一种插芯长度测试设备及方法技术

技术编号:27930743 阅读:56 留言:0更新日期:2021-04-02 14:09
本发明专利技术属于光纤适配器插芯长度测试技术领域,公开了一种插芯长度测试设备,包括底座,所述底座的顶部固定连接有长度测试定位工装,所述底座的顶部且位于长度测试定位工装的左侧固定连接有第二定位工装,所述第二定位工装的左侧设置有百分表/千分表,所述百分表/千分表的左侧设置有表头,所述百分表/千分表右侧的量杆贯穿并延伸至长度测试定位工装的右侧。本方案的插芯长度测试设备,可用于测试双APC插芯、双PC插芯、镀膜插芯的长度,使用时采用V槽精确定位,在定位顶针与插芯接触面及测试顶针与插芯接触面设置有大于300um让位孔,保证插芯端面300um以内非物理接触,插芯端面300um以外实现高硬度物理对接,达到精确测试,保证插芯端面质。

【技术实现步骤摘要】
一种插芯长度测试设备及方法
本专利技术涉及光纤适配器插芯长度测试
,更具体地说,涉及一种插芯长度测试设备及方法。
技术介绍
传统的光纤适配器插芯(简称插芯)长度测试方法是使用粘贴透明胶纸的游标卡尺测试,由于插芯端面要求高,300um内可允许缺陷都在10um以内,对于通光区域更是不允许200倍放大镜可见缺陷,而游标卡尺测试端面为超硬金属材料,在测试时直接接触插芯两端面,非常容易造成插芯端面刮伤、碰伤,固传统的插芯长度测试方法在游标卡尺两测试端面粘贴透明胶纸,已达到保护插芯端面的作用,此时会出现归零不准现象,归零时由于透明胶纸为大面积接触;而测试插芯时插芯的端面直径小于2.499mm,透明胶纸的变形量完全不一样,此产生的测试误差不能消除;另外测试双APC插芯时,插芯非常难保证与游标卡尺测试端面保持垂直,导致测试值不真实,插芯长度直接影响光纤适配器光口尺寸,由于插芯长度测试不真实,未能有效把插芯长度不合格品筛选出来,使得光纤适配器成品率底下,造成浪费。
技术实现思路
1.要解决的技术问题针对现有技术中存在的问题,本专利技术的目的在于提供一种插芯长度测试设备及方法,解决了上述问题。2.技术方案为解决上述问题,本专利技术采用如下的技术方案。一种插芯长度测试设备,包括底座,所述底座的顶部固定连接有长度测试定位工装,所述底座的顶部且位于长度测试定位工装的左侧固定连接有第二定位工装,所述第二定位工装的左侧设置有百分表/千分表,所述百分表/千分表的左侧设置有表头,所述百分表/千分表右侧的量杆贯穿并延伸至长度测试定位工装的右侧,所述百分表/千分表右端的量杆固定在第二定位工装上;所述百分表/千分表量杆的右端固定连接有测试顶针,所述测试顶针的右端设置有插芯,所述长度测试定位工装的顶部开设有由左向右延伸的V槽,所述V槽内粘接有定位顶针,所述插芯的右端与定位顶针接触,所述百分表/千分表量杆的右端固定连接有测试顶针,所述定位顶针与插芯的接触面和所述测试顶针与插芯的接触面均设置有大于300um的让位孔。优选的,所述第二定位工装设置有弹性让位,所述第二定位工装顶部的前侧螺纹连接有螺丝,所述第二定位工装的左侧开设有定位孔,所述百分表/千分表右端的量杆贯穿定位孔延伸至第二定位工装的右侧,所述百分表/千分表右端的量杆通过螺丝固定在所述第二定位工装上。优选的,所述长度测试定位工装的顶部且位于定位顶针的左侧开设有由前向后延伸的让位槽,所述插芯架设在让位槽上。优选的,所述定位孔为8定位孔。一种插芯长度测试方法,包括以下步骤:①将所述定位顶针与插芯接触面、所述测试顶针与插芯接触面贴合;②按下所述百分表/千分表回零键,拉开表头,使定定位顶针与测试顶针分开;③待测插芯放入长度测试定位工装的所述V槽上,松开表头,读取百分表/千分表显示屏上的数值,即为待测插芯实际长度值。3.有益效果相比于现有技术,本专利技术的优点在于:本方案的插芯长度测试设备,可用于测试双APC插芯、双PC插芯、镀膜插芯的长度,使用时采用V槽精确定位,在定位顶针与插芯接触面及测试顶针与插芯接触面设置有大于300um让位孔,保证插芯端面300um以内非物理接触,插芯端面300um以外实现高硬度物理对接,达到精确测试,保证插芯端面质。附图说明图1为本专利技术的立体图;图2为本专利技术图1中长度测试定位工装的放大图;图3为本专利技术图1中插芯拆卸后的局部放大图;图4为本专利技术中测试顶针与让位孔连接的局部立体图。图中标号说明:1、底座;2、长度测试定位工装;3、第二定位工装;31、弹性让位;32、螺丝;33、定位孔;4、百分表/千分表;5、表头;6、测试顶针;7、插芯;8、V槽;9、定位顶针;10、让位孔;11、让位槽。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述;显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”、“内”、“外”“顶/底端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等,应做广义理解,例如“连接”,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。请参阅图1-4,一种插芯长度测试设备,包括底座1,底座1的顶部固定连接有长度测试定位工装2,底座1的顶部且位于长度测试定位工装2的左侧固定连接有第二定位工装3,第二定位工装3的左侧设置有百分表/千分表4,百分表/千分表4的左侧设置有表头5,百分表/千分表4右侧的量杆贯穿并延伸至长度测试定位工装2的右侧,百分表/千分表4右端的量杆固定在第二定位工装3上;百分表/千分表4量杆的右端固定连接有测试顶针6,测试顶针6的右端设置有插芯7,长度测试定位工装2的顶部开设有由左向右延伸的V槽8,V槽8内粘接有定位顶针9,插芯7的右端与定位顶针9接触,百分表/千分表4量杆的右端固定连接有测试顶针6,定位顶针9与插芯7的接触面和测试顶针6与插芯7的接触面均设置有大于300um的让位孔10。本方案的插芯长度测试设备,用于检测待测光纤适配器插芯长度,待测光纤适配器插芯可以是研磨好的双APC插芯、双PC插芯、镀膜插芯。进一步的,第二定位工装3设置有弹性让位31,第二定位工装3顶部的前侧螺纹连接有螺丝32,第二定位工装3的左侧开设有定位孔33,百分表/千分表4右端的量杆贯穿定位孔33延伸至第二定位工装3的右侧,百分表/千分表4右端的量杆通过螺丝32固定在第二定位工装3上。进一步的,长度测试定位工装2的顶部且位于定位顶针9的左侧开设有由前向后延伸的让位槽11,插芯7架设在让位槽11上。进一步的,定位孔33为8定位孔。一种插芯长度测试方法,包括以下步骤:①将定位顶针9与插芯7接触面、测试顶针6与插芯7接触面贴合;②按下百分表/千分表4回零键,拉开表头5,使定定位顶针9与测试顶针6分开;③待测插芯放入长度测试定位工装2的V槽8上,松开表头5,读取百分表/千分表4显示屏上的数值,即为待测插芯实际长度值。综上所述:本方案本专利技术采用V槽8精确定位,在定位顶针9与插芯7接触面及测试顶针6与插芯7接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种插芯长度测试设备,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部固定连接有长度测试定位工装(2),所述底座(1)的顶部且位于长度测试定位工装(2)的左侧固定连接有第二定位工装(3),所述第二定位工装(3)的左侧设置有百分表/千分表(4),所述百分表/千分表(4)的左侧设置有表头(5),所述百分表/千分表(4)右侧的量杆贯穿并延伸至长度测试定位工装(2)的右侧,所述百分表/千分表(4)右端的量杆固定在第二定位工装(3)上;/n所述百分表/千分表(4)量杆的右端固定连接有测试顶针(6),所述测试顶针(6)的右端设置有插芯(7),所述长度测试定位工装(2)的顶部开设有由左向右延伸的V槽(8),所述V槽(8)内粘接有定位顶针(9),所述插芯(7)的右端与定位顶针(9)接触,所述百分表/千分表(4)量杆的右端固定连接有测试顶针(6),所述定位顶针(9)与插芯(7)的接触面和所述测试顶针(6)与插芯(7)的接触面均设置有大于300um的让位孔(10)。/n

【技术特征摘要】
1.一种插芯长度测试设备,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部固定连接有长度测试定位工装(2),所述底座(1)的顶部且位于长度测试定位工装(2)的左侧固定连接有第二定位工装(3),所述第二定位工装(3)的左侧设置有百分表/千分表(4),所述百分表/千分表(4)的左侧设置有表头(5),所述百分表/千分表(4)右侧的量杆贯穿并延伸至长度测试定位工装(2)的右侧,所述百分表/千分表(4)右端的量杆固定在第二定位工装(3)上;
所述百分表/千分表(4)量杆的右端固定连接有测试顶针(6),所述测试顶针(6)的右端设置有插芯(7),所述长度测试定位工装(2)的顶部开设有由左向右延伸的V槽(8),所述V槽(8)内粘接有定位顶针(9),所述插芯(7)的右端与定位顶针(9)接触,所述百分表/千分表(4)量杆的右端固定连接有测试顶针(6),所述定位顶针(9)与插芯(7)的接触面和所述测试顶针(6)与插芯(7)的接触面均设置有大于300um的让位孔(10)。


2.根据权利要求1所述的一种插芯长度测试设备,其特征在于:所述第二定位工装(3)设置有弹性让位(31),所述第二定位工装(3)顶部的前侧...

【专利技术属性】
技术研发人员:范广华刘远飞
申请(专利权)人:广昌县中广创新电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:江西;36

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