一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置制造方法及图纸

技术编号:27709862 阅读:21 留言:0更新日期:2021-03-17 11:39
本实用新型专利技术公开了IC应力量测领域内的一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置,包括测试基座,测试基座上固定连接有安装座,所述安装座上设置有两个左右对称的测试块,两个测试块相对的一侧均一体设置有竖直的下支撑板,下支撑板的上部水平放置有IC芯片,IC芯片上方对应设置有可升降的施压机构,安全防护组件包括两块分别固定连接在升降座左右两侧的侧挡板,两块侧挡板前部之间竖直设置有前挡板,前挡板与侧挡板相垂直,所述侧挡板和前挡板均为透明板;所述测试基座的下方对应设置有透明的断晶收集箱,断晶收集箱上部设置有开口。本实用新型专利技术避免断晶对人体造成损伤,起到全面安全防护的作用,方便清理及收集。

【技术实现步骤摘要】
一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置
本技术属于IC应力量测领域,特别涉及一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置。
技术介绍
现有技术中,IC芯片是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上,做成一块芯片。而今几乎所有看到的芯片,都可以叫做IC芯片。集成电路是以特定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体。IC制成后需要对其进行应力测试,保证IC芯片达到应力强度要求。目前的IC应力量测机仅仅配备有护目镜作为防护,且未配备断晶收集装置,其不足之处在于:护目镜仅对人体的眼部做防护,无法对工作人员的身体其他部位起到保护,安全防护欠缺全面性;IC应力量测过程中产生的断晶会到处飞溅,断晶的清理及收集费时费力,增加了人员的工作量。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置,可适用于防止IC应力量测过程中产生的断晶飞溅,避免断晶对人体造成损伤,起到全面安全防护的作用,断晶按规定区域掉落,方便清理及收集。本技术的目的是这样实现的:一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置,包括测试基座,测试基座上固定连接有安装座,所述安装座上设置有两个左右对称的测试块,两个测试块相对的一侧均一体设置有竖直的下支撑板,两块下支撑板相互平行设置,两块下支撑板的上部水平放置有IC芯片,IC芯片上方对应设置有可升降的施压机构,所述施压机构包括升降座,升降座下侧设置有安装架,安装架下侧对应IC芯片竖直设置有上压板,所述施压机构上设置有安全防护组件,所述安全防护组件包括两块分别固定连接在升降座左右两侧的侧挡板,两块侧挡板相互平行设置,两块侧挡板前部之间竖直设置有挡在安装架和上压板前面的前挡板,前挡板与侧挡板相垂直,前挡板与测试基座相错开设置,所述侧挡板和前挡板均为透明板;所述测试基座的下方对应设置有透明的断晶收集箱,断晶收集箱上部设置有开口,断晶收集箱包括矩形底板,底板的四周分别设置有竖直的前侧板、后侧板、左侧板和右侧板。本技术工作时,将IC芯片水平放置在两块下支撑板的上部,升降座下降通过上压板对IC芯片施加压力,通过逐渐增大压力以测量IC芯片可以承受的应力范围;上压板下移到靠近IC芯片的位置,对IC芯片施压后断裂会产生断晶,安全防护组件的前挡板和两块侧挡板可以防止断晶飞出击打到工作人员,IC芯片下方的断晶收集箱可以正好收集断晶,断晶按规定区域掉落被收集。与现有技术相比,本技术的有益效果在于:阻断断晶飞溅,避免断晶对人体造成损伤,起到全面安全防护的作用,方便断晶的清理及收集,省时省力。作为本技术的进一步改进,所述测试基座包括水平座体,水平座体下部的左右两侧均设置有支撑座体,每个支撑座体均通过紧固螺丝与水平座体相连接。作为本技术的进一步改进,所述左侧板和右侧板分别靠近对应支撑座体,前侧板和后侧板在水平方向分别位于水平座体的前后两侧。断晶收集箱的开口面积足够大,可以更大面积区域的收集断晶。为了便于安装固定侧挡板,所述升降座的左右两侧均设置有固定块,侧挡板通过至少两个紧固螺丝与对应固定块相连接;侧挡板上贯穿开设有电线穿过槽。通过电线穿过槽来便于电线的布置。作为本技术的进一步改进,所述安装座的前后两侧均设置有下延伸板,下延伸板通过至少两个紧固螺丝与水平座体相连接。通过下延伸板将安装座与水平座体加固连接。作为本技术的进一步改进,所述安装座上横向设置有宽度与测试块相匹配的安装槽,测试块上贯穿开设有可容紧固件穿过的腰形槽,紧固件与安装座固定连接。通过沿腰形槽轴线方向移动测试块,再将紧固件拧紧固定,可以实现调整测试块的安装位置。附图说明图1为本技术的结构示意图。图2为安全防护组件的主视图。图3为安全防护组件的俯视图。图4为侧挡板的结构示意图。图5为本技术的俯视图。其中,1测试基座,1a水平座体,1b支撑座体,2安装座,2a下延伸板,3测试块,3a下支撑板,4升降座,5安装架,6上压板,7侧挡板,8前挡板,9断晶收集箱,9a底板,9b前侧板,9c后侧板,9d左侧板,9e右侧板,10紧固螺丝,11固定块,12电线穿过槽,13安装槽,14紧固件,15腰形槽,16IC芯片。具体实施方式如图1-5所示,为一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置,包括测试基座1,测试基座1上固定连接有安装座2,安装座2上设置有两个左右对称的测试块3,两个测试块3相对的一侧均一体设置有竖直的下支撑板3a,两块下支撑板3a相互平行设置,两块下支撑板3a的上部水平放置有IC芯片16,IC芯片16上方对应设置有可升降的施压机构,所述施压机构包括升降座4,升降座4下侧设置有安装架5,安装架5下侧对应IC芯片竖直设置有上压板6,所述施压机构上设置有安全防护组件,所述安全防护组件包括两块分别固定连接在升降座4左右两侧的侧挡板7,两块侧挡板7相互平行设置,两块侧挡板7前部之间竖直设置有挡在安装架5和上压板6前面的前挡板8,前挡板8与侧挡板7相垂直,前挡板8与测试基座1相错开设置,侧挡板7和前挡板8均为透明板;测试基座1的下方对应设置有透明的断晶收集箱9,断晶收集箱9上部设置有开口,断晶收集箱9包括矩形底板9a,底板9a的四周分别设置有竖直的前侧板9b、后侧板9c、左侧板9d和右侧板9e。测试基座1包括水平座体1a,水平座体1a下部的左右两侧均设置有支撑座体1b,每个支撑座体1b均通过紧固螺丝10与水平座体1a相连接。左侧板9d和右侧板9e分别靠近对应支撑座体1b,前侧板9b和后侧板9c在水平方向分别位于水平座体1a的前后两侧。升降座4的左右两侧均设置有固定块11,侧挡板7通过至少两个紧固螺丝10与对应固定块11相连接;侧挡板7上贯穿开设有电线穿过槽12。安装座2的前后两侧均设置有下延伸板2a,下延伸板2a通过至少两个紧固螺丝10与水平座体1a相连接。安装座2上横向设置有宽度与测试块3相匹配的安装槽13,测试块3上贯穿开设有可容紧固件14穿过的腰形槽15,紧固件14与安装座2固定连接。本技术工作时,将IC芯片16水平放置在两块下支撑板3a的上部,升降座4下降通过上压板6对IC芯片16施加压力,通过逐渐增大压力以测量IC芯片可以承受的应力范围;上压板6下移到靠近IC芯片16的位置,对IC芯片16施压后断裂会产生断晶,安全防护组件的前挡板8和两块侧挡板7可以防止断晶飞出击打到工作人员,IC芯片16下方的断晶收集箱9可以正好收集断晶,断晶按规定区域掉落被收集。本技术的优点在于:阻断断晶飞溅,避免断晶对人体造成损伤,起到全面安全防护的作用,方便断晶的清理及收集,省时省力。本技术并不局限于上述实施例,在本技术公开的技术方案的基础上,本领域的技术人员根据所公开的
技术实现思路
,不需要创造性的劳动就本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置,包括测试基座,测试基座上固定连接有安装座,所述安装座上设置有两个左右对称的测试块,两个测试块相对的一侧均一体设置有竖直的下支撑板,两块下支撑板相互平行设置,两块下支撑板的上部水平放置有IC芯片,IC芯片上方对应设置有可升降的施压机构,其特征在于,所述施压机构包括升降座,升降座下侧设置有安装架,安装架下侧对应IC芯片竖直设置有上压板,所述施压机构上设置有安全防护组件,所述安全防护组件包括两块分别固定连接在升降座左右两侧的侧挡板,两块侧挡板相互平行设置,两块侧挡板前部之间竖直设置有挡在安装架和上压板前面的前挡板,前挡板与侧挡板相垂直,前挡板与测试基座相错开设置,所述侧挡板和前挡板均为透明板;所述测试基座的下方对应设置有透明的断晶收集箱,断晶收集箱上部设置有开口,断晶收集箱包括矩形底板,底板的四周分别设置有竖直的前侧板、后侧板、左侧板和右侧板。/n

【技术特征摘要】
1.一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置,包括测试基座,测试基座上固定连接有安装座,所述安装座上设置有两个左右对称的测试块,两个测试块相对的一侧均一体设置有竖直的下支撑板,两块下支撑板相互平行设置,两块下支撑板的上部水平放置有IC芯片,IC芯片上方对应设置有可升降的施压机构,其特征在于,所述施压机构包括升降座,升降座下侧设置有安装架,安装架下侧对应IC芯片竖直设置有上压板,所述施压机构上设置有安全防护组件,所述安全防护组件包括两块分别固定连接在升降座左右两侧的侧挡板,两块侧挡板相互平行设置,两块侧挡板前部之间竖直设置有挡在安装架和上压板前面的前挡板,前挡板与侧挡板相垂直,前挡板与测试基座相错开设置,所述侧挡板和前挡板均为透明板;所述测试基座的下方对应设置有透明的断晶收集箱,断晶收集箱上部设置有开口,断晶收集箱包括矩形底板,底板的四周分别设置有竖直的前侧板、后侧板、左侧板和右侧板。


2.根据权利要求1所述的一种IC应力量测机安全防护和断晶收集装置,其特征在于,所述测试基座包括水平座体...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄金良高美山姜红涛
申请(专利权)人:江苏汇成光电有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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