【技术实现步骤摘要】
凸台面的高度测量装置
本技术涉及机械、尺寸检测领域,特别涉及一种凸台面的高度测量装置。
技术介绍
在测量或检测工件底面到装配平台的距离时,常采用卡尺测量、深度尺测量或者使用三坐标测量等方法,采用卡尺或高度尺测量时由于受工件形状的限制,只能测量凸台周围的高度,测量范围小;采用三坐标测量效率低、成本高,且装配平面特别小时无法用三坐标测量。
技术实现思路
鉴于上述问题,本技术的目的是提供一种凸台面的高度测量装置,通过计算或测量装配平面到基础平板之间的距离与凸台底面到基础平板的距离相加得到最终的凸台底面到装配平面的高度即凸台面的高度;本装置也可用于检测不同高度的凸台,测量范围大,实现不同精度等级的快速检测。为实现上述目的,本技术采用以下具体技术方案:本技术提供一种凸台面的高度测量装置,包括:高度调节块、定位导向筒、配合筒和基础平板;其中,高度调节块与定位导向筒螺纹连接以调节内部容纳空间的高度;配合筒插入到定位导向筒中并与定位导向筒可相对滑动,配合筒的上端面与待测物的凸台面相抵接;定位导向筒与基础平板垂 ...
【技术保护点】
1.一种凸台面的高度测量装置,其特征在于,包括:高度调节块(1)、定位导向筒(2)、配合筒(3)和基础平板(4);其中,所述高度调节块(1)与所述定位导向筒(2)螺纹连接以调节内部容纳空间的高度;所述配合筒(3)插入到所述定位导向筒(2)中并与所述定位导向筒(2)可相对滑动,所述配合筒(3)的上端面与待测物的凸台面相抵接;所述定位导向筒(2)与所述基础平板(4)垂直设置。/n
【技术特征摘要】
1.一种凸台面的高度测量装置,其特征在于,包括:高度调节块(1)、定位导向筒(2)、配合筒(3)和基础平板(4);其中,所述高度调节块(1)与所述定位导向筒(2)螺纹连接以调节内部容纳空间的高度;所述配合筒(3)插入到所述定位导向筒(2)中并与所述定位导向筒(2)可相对滑动,所述配合筒(3)的上端面与待测物的凸台面相抵接;所述定位导向筒(2)与所述基础平板(4)垂直设置。
2.如权利要求1所述的凸台面的高度测量装置,其特征在于,所述定位导向筒(2)的长度方向与所述基础平板(4)所在平面垂直。
3.如权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员:董斌超,曹琪,
申请(专利权)人:长春长光精瓷复合材料有限公司,
类型:新型
国别省市:吉林;22
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