电容值得到差值矩阵；利用差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个目标像素的电容均匀性；根据多个目标像素的电容均匀性确定触摸屏的均匀性。本发明专利技术实施方式的检测方法中，通过每个像素的电容值来计算每个像素的电容均匀性，并利用像素的电容均匀性来确定触摸屏的均匀性，可以实现对触摸屏均匀性的检测。

【技术实现步骤摘要】
触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质
本专利技术涉及触摸屏
，特别涉及一种触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质。
技术介绍
目前，触摸屏被广泛地应用于人机交互的输入/输出界面。在相关技术中，触摸屏包括面板和位于面板下方的传感器，传感器的功能检测包括产品均匀性检测，是一种直接收集记录触摸屏电性参数的方式。因此，有必要提供一种触摸屏均匀性的检测方法和装置。
技术实现思路
本专利技术实施方式提供了一种触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质。本专利技术实施方式的触摸屏均匀性的检测方法，所述触摸屏包括目标区域，所述目标区域内有多个目标像素，其特征在于，所述检测方法包括：测量每个所述目标像素的电容值；利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵；利用所述差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个所述目标像素的电容均匀性；根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性。本专利技术实施方式的检测方法中，通过每个像素的电容值来计算每个像素的电容均匀性，并利用像素的电容均匀性来确定触摸屏目标区域的均匀性，可以实现对触摸屏均匀性的检测。在某些实施方式中，所述利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵，包括：对每个所述目标像素的电容值进行拟合处理以获取每个所述目标像素的电容拟合值；利用所述多个目标像素的电容拟合值计算得到电容拟合结果矩阵；利用所述电容拟合结果矩阵和所述多个目标像素的电容值计算所述差值矩阵。如此，可方便直接获得差值矩阵。在某些实施方式中，所述拟合处理包括线性拟合处理。如此，通过线性拟合可以将电容值拟合，得到每个目标像素的电容拟合值，并且线性拟合速度快、可解释性好。在某些实施方式中，所述多个目标像素包括多个第一目标像素和多个第二目标像素，所述多个第一目标像素沿第一方向排列，所述多个第二目标像素沿第二方向排列，所述第一方向不同于所述第二方向，所述利用所述多个目标像素的电容拟合值计算得到电容拟合结果矩阵，包括：利用所述多个第一目标像素的电容拟合值计算得到第一电容拟合结果矩阵；利用所述多个第二目标像素的电容拟合值计算得到第二电容拟合结果矩阵；根据所述第一电容拟合结果矩阵和所述第二电容拟合结果矩阵计算得到所述电容拟合结果矩阵。如此，可以通过不同方向上的两个拟合结果矩阵计算得到最终电容拟合结果矩阵，减小拟合值误差。在某些实施方式中，所述根据所述第一电容拟合结果矩阵和所述第二电容拟合结果矩阵计算得到所述电容拟合结果矩阵，包括：计算所述第一电容拟合结果矩阵和所述第二电容拟合结果矩阵的平均值作为所述电容拟合结果矩阵。如此，最终的电容拟合结果矩阵各个位置的电容拟合值精确性更高。在某些实施方式中，所述根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性，包括：判断所述多个目标像素的电容均匀性是否位于预设范围；在所述多个目标像素的电容均匀性均位于所述预设范围时，确定所述目标区域均匀性为合格；在所述多个目标像素的电容均匀性中的至少一个未位于所述预设范围时，确定所述目标区域的均匀性为不合格。如此，通过卡控像素均匀性的最大最小值即可卡控触摸屏均匀性，保证产品质量。在某些实施方式中，所述触摸屏包括边缘区域和内部区域，所述边缘区域位于所述触摸屏的边缘，所述内部区域位于所述边缘区域内，当所述目标区域包括所述边缘区域和所述内部区域时，所述电容参考值为所述触摸屏整个区域的中心像素的电容值；当所述目标区域为所述内部区域时，所述电容参考值为所述内部区域的中心像素的电容值；当所述目标区域为所述边缘区域时，所述电容参考值为位于同一侧边缘的所述多个像素的电容平均值。如此，可以根据检测需要，选择所需的区域内目标像素进行均匀性检测，检测方法灵活。在某些实施方式中，所述利用所述差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个所述目标像素的电容均匀性，包括：当所述目标区域包括所述边缘区域和所述内部区域时，或所述目标区域为所述内部区域时，根据所述差值矩阵和所述电容参考值的比值确定所述目标像素的电容均匀性。如此，可以计算出目标像素的电容均匀性，而且计算方法相对简单。在某些实施方式中，所述根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性，包括：当所述目标区域为所述边缘区域时，计算相邻两个目标像素之间的电容均匀性的差值并获取到多个所述差值；根据所述多个差值确定所述目标区域的均匀性。如此，通过卡控边缘通道差异性值的最大最小值卡控边缘通道的差异性，保证产品质量。本专利技术实施方式的触摸屏均匀性的检测装置包括测量模块、计算模块和确认模块，所述测量模块用于测量每个所述目标像素的电容值；所述计算模块用于利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵、利用所述差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个所述目标像素的电容均匀性；所述确认模块用于根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性。本专利技术实施方式的触摸屏均匀性的检测装置，通过每个像素的电容值来计算每个像素的电容均匀性，并利用像素的电容均匀性来确定触摸屏的均匀性，可以实现对触摸屏均匀性的检测。本专利技术实施方式的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被执行的情况下，实现上述任一项所述的触摸屏均匀性的检测方法的步骤。本专利技术实施方式的计算机可读存储介质，通过每个像素的电容值来计算每个像素的电容均匀性，并利用像素的电容均匀性来确定触摸屏的均匀性，可以实现对触摸屏均匀性的检测。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是本专利技术某些实施方式的触摸屏均匀性的检测方法的流程示意图；图2是本专利技术某些实施方式的均匀性的检测装置的模块示意图；图3是本专利技术某些实施方式的触摸屏的像素分布的示意图；图4至图6是本专利技术某些实施方式的检测方法的流程示意图；图7和图8是本专利技术某些实施方式的触摸屏的区域分布的示意图。主要特征附图标记：检测装置100；测量模块10、拟合模块20、计算模块30、确认模块40；内部像素201、边缘像素202；内部区域31、边缘区域32。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施方式，所述实施方式的实施方式在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的实施方式的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本专利技术的实施方式的描述中，“多个”的含义是两个或两本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触摸屏均匀性的检测方法，所述触摸屏包括目标区域，所述目标区域内有多个目标像素，其特征在于，所述检测方法包括：/n测量每个所述目标像素的电容值；/n利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵；/n利用所述差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个所述目标像素的电容均匀性；/n根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性。/n

【技术特征摘要】
1.一种触摸屏均匀性的检测方法，所述触摸屏包括目标区域，所述目标区域内有多个目标像素，其特征在于，所述检测方法包括：
测量每个所述目标像素的电容值；
利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵；
利用所述差值矩阵和设定的电容参考值计算得到每个所述目标像素的电容均匀性；
根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性。


2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述利用多个所述目标像素的电容值得到差值矩阵，包括：
对每个所述目标像素的电容值进行拟合处理以获取每个所述目标像素的电容拟合值；
利用所述多个目标像素的电容拟合值计算得到电容拟合结果矩阵；
利用所述电容拟合结果矩阵和所述多个目标像素的电容值计算所述差值矩阵。


3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述拟合处理包括线性拟合处理。


4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述多个目标像素包括多个第一目标像素和多个第二目标像素，所述多个第一目标像素沿第一方向排列，所述多个第二目标像素沿第二方向排列，所述第一方向不同于所述第二方向，
所述利用所述多个目标像素的电容拟合值计算得到电容拟合结果矩阵，包括：
利用所述多个第一目标像素的电容拟合值计算得到第一电容拟合结果矩阵；
利用所述多个第二目标像素的电容拟合值计算得到第二电容拟合结果矩阵；
根据所述第一电容拟合结果矩阵和所述第二电容拟合结果矩阵计算得到所述电容拟合结果矩阵。


5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一电容拟合结果矩阵和所述第二电容拟合结果矩阵计算得到所述电容拟合结果矩阵，包括：
计算所述第一电容拟合结果矩阵和所述第二电容拟合结果矩阵的平均值作为所述电容拟合结果矩阵。


6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述多个目标像素的电容均匀性确定所述目标区域的均匀性，包括：
判断所述多个目标像素的电容均匀性是否位于预设范围；
在所述多个目标像素的电容均匀性均位于...

【专利技术属性】
技术研发人员：田舒韵，
申请(专利权)人：南昌欧菲显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36