在难以实施跟踪能力的生产现场，使在不同处理步骤处收集的各种数据项相关联。质量控制装置控制制造过程以便制造预定质量的产品，其包括：数据存储模块，收集由布置在制造过程中的多个设备所测量的测量数据，并存储所收集的测量数据连同测量时间或收集时间；以及程序机，考虑在测量时间或收集时间在各测量设备之间产生的空载时间，将各测量设备的测量数据彼此关联。
Quality control device and control method thereof, and recording medium for recording quality control program
At a production site where tracking capabilities are difficult to implement, various data items collected at different processing steps are associated. Quality control device to control the manufacturing process in order to manufacture the predetermined quality products, including: a data storage module, collect measurement data measured by arrangement of a plurality of devices in the manufacturing process, and stores the collected data with the measured time or collected time; and the program, in consideration of dead time in between the measuring equipment in the measurement of time or time of collection, the measurement data of the measuring equipment in association with each other.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于控制制造过程的质量控制装置及其控制方法、质量控制程序以及记录有用于制造预定质量的产品的程序的记录介质。
技术介绍
提高产品质量一直是努力的目标，并提出了各种质量控制方法。例如，为实现跟踪能力，提出了管理方法，其中，将诸如条码的识别码分配给产品的中间产品和放置中间产品的台座。此外，为实现跟踪能力，提出了识别方法，其中，按将投入每个制造过程步骤的中间产品的顺序，识别中间产品。此外，提供了一种方法，其中，完全理解可控制因素和产品特性之间的因果关系以便指定用于获取最佳产品特性的可控制因素。除此之外，提供了一种方法，其中，固定可控制因素的全部条件以便维护产品特性(例如见专利文献2和3)。另外，提供了一种方法，其中提供用于各个产品特性的指标以便由这些指标进行综合评价。此外，提供了一种方法，其中在生产的最后过程步骤中，确定产品特性是否合格，以及当产品被确定为有缺陷时，在制造过程步骤中，调整受控参数(例如见专利文献1)。专利文献1JP-A-7-141005(1995年6月2日公开)专利文献2JP-A-6-110504(1994年4月22日公开)专利文献3JP-A-4-188301(1992年7月6日公开) 非专利文献TAGUCHI Gen′ichi以及YOSHIZAWA Masataka，Hinshitsu Kogaku Koza 1/Kaihatsu-Sekkie Dankai no HinshitsuKogaku，Nihon Kikaku Kyokai，1998然而，在分配用于管理的识别码的方法中，存在增加生产成本的问题。此外，通常次品要被提取出来，要重新制作，并再投入制造过程步骤。因此，按中间产品的顺序识别中间产品的方法不是总能正确地识别中间产品。此外，由于存在许多可控因素，要完全地理解可控因素和产品特性间的因果关系，需要许多验证实验。除此之外，因果关系越复杂，完全理解就越困难。此外，即使固定可控因素的所有条件，因素随时间的不可观察的变化会改变产品特性。此外，在由各个产品特性的指标执行综合评价的方法中，由于产品特性彼此通常具有折衷关系，执行综合评价很困难。除此之外，在生产的最后过程步骤中确定产品特性是否合格的方法中，要继续次品的制作直到最后过程步骤为止，由此增加不必要的生产时间和材料。此外，还增加控制反馈环间的间隔。
技术实现思路
鉴于这些问题，做出了本专利技术。目的在于提供质量控制装置，使在难以执行跟踪能力的生产现场的不同过程步骤中收集的各种数据项彼此关联。为解决该问题，根据本专利技术的质量控制装置是控制制造过程以便制造预定质量的产品的质量控制装置，该装置包括存储模块，收集由布置在制造过程中的多个测量设备测量的测量数据，并存储所收集的测量数据连同测量时间或收集时间；以及关联模块，考虑在测量时间或收集时间在各测量设备之间产生的空载时间，将各测量设备的测量数据彼此关联。由特定设备测量的中间产品，从测量该中间产品开始，大致经过了空载时间之后，再由后续设备来测量。因此，由每个测量设备测量的时间或由每个测量设备收集的时间能大致地由空载时间关联。因此，根据该配置，由于所收集的测量数据与测量时间或收集时间关联，通过在各测量设备之间产生的空载时间，该关联模块大致关联测量时间或收集时间，因此，能使测量设备的测量数据彼此关联。此外，空载时间仅由关联模块使用，并且即使改变空载时间，也不影响在存储模块中存储的数据。因此，能容易改变空载时间。此外，所述关联模块将所述多个测量设备的测量数据中给定数目项彼此关联也是可接受的。在这种情况下，在每个测量设备中形成由测量数据的给定数目的项构成的集合，并使多个测量设备中的集合彼此关联。因此，由于包括在各个所关联的集合中的测量数据项的数量是常数，因此每个集合的统计精确度可以大致匹配。此外，集合是根据测量的数量形成的，而不是基于测量设备所测量的时段，因此，即使例如制造过程中的某一处理步骤停止很长时间然后又启动，也能使各个集合彼此适当地关联。另外优选地，当不适当的测量数据包括在要彼此关联的测量数据中时，所述关联模块停止将不适当的测量数据与由其他测量设备测量的、并且对应于不适当测量数据的测量数据关联。这里，关于不适当测量数据，列举如下测量值为远偏离正常值的异常值的情形，由于失败测量，设备重新测量相同中间产品的情形，在中间检查中确定为规格外的中间产品再投入上游侧的处理步骤的情形，以及在中间检查中确定为规格外的中间产品正好在其检查后被去除的情形。不适当测量数据导致在实施统计过程中精确度的降低。因此，根据该配置，由于不适当测量数据不用于关联，能防止降低统计过程的精确度。此外，当再投入中间产品时，与再投入的中间产品有关，在再投入该中间产品的处理步骤处以及其下游侧上，有测量设备的测量数据，但在再投入该中间产品的处理步骤的上游侧上，没有测量设备的测量数据。因此，优选地，当在制造过程的某一处理步骤中再投入中间产品，所述关联模块停止将与该中间产品有关的、在该处理步骤的上游侧上的测量设备的测量数据同与该中间产品有关的、在该处理步骤处以及其下游侧上的测量设备的测量数据关联。此外，当在其检查后直接去除了该中间产品时，与将去除的该中间产品有关，在去除该中间产品的处理步骤处和其上游侧上，存在测量设备的测量数据，但在去除该中间产品的处理步骤的下游侧上，没有测量设备的测量数据。因此，优选地，当在制造过程的某一处理步骤处去除中间产品时，所述关联模块停止将处理步骤的下游侧上的测量设备的测量数据同与该中间产品有关的、在该处理步骤处以及在其上游侧上的测量设备的测量数据关联。根据本专利技术的质量控制装置是控制制造过程以便制造预定质量的产品的质量控制装置，该装置包括存储模块，收集和存储由中间特性测量设备测量的中间产品的中间特性数据和由最终特性测量设备测量的完成品的最终特性数据；规格界限生成模块，基于在所述存储模块中存储的最终特性的数据分布和设置到所述最终特性测量设备的最终特性规格界限，生成设置到所述中间特性测量设备的中间特性规格界限；以及规格界限设定控制模块，控制所述中间特性测量设备以便设置由所述规格界限生成模块生成的生成规格界限。其中，中间特性测量设备在生产中检查中间产品的中间特性，以及基于中间特性规格界限，确定中间产品是否合格。由于在生产中通过使用中间特性测量设备来去除次品，能消除用于次品的不必要的生产时间并能降低控制反馈环之间的间隔。然后，根据该配置，由于规格界限生成模块基于完成品的最终特性来变更中间特性规格界限，即使改变制造过程中的各个参数，也能自动地调整中间特性规格界限。此外优选地，所述规格界限生成模块基于所述最终特性数据的数据分布的平均值和所述最终特性规格界限之间的差值，生成中间特性规格界限。此外，优选地，所述规格界限生成模块生成中间特性规格界限，以便在所述存储模块中存储的中间特性数据的数据分布的平均值和中间特性规格界限之间的差值相对于所述最终特性数据的数据分布的平均值和最终特性规格界限之间的差值的比率是中间特性数据的数据分布的变化值相对于最终特性数据的数据分布的变化值的比率。其中，数据分布的变化值表示数据分布中的变化程度。例如，可列举出标准偏差(standard deviation)、方差和半宽(half widt本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种质量控制装置，控制制造过程以便制造预定质量的产品，所述装置包括： 存储模块，收集由布置在制造过程中的多个测量设备所测量的测量数据，并存储所收集的测量数据连同测量时间或收集时间；以及 关联模块，考虑在测量时间或收集时间在所述各测量设备间产生的空载时间，将所述多个测量设备的测量数据彼此关联。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：杉原史郎，藤井彻，园峰男，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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