一种工件的面轮廓度快速测量方法及介质技术

本发明专利技术公开了一种工件的面轮廓度快速测量方法，包括：工件上具有平面状的待测面，基准包括第一基准面和第二基准；待测面与第一基准面之间的角度为第一角度；待测面相对于第二基准的距离为轮廓度的目标距离。在水平的测量台上放置辅助检具，辅助检具包括互成第二角度的第一检具面和第二检具面，第一检具面呈水平状态，第二角度与第一角度互补；将工件固定于辅助检具上，使得待测面呈水平状态。间接距离为待测面与第一检具面之间的距离；根据间接距离推算得出目标距离的推定值，目标距离的推定值即为待测面的轮廓度数值。这种工件的面轮廓度快速测量方法可以快速地对平面轮廓度进行测量，便于提高大批量产品的检测量，进而提升产品的整体合格率。

【技术实现步骤摘要】
一种工件的面轮廓度快速测量方法及介质
本专利技术涉及尺寸检测
，尤其涉及一种工件的面轮廓度快速测量方法及介质。
技术介绍
在零件的检测中，经常牵涉到面轮廓度的测量检验，面轮廓度是一种较难定义的几何要素，它不像一般规则的几何要素一般能用少量的参数给出精确定义，所以自由曲面加工精度的检验也编的较为复杂，为了保证检测的精确度，现常采用CMM三坐标测量仪进行测量。虽然CMM三坐标测量的精度较高，但是由于其一般的操作方式较为复杂，牵涉到须先对零件进行采点找正，找正完成后再测出基准面的位置，最后才能对待测要素进行测量。找正和测基准面的过程所需的时间长，对测量人员的要求较高，因此这种方式现仅适用于批量零件的少量抽样轮廓度测量，难以进行快速的大批量轮廓度测量。尤其在大批量生产中，由于检测的样品数量难以提升，难免会有遗漏检测的不良品流出，影响产品整体的合格率，容易给消费者带来不好的使用体验。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种工件的面轮廓度快速测量方法及介质，其可以快速地对平面轮廓度进行测量，便于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种工件的面轮廓度快速测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/n基准及待测面确认：工件上具有平面状的待测面，所述待测面的基准包括相互垂直的第一基准面和第二基准；所述待测面与第一基准面之间的角度为第一角度，所述第一角度的值为α；所述待测面与所述第二基准之间沿所述第一基准面方向的距离为轮廓度的目标距离；/n辅助定位：在水平的测量台上放置辅助检具，所述辅助检具包括互成第二角度的第一检具面和第二检具面，所述第一检具面呈水平状态，所述第二角度与第一角度互补；将所述工件固定于辅助检具上，使得所述工件的第一基准面与所述第二检具面平行，且所述待测面呈水平状态；/n测量推算：获取间接距离，所述间接距离为所述待...

【技术特征摘要】
1.一种工件的面轮廓度快速测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
基准及待测面确认：工件上具有平面状的待测面，所述待测面的基准包括相互垂直的第一基准面和第二基准；所述待测面与第一基准面之间的角度为第一角度，所述第一角度的值为α；所述待测面与所述第二基准之间沿所述第一基准面方向的距离为轮廓度的目标距离；
辅助定位：在水平的测量台上放置辅助检具，所述辅助检具包括互成第二角度的第一检具面和第二检具面，所述第一检具面呈水平状态，所述第二角度与第一角度互补；将所述工件固定于辅助检具上，使得所述工件的第一基准面与所述第二检具面平行，且所述待测面呈水平状态；
测量推算：获取间接距离，所述间接距离为所述待测面上多个不同位置处点与所述第一检具面之间的距离；根据所述间接距离推算得出所述目标距离的推定值，所述目标距离的推定值即为待测面的轮廓度数值。


2.如权利要求1所述的工件的面轮廓度快速测量方法，其特征在于，还包括合格判断步骤，所述合格判断步骤包括：
若所述目标距离的理想值为a，且待测面的轮廓度公差为±x，则所述间接距离的理论值b＝a×sinα；
当所述间接距离为b±x的范围内时，即判断所述待测面的轮廓度合格。


3.如权利要求2所述的工件的面轮廓度快速测量方法，其特征在于，所述合格判断步骤中还包括装配误差过滤步骤如下：
当所述间接距离处于b±(x－0.01)的范围内时，才判断所述待测面的轮廓度合格。


4.如权利要求1所述的工件的面轮廓度快速测量方法，其特征在于，还包括合格判断步骤，所述合格判断步骤包括：
所述目标距离的推定值＝所述间接...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟建华，谭艳军，
申请(专利权)人：域鑫科技惠州有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44