参数监测电路、占空比校正电路和阻抗校准电路制造技术

提供了一种参数监测电路、占空比校正电路和阻抗校准电路。所述参数监测电路包括：代码生成电路，被配置为生成被施加了第一偏移的第一代码以及被施加了第二偏移的第二代码；参数调整电路，被配置为通过分别将所述第一代码和所述第二代码应用于当前参数来生成第一参数和第二参数；比较器电路，被配置为生成第一比较结果和第二比较结果，所述第一比较结果指示所述第一参数与参考参数值之间的比较结果，并且所述第二比较结果指示所述第二参数与所述参考参数值之间的比较结果；以及参数误差检测电路，被配置为基于所述第一比较结果和所述第二比较结果来检测所述当前参数的误差。

【技术实现步骤摘要】
参数监测电路、占空比校正电路和阻抗校准电路相关申请的交叉引用本申请要求于2019年9月11日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2019-0113036的权益，其公开内容通过引用全部合并于此。
本专利技术构思的至少一些示例实施例涉及参数监测电路、占空比校正电路和阻抗校准电路，并且更具体地，涉及用于检测参数误差的参数监测电路、用于检测时钟信号中的占空比误差的占空比校正电路、以及用于检测阻抗误差的阻抗校准电路。
技术介绍
在各种设备中，通过基于代码调整或校正参数来将设备操作所需的参数设置为所需值。例如，占空比校正电路通过基于代码调整时钟信号的占空来使时钟信号具有所需的目标占空值，并且阻抗校准电路或ZQ校准电路基于代码形成所需的阻抗值。当参数的值与所需值有很大差异时，会需要检测该差异并再次训练代码。当将参数的值与所需值有很大差异的情况称为参数误差时，需要一种确定参数的误差状况的方法。
技术实现思路
本专利技术构思的至少一些示例实施例提供了一种在参数监测电路、占空比校正电路和阻抗校准电路中无需单独的监测设备的用于检测参数误差的方法和设备。根据本专利技术构思的至少一些示例实施例，一种参数监测电路包括：代码生成电路，被配置为生成被施加了第一偏移的第一代码以及被施加了第二偏移的第二代码；参数调整电路，被配置为通过分别将所述第一代码和所述第二代码应用于当前参数来生成第一参数和第二参数；比较器电路，被配置为生成第一比较结果和第二比较结果，所述第一比较结果指示所述第一参数与参考参数值之间的比较结果，并且所述第二比较结果指示所述第二参数与所述参考参数值之间的比较结果；以及参数误差检测电路，被配置为基于所述第一比较结果和所述第二比较结果来检测所述当前参数的误差。根据本专利技术构思的至少一些示例实施例，提供了一种占空比校正电路，其包括：代码生成电路，被配置为生成被施加了第一偏移的第一代码以及被施加了第二偏移的第二代码；占空比调整电路，被配置为通过使用所述第一代码校正当前时钟信号的占空比来生成第一时钟信号，并通过使用所述第二代码校正所述当前时钟信号的所述占空比来生成第二时钟信号；比较器电路，被配置为生成第一比较结果和第二比较结果，所述第一比较结果指示所述第一时钟信号的第一占空比与目标占空比值之间的比较结果，并且所述第二比较结果指示所述第二时钟信号的第二占空比与所述目标占空比值之间的比较结果；以及占空比误差检测电路，被配置为基于所述第一比较结果和所述第二比较结果来检测所述当前时钟信号的占空比误差。根据本专利技术构思的至少一些示例实施例，提供了一种阻抗校准电路，其包括：第一代码生成电路，被配置为生成被施加了第一偏移的第一上拉代码以及被施加了第二偏移的第二上拉代码；第一上拉驱动器，被配置为通过使用所述第一上拉代码形成第一阻抗，并且通过使用所述第二上拉代码形成第二阻抗；阻抗引脚，所述阻抗引脚连接到所述第一上拉驱动器和外部阻抗；第一比较器电路，被配置为基于所述阻抗引脚的电压与参考电压值生成上拉比较结果；以及阻抗误差检测电路，被配置为基于第一上拉比较结果和第二上拉比较结果检测阻抗误差，所述第一上拉比较结果是基于由所述第一上拉驱动器形成的所述第一阻抗而生成的，并且所述第二上拉比较结果是基于由所述第一上拉驱动器形成的所述第二阻抗而生成的。附图说明通过参考附图详细描述本专利技术构思的示例实施例，本专利技术构思的示例实施例的上述以及其他特征和优点将变得更加明显。附图旨在描绘本专利技术构思的示例实施例，并且不应被解释为限制权利要求的预期范围。除非明确指出，否则附图不应被视为是按比例绘制的。图1示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的参数监测电路；图2示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的参数监测电路的参数监测方法的流程图；图3A示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的将偏移施加到正常参数的状况的概念图；图3B示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的将偏移施加到具有正误差的参数的状况的概念图；图3C示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的将偏移施加到具有负误差的参数的状况的概念图；图4示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的比较器电路；图5示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的参数误差检测电路；图6示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的参数误差检测电路的误差检测方法的流程图；图7示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的参数监测电路的参数监测方法的流程图；图8示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的占空比校正电路；图9示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的占空比校正电路；图10示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的在占空比校正电路中施加偏移的状况的概念图；图11示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的占空比校正电路的占空比误差检测方法的流程图；图12示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的阻抗校准电路；以及图13示出根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的阻抗校准电路的阻抗误差检测方法的流程图。具体实施方式如在本专利技术构思的领域中传统的那样，从功能块、单元和/或模块的角度描述和示出了实施例。本领域技术人员将理解，这些块、单元和/或模块由诸如逻辑电路、分立组件、微处理器、硬连线电路、存储元件、布线连接等、可以使用基于半导体的制造技术或其他制造技术形成的电子(或光学)电路物理地实现。在由微处理器或类似物实现块、单元和/或模块的情况下，可以使用软件(例如，微代码)对它们进行编程以执行本文所讨论的各种功能，并且可以可选地由固件和/或软件来驱动。或者，每个块、单元和/或模块可以由专用硬件来实现，或者可以被实现为执行一些功能的专用硬件和执行其他功能的处理器(例如，一个或更多个被编程的微处理器和相关的电路)的组合。此外，在不脱离本专利技术构思的范围的情况下，实施例的每个块、单元和/或模块可以在物理上被分成两个以上的相互作用且分立的块、单元和/或模块。此外，在不脱离本专利技术构思的范围的情况下，实施例的块、单元和/或模块可以物理地组合成更复杂的块、单元和/或模块。图1示出了根据本专利技术构思的至少一个示例实施例的参数监测电路10。参数监测电路10是用于监测参数的电路，并且可以被实现在用于管理参数的任何设备中。例如，参数监测电路10可以被实现在用于将参数设置为目标参数值、或者调整或校正参数的各种设备中。根据本专利技术构思的至少一个示例实施例，参数监测电路10可以被实现在与基于代码生成的参数有关的设备中实现。根据本专利技术构思的至少一个示例实施例，参数监测电路10可以被实现在占空比校正(DCC)电路中，并且还可以被实现在阻抗校准电路中。将参照图8至图11更详细地描述在占空比校正电路中实现参数监测电路10的实施例，并且将参照图12和图13更详细地描述在阻抗校准电路中实现参数监测电路10的实施例。然而，本专利技术构思的至少一些示例实施例不限于上述实施例。例如，参数监测电路10可以应用于诸如延迟锁定环(DLL)或锁相环(PLL)本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种参数监测电路，包括：/n代码生成电路，被配置为生成被施加了第一偏移的第一代码以及被施加了第二偏移的第二代码；/n参数调整电路，被配置为通过分别将所述第一代码和所述第二代码应用于当前参数来生成第一参数和第二参数；/n比较器电路，被配置为生成第一比较结果和第二比较结果，所述第一比较结果指示所述第一参数与参考参数值之间的比较结果，并且所述第二比较结果指示所述第二参数与所述参考参数值之间的比较结果；以及/n参数误差检测电路，被配置为基于所述第一比较结果和所述第二比较结果来检测所述当前参数的误差。/n

【技术特征摘要】
20190911 KR 10-2019-01130361.一种参数监测电路，包括：
代码生成电路，被配置为生成被施加了第一偏移的第一代码以及被施加了第二偏移的第二代码；
参数调整电路，被配置为通过分别将所述第一代码和所述第二代码应用于当前参数来生成第一参数和第二参数；
比较器电路，被配置为生成第一比较结果和第二比较结果，所述第一比较结果指示所述第一参数与参考参数值之间的比较结果，并且所述第二比较结果指示所述第二参数与所述参考参数值之间的比较结果；以及
参数误差检测电路，被配置为基于所述第一比较结果和所述第二比较结果来检测所述当前参数的误差。


2.根据权利要求1所述的参数监测电路，其中，
所述第一偏移具有正值，并且
所述第二偏移具有负值。


3.根据权利要求2所述的参数监测电路，其中，
所述第一偏移和所述第二偏移具有相同的大小。


4.根据权利要求1所述的参数监测电路，其中，所述比较器电路包括：
比较器，被配置为通过将所述参考参数值与应用了从所述参数调整电路提供的代码的参数进行比较来生成比较结果。


5.根据权利要求1所述的参数监测电路，其中，所述参数误差检测电路包括：
存储器，用于存储所述第一比较结果；以及
第一逻辑电路，被配置为基于所述第一比较结果和所述第二比较结果生成参数误差检测信号，所述第一比较结果被存储在所述存储器中。


6.根据权利要求5所述的参数监测电路，其中，所述第一逻辑电路包括：
异或门电路，被配置为通过使用所述第一比较结果和所述第二比较结果来执行异或操作，并生成所述异或操作的结果值作为所述参数误差检测信号。


7.根据权利要求6所述的参数监测电路，其中，所述第一逻辑电路还被配置为将所述参数误差检测信号作为误差校正引导信号输出到所述参数监测电路的外部，所述误差校正引导信号用于引导对所述当前参数的误差进行校正的操作。


8.根据权利要求7所述的参数监测电路，其中，所述代码生成电路还被配置为接收已经由所述参数监测电路外部的主机基于所述误差校正引导信号再训练后的代码。


9.根据权利要求1所述的参数监测电路，其中，
所述参数误差检测电路还被配置为基于具有正第一偏移量的所述第一偏移和具有负第一偏移量的所述第二偏移，确定所述当前参数是否处于正常状况，
所述代码生成电路还被配置为生成被施加了第三偏移的第三代码以及被施加了第四偏移的第四代码，所述第三偏移具有正第二偏移量，并且所述第四偏移具有负第二偏移量，
所述参数调整电路还被配置为通过分别将所述第三代码和所述第四代码应用于所述当前参数，来生成第三参数和第四参数，
所述比较器电路还被配置为基于所述第三参数生成第三比较结果，并基于所述第四参数生成第四比较结果，并且
所述参数误差检测电路还被配置为基于所述第三比较结果和所述第四比较结果重新检测所述当前参数的误差。


10.根据权利要求1所述的参数监测电路，其中，所述参数监测电路的工作频率为1GHz或更大。


11.一种占空比校正电路，包括：
代码生成电路，被配置为生成被施加了第一偏移的第一代码以及被施加了第二偏移的第二代码；
占空比调整电路，被配置为通过使用所述第一代码校正当前时钟信号的占空比来生成第一时钟信号，并通过使用所述第二代码校正所述当前时钟信号的所述占空比来生成第二时钟信号；
比较器电路，被配置为生成第一比较结果和第二比较结果，所述第一比较结果指示所述第一时钟信号的第一占空比与目标占空比值之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：申东澔，姜景太，李俊夏，金东成，李将雨，任政炖，郑秉勋，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR