一种辅助测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种辅助测量装置，包括测量组件，用于测量待测工件上待测孔的深度，待测孔上设置有导向块，导向块上开设有导向孔，导向孔上连接有测量组件，从而测量组件穿过导向孔插入待测孔内测量待测孔的孔径深度。本实用新型专利技术提供的提供一种辅助测量装置，能够在生产现场测量公差严的孔径深度，其在现场操作人员通过换刀、机床或夹具调整后，不仅能够在第一时间测量孔深数据，而且减少因测量占用的生产时间，降低测量及生产成本，提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】
一种辅助测量装置
本技术涉及机械测量
，特别涉及一种辅助测量装置。
技术介绍
随着机械行业的高速发展，机械零件的样式越来越多，伴随而来的困难也越来越突出。例如公差严的孔径深度测量，当遇到刀具磨损需换刀、机床或夹具调整的问题时，需要操作工人通过测量该尺寸后，再进行相关刀补、机床或夹具的调整作业。但是，由于孔径大、公差小，测量装置与孔配合间隙小，即使对于合格的工件，也会造成测量装置不易放入孔内，即使放入，测量装置容易卡在孔里不易拔出，可能造成工件报废或者检验时间过长造成生产中断，费时费力，对作业人员要求高，不仅浪费时间，还降低生产效率。
技术实现思路
本技术目的在于提供一种辅助测量装置，解决
技术介绍
中提到的测量装置不易放入孔内等技术问题。为实现上述目的，本技术的一种辅助测量装置的具体技术方案如下：一种辅助测量装置，包括测量组件，用于测量待测工件上待测孔的深度，待测孔上设置有导向块，导向块上开设有导向孔，导向孔上连接有测量组件，从而测量组件穿过导向孔插入待测孔内测量待测孔的孔径深度。进一步，测量组件为公差本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辅助测量装置，包括测量组件(2)，用于测量待测工件上待测孔(3)的深度，其特征在于，待测孔(3)上设置有导向块(1)，导向块(1)上开设有导向孔(11)，导向孔(11)上连接有测量组件(2)，从而测量组件(2)穿过导向孔(11)插入待测孔(3)内测量待测孔(3)的孔径深度。/n

【技术特征摘要】
1.一种辅助测量装置，包括测量组件(2)，用于测量待测工件上待测孔(3)的深度，其特征在于，待测孔(3)上设置有导向块(1)，导向块(1)上开设有导向孔(11)，导向孔(11)上连接有测量组件(2)，从而测量组件(2)穿过导向孔(11)插入待测孔(3)内测量待测孔(3)的孔径深度。


2.根据权利要求1所述的辅助测量装置，其特征在于，测量组件(2)为公差测量仪器，包括定位芯轴(21)，定位芯轴(21)下端连接有圆柱段。


3.根据权利要求2所述的辅助测量装置，其特征在于，定位芯轴(21)的底端设置有凸台(22)，凸台(22)连接有圆柱段。


4.根据权利要求3所述的辅助测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈友三，陈常彬，苏伟中，陈智宏，张承东，崔志华，李加付，
申请(专利权)人：天津达祥精密工业有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12