一种插芯长度测试设备及方法技术

本发明专利技术属于光纤适配器插芯长度测试技术领域，公开了一种插芯长度测试设备，包括底座，所述底座的顶部固定连接有长度测试定位工装，所述底座的顶部且位于长度测试定位工装的左侧固定连接有第二定位工装，所述第二定位工装的左侧设置有百分表/千分表，所述百分表/千分表的左侧设置有表头，所述百分表/千分表右侧的量杆贯穿并延伸至长度测试定位工装的右侧。本方案的插芯长度测试设备，可用于测试双APC插芯、双PC插芯、镀膜插芯的长度，使用时采用V槽精确定位，在定位顶针与插芯接触面及测试顶针与插芯接触面设置有大于300um让位孔，保证插芯端面300um以内非物理接触，插芯端面300um以外实现高硬度物理对接，达到精确测试，保证插芯端面质。

【技术实现步骤摘要】
一种插芯长度测试设备及方法
本专利技术涉及光纤适配器插芯长度测试
，更具体地说，涉及一种插芯长度测试设备及方法。
技术介绍
传统的光纤适配器插芯(简称插芯)长度测试方法是使用粘贴透明胶纸的游标卡尺测试，由于插芯端面要求高，300um内可允许缺陷都在10um以内，对于通光区域更是不允许200倍放大镜可见缺陷，而游标卡尺测试端面为超硬金属材料，在测试时直接接触插芯两端面，非常容易造成插芯端面刮伤、碰伤，固传统的插芯长度测试方法在游标卡尺两测试端面粘贴透明胶纸，已达到保护插芯端面的作用，此时会出现归零不准现象，归零时由于透明胶纸为大面积接触；而测试插芯时插芯的端面直径小于2.499mm，透明胶纸的变形量完全不一样，此产生的测试误差不能消除；另外测试双APC插芯时，插芯非常难保证与游标卡尺测试端面保持垂直，导致测试值不真实，插芯长度直接影响光纤适配器光口尺寸，由于插芯长度测试不真实，未能有效把插芯长度不合格品筛选出来，使得光纤适配器成品率底下，造成浪费。
技术实现思路
1.要解决的技术问题针对现有技术中存在的问题，本专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种插芯长度测试设备，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定连接有长度测试定位工装(2)，所述底座(1)的顶部且位于长度测试定位工装(2)的左侧固定连接有第二定位工装(3)，所述第二定位工装(3)的左侧设置有百分表/千分表(4)，所述百分表/千分表(4)的左侧设置有表头(5)，所述百分表/千分表(4)右侧的量杆贯穿并延伸至长度测试定位工装(2)的右侧，所述百分表/千分表(4)右端的量杆固定在第二定位工装(3)上；/n所述百分表/千分表(4)量杆的右端固定连接有测试顶针(6)，所述测试顶针(6)的右端设置有插芯(7)，所述长度测试定位工装(2)的顶部开设有由左向右延伸的V槽(8...

【技术特征摘要】
1.一种插芯长度测试设备，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定连接有长度测试定位工装(2)，所述底座(1)的顶部且位于长度测试定位工装(2)的左侧固定连接有第二定位工装(3)，所述第二定位工装(3)的左侧设置有百分表/千分表(4)，所述百分表/千分表(4)的左侧设置有表头(5)，所述百分表/千分表(4)右侧的量杆贯穿并延伸至长度测试定位工装(2)的右侧，所述百分表/千分表(4)右端的量杆固定在第二定位工装(3)上；
所述百分表/千分表(4)量杆的右端固定连接有测试顶针(6)，所述测试顶针(6)的右端设置有插芯(7)，所述长度测试定位工装(2)的顶部开设有由左向右延伸的V槽(8)，所述V槽(8)内粘接有定位顶针(9)，所述插芯(7)的右端与定位顶针(9)接触，所述百分表/千分表(4)量杆的右端固定连接有测试顶针(6)，所述定位顶针(9)与插芯(7)的接触面和所述测试顶针(6)与插芯(7)的接触面均设置有大于300um的让位孔(10)。


2.根据权利要求1所述的一种插芯长度测试设备，其特征在于：所述第二定位工装(3)设置有弹性让位(31)，所述第二定位工装(3)顶部的前侧...

【专利技术属性】
技术研发人员：范广华，刘远飞，
申请(专利权)人：广昌县中广创新电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36