一种半导体制冷片综合测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体制冷片综合测试设备，具体涉及半导体制冷片技术领域，包括综合测试设备本体，所述综合测试设备本体的底部固定连接有若干支撑柱，所述支撑柱的底部固定连接有第一支撑板，所述综合测试设备本体的下方设有矩形环，所述矩形环的顶部开设有若干通孔，所述通孔内设有第一活动柱，所述第一活动柱的底部固定连接有滚轮，所述第一活动柱的外部套设有位于矩形环底部的限位环，所述限位环与第一活动柱固定连接。本实用新型专利技术可以使得滚轮相对综合测试设备本体下移，进而使得滚轮与地面相接触，从而便于对综合测试设备本体进行移动，同时便于对气缸进行拆装，方便后期更换检修。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷片综合测试设备
本技术涉及半导体制冷片
，更具体地说，本技术涉及一种半导体制冷片综合测试设备。
技术介绍
半导体制冷片，也叫热电制冷片，是一种热泵。它的优点是没有滑动部件，应用在一些空间受到限制，可靠性要求高，无制冷剂污染的场合。利用半导体材料的Peltier效应，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以实现制冷的目的。它是一种产生负热阻的制冷技术，其特点是无运动部件，可靠性也比较高。半导体制冷片一般需要在工作台上综合测试，由于半导体制冷片综合测试设备体积较大移动起来很不方便，给使用者的使用造成很大的不便。
技术实现思路
为了克服现有技术的上述缺陷，本技术的实施例提供一种半导体制冷片综合测试设备，通过设置综合测试设备本体、支撑柱、第一支撑板、矩形环、通孔、第一活动柱、限位环、滚轮、连接柱、气缸、推板、第一活动板、连接块、弹性组件和固定组件的配合作用，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体制冷片综合测试设备，包括综合测试设备本体，所述综合测试设备本体的底部固定连接有若干支撑柱，所述支撑柱的底部固定连接有第一支撑板，所述综合测试设备本体的下方设有矩形环，所述矩形环的顶部开设有若干通孔，所述通孔内设有第一活动柱，所述第一活动柱的底部固定连接有滚轮，所述第一活动柱的外部套设有位于矩形环底部的限位环，所述限位环与第一活动柱固定连接，所述第一活动柱与综合测试设备本体通过弹性组件连接，所述矩形环与综合测试设备本体通过驱动组件连接；所述驱动组件包括设置于矩形环内的气缸，所述气缸的底部固定连接有推板，所述推板的底部设有第一活动板，所述第一活动板与矩形环通过若干连接柱连接，所述气缸的顶端与综合测试设备本体通过固定组件连接。在一个优选地实施方式中，所述固定组件包括对称设置于气缸两侧的连接块，所述连接块与气缸固定连接，所述综合测试设备本体的底部开设有第一卡槽，所述第一卡槽内设有第一卡板，所述第一卡板的底部与气缸的顶部固定连接，所述连接块远离气缸的一侧开设有第二卡槽，所述连接块远离气缸的一侧设有第二支撑板，所述第二支撑板与综合测试设备本体固定连接，所述第二支撑板的一侧开设有与第二卡槽相配合的矩形孔，所述第二卡槽内设有第二卡板，所述第二卡板的一端延伸至矩形孔内，且所述第二卡板远离气缸的一侧设有活动组件。在一个优选地实施方式中，所述活动组件包括设置于第二卡板远离气缸一侧的第二活动柱，所述第二活动柱与第二卡板固定连接，所述第二支撑板远离连接块的一侧设有固定板，所述固定板与综合测试设备本体固定连接，所述固定板远离第二支撑板的一侧设有第二活动板，所述第二活动柱的一端贯穿固定板，且所述第二活动柱的一端与第二活动板固定连接，所述第二活动柱的外部套设有位于第二活动板与固定板之间的第一弹簧，所述第一弹簧的两端分别与固定板和第二活动板固定连接。在一个优选地实施方式中，所述第二活动板的下方设有连接板，所述连接板的一侧与固定板固定连接，所述连接板的顶部固定连接有限位板，所述第二活动板远离固定板的一侧固定连接有握把。在一个优选地实施方式中，所述限位板位于第二活动板远离固定板的一侧。在一个优选地实施方式中，所述弹性组件包括开设于第一活动柱顶部的凹槽，所述凹槽内设有第三活动柱，所述第三活动柱的顶部与综合测试设备本体固定连接，所述第三活动柱的底部与凹槽的底部内壁通过第二弹簧连接。在一个优选地实施方式中，所述第一支撑板的底部水平位置低于滚轮的底部水平位置。在一个优选地实施方式中，所述第一支撑板的底部固定连接有防滑垫。本技术的技术效果和优点：1、通过设置综合测试设备本体、支撑柱、第一支撑板、矩形环、通孔、第一活动柱、限位环、滚轮、连接柱、气缸、推板、第一活动板、连接块、弹性组件和固定组件的配合作用，可以使得滚轮相对综合测试设备本体下移，进而使得滚轮与地面相接触，从而便于对综合测试设备本体进行移动，同时便于对气缸进行拆装，方便后期更换检修；2、通过设置的防滑垫，当综合测试设备本体固定安放在指定位置时，减少综合测试设备本体相对地面滑动的可能，增加了稳定性。附图说明图1为本技术的整体结构示意图。图2为本技术的固定组件结构示意图。图3为本技术的弹性组件结构示意图。图4为本技术的固定板结构示意图。附图标记为：1、综合测试设备本体；2、支撑柱；3、第一支撑板；4、矩形环；5、通孔；6、第一活动柱；7、限位环；8、滚轮；9、第一弹簧；10、连接柱；11、气缸；12、推板；13、第一活动板；14、连接块；15、第一卡槽；16、第一卡板；17、第二支撑板；18、第二卡槽；19、矩形孔；20、第二卡板；21、固定板；22、第二活动板；23、第二活动柱；24、第二弹簧；25、连接板；26、限位板；27、握把；28、凹槽；29、第三活动柱。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。如附图1-4所示的一种半导体制冷片综合测试设备，包括综合测试设备本体1，综合测试设备本体1的底部固定连接有若干支撑柱2，支撑柱2的底部固定连接有第一支撑板3，综合测试设备本体1的下方设有矩形环4，矩形环4的顶部开设有若干通孔5，通孔5内设有第一活动柱6，第一活动柱6的底部固定连接有滚轮8，第一活动柱6的外部套设有位于矩形环4底部的限位环7，限位环7与第一活动柱6固定连接，第一活动柱6与综合测试设备本体1通过弹性组件连接，矩形环4与综合测试设备本体1通过驱动组件连接，驱动组件包括设置于矩形环4内的气缸11，气缸11的底部固定连接有推板12，推板12的底部设有第一活动板13，第一活动板13与矩形环4通过若干连接柱10连接，气缸11的顶端与综合测试设备本体1通过固定组件连接。进一步的，固定组件包括对称设置于气缸11两侧的连接块14，连接块14与气缸11固定连接，综合测试设备本体1的底部开设有第一卡槽15，第一卡槽15内设有第一卡板16，第一卡板16的底部与气缸11的顶部固定连接，连接块14远离气缸11的一侧开设有第二卡槽18，连接块14远离气缸11的一侧设有第二支撑板17，第二支撑板17与综合测试设备本体1固定连接，第二支撑板17的一侧开设有与第二卡槽18相配合的矩形孔19，第二卡槽18内设有第二卡板20，第二卡板20的一端延伸至矩形孔19内，且第二卡板20远离气缸11的一侧设有活动组件。进一步的，活动组件包括设置于第二卡板20远离气缸11一侧的第二活动柱23，第二活动柱23与第二卡板20固定连接，第二支撑板17远离连接块14的一侧设有固定板21，固本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：包括综合测试设备本体(1)，所述综合测试设备本体(1)的底部固定连接有若干支撑柱(2)，所述支撑柱(2)的底部固定连接有第一支撑板(3)，所述综合测试设备本体(1)的下方设有矩形环(4)，所述矩形环(4)的顶部开设有若干通孔(5)，所述通孔(5)内设有第一活动柱(6)，所述第一活动柱(6)的底部固定连接有滚轮(8)，所述第一活动柱(6)的外部套设有位于矩形环(4)底部的限位环(7)，所述限位环(7)与第一活动柱(6)固定连接，所述第一活动柱(6)与综合测试设备本体(1)通过弹性组件连接，所述矩形环(4)与综合测试设备本体(1)通过驱动组件连接；/n所述驱动组件包括设置于矩形环(4)内的气缸(11)，所述气缸(11)的底部固定连接有推板(12)，所述推板(12)的底部设有第一活动板(13)，所述第一活动板(13)与矩形环(4)通过若干连接柱(10)连接，所述气缸(11)的顶端与综合测试设备本体(1)通过固定组件连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：包括综合测试设备本体(1)，所述综合测试设备本体(1)的底部固定连接有若干支撑柱(2)，所述支撑柱(2)的底部固定连接有第一支撑板(3)，所述综合测试设备本体(1)的下方设有矩形环(4)，所述矩形环(4)的顶部开设有若干通孔(5)，所述通孔(5)内设有第一活动柱(6)，所述第一活动柱(6)的底部固定连接有滚轮(8)，所述第一活动柱(6)的外部套设有位于矩形环(4)底部的限位环(7)，所述限位环(7)与第一活动柱(6)固定连接，所述第一活动柱(6)与综合测试设备本体(1)通过弹性组件连接，所述矩形环(4)与综合测试设备本体(1)通过驱动组件连接；
所述驱动组件包括设置于矩形环(4)内的气缸(11)，所述气缸(11)的底部固定连接有推板(12)，所述推板(12)的底部设有第一活动板(13)，所述第一活动板(13)与矩形环(4)通过若干连接柱(10)连接，所述气缸(11)的顶端与综合测试设备本体(1)通过固定组件连接。


2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述固定组件包括对称设置于气缸(11)两侧的连接块(14)，所述连接块(14)与气缸(11)固定连接，所述综合测试设备本体(1)的底部开设有第一卡槽(15)，所述第一卡槽(15)内设有第一卡板(16)，所述第一卡板(16)的底部与气缸(11)的顶部固定连接，所述连接块(14)远离气缸(11)的一侧开设有第二卡槽(18)，所述连接块(14)远离气缸(11)的一侧设有第二支撑板(17)，所述第二支撑板(17)与综合测试设备本体(1)固定连接，所述第二支撑板(17)的一侧开设有与第二卡槽(18)相配合的矩形孔(19)，所述第二卡槽(18)内设有第二卡板(20)，所述第二卡板(20)的一端延伸至矩形孔(19)内，且所述第二卡板(20)远离气缸(11)的一侧设有活动组件。


3.根据权利要求2所述的一种半导体制冷片...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈文斌，
申请(专利权)人：江西北冰洋实业有限公司，
类型：新型
国别省市：江西;36