粗糙度测试仪制造技术

本发明专利技术提供了粗糙度测试仪，其提高了测量效率和粗糙度测量精度。粗糙度测试仪包括：触针单元，其包括触针和触针位移检测单元，触针以从滑动部的通孔突出和缩回到通孔中的方式设置并且沿着工件的表面进行扫描运动，触针位移检测单元被构造为检测触针的位移；以及驱动单元，其使触针单元在驱动轴线方向上前后移动。粗糙度测试仪还包括高度检测器，其以面向主体容纳部的前端面且使滑动部介于高度检测器与前端面之间的方式设置，并且该高度检测器检测物体在与测量轴线平行的方向上的高度。当高度检测器检测到在测量轴线方向上物体的高度与主体支撑脚的高度相同时，驱动单元自动开始驱动，从而使触针单元对工件表面进行扫描测量。量。量。

【技术实现步骤摘要】
粗糙度测试仪
[0001]相关申请的引用
[0002]本申请基于并要求2019年9月6日提交的日本专利申请No.2019-163447的优先权(优先权DAS代码4B78)，其公开的全部内容通过引用合并于此。


[0003]本专利技术涉及粗糙度测试仪。

技术介绍

[0004]已知粗糙度测试仪为用于测量工件表面的粗糙度的测量机器(例如，JP 3640201 B、JP 3373465 B、JP 3443054 B和JP 3531924 B)。
[0005]粗糙度测试仪包括：触针单元，其包括以能在垂直于工件表面的方向上移位的方式设置的触针；和驱动单元，其使触针单元沿着工件表面前后移动。
[0006]存在便于携带的紧凑型粗糙度测试仪。例如，将紧凑型粗糙度测试仪带到工件所在的位置，并将紧凑型粗糙度测试仪放置于或压于工件的待测量表面，从而在该位置进行工件表面的粗糙度测量。

技术实现思路

[0007]利用上述紧凑型粗糙度测试仪，在将紧凑型粗糙度测试仪设定在测量位置之后，通过操作者按下测量启动钮来开始测量。
[0008]然而，用一只手保持紧凑型粗糙度测试仪并用另一只手按下测量启动钮相当麻烦。
[0009]这是妨碍测量效率提高的原因之一。
[0010]另外，为了准确测量表面粗糙度，需要使触针与工件表面适当垂直接触。操作员被要求确定触针是否与工件表面垂直地接触。
[0011]然而，触针本身非常小并且难以被目视识别，并且这容易取决于操作人员的技能而引起测量误差。<br/>[0012]本专利技术的目的是提供能提高测量效率和粗糙度测量精度的粗糙度测试仪。
[0013]根据本专利技术的实施方式的粗糙度测试仪包括：驱动单元，其包括以利用马达的驱动力在预定的驱动轴线方向上前后移动的方式设置的可动件构件；触针单元，其包括触针和触针位移检测单元，所述触针以从滑动部的通孔突出和缩回到通孔中的方式设置并且沿着工件的表面进行扫描运动，所述触针位移检测单元检测所述触针的位移；联接装置，其用于在所述触针从所述滑动部的通孔突出的方向为第一方向且与所述驱动轴线方向正交的预定轴线为测量轴线时使所述触针单元与所述可动件构件在所述第一方向与所述测量轴线基本上平行的状态下联接；施力装置，其用于在所述第一方向上对所述触针单元施力；主体容纳部，其容纳所述驱动单元和所述触针单元，并允许所述触针单元从前端面突出以与所述驱动轴线方向平行地前后移动；以及高度检测器，其以面向所述主体容纳部的前端面
且使所述滑动部介于所述高度检测器与所述前端面之间的方式设置，并且检测物体在与所述测量轴线平行的方向上的高度，其中，所述主体容纳部具有位于所述主体容纳部的第一方向上的基面，所述基面设置有在测量中要与所述工件的表面接触的主体支撑脚，并且所述驱动单元在所述高度检测器检测到在所述测量轴线方向上所述物体的高度与所述主体支撑脚的高度相同时自动开始驱动，从而使所述触针单元对所述工件的表面进行扫描测量。
[0014]在本专利技术的实施方式中，优选的是设置有联接杆并且所述高度检测器附接到所述联接杆的末端，其中所述联接杆与所述驱动轴线方向平行地从所述主体容纳部延伸。
[0015]在本专利技术的实施方式中，优选的是，所述高度检测器包括要与所述工件接触的检测器支撑脚，在所述测量轴线方向上所述检测器支撑脚的高度与所述主体支撑脚的高度相同。
[0016]根据本专利技术的实施方式的粗糙度测试仪单元包括粗糙度测试仪，所述粗糙度测试仪安装于具有平坦顶面的输送台，其中，所述粗糙度测试仪单元包括多个所述粗糙度测试仪。
[0017]在本专利技术的实施方式中，优选的是，所述多个粗糙度测试仪以各基面面向上的方式安装于所述输送台，并且所述粗糙度测试仪在所述工件以跨在所述高度检测器和所述主体支撑脚上的方式放置时自动开始测量，从而使所述触针单元对所述工件的表面进行扫描测量。
[0018]根据本专利技术的实施方式的粗糙度测试仪包括：驱动单元，其包括以利用马达的驱动力在预定的驱动轴线方向上前后移动的方式设置的可动件构件；触针单元，其包括触针和触针位移检测单元，所述触针以从滑动部的通孔突出和缩回到通孔中的方式设置并且沿着工件的表面进行扫描运动，所述触针位移检测单元检测所述触针的位移；联接装置，其用于在所述触针从所述滑动部的通孔突出的方向为第一方向且与所述驱动轴线方向正交的预定轴线为测量轴线时使所述触针单元与所述可动件构件在所述第一方向与所述测量轴线基本上平行的状态下联接；施力装置，其用于在所述第一方向上对所述触针单元施力；主体容纳部，其容纳所述驱动单元和所述触针单元，并允许所述触针单元从前端面突出以与所述驱动轴线方向平行地前后移动；以及高度检测器，其检测物体在与所述测量轴线平行的方向上的高度，其中，所述驱动单元当所述高度检测器检测到在所述触针与所述工件的表面垂直地接触时所述触针单元的姿势时自动开始驱动，从而使所述触针单元对所述工件的表面进行扫描测量。
附图说明
[0019]图1是粗糙度测试仪的侧视图；
[0020]图2是从Z轴的正侧观察时的粗糙度测试仪的视图；
[0021]图3是粗糙度测试仪的立体图；
[0022]图4是粗糙度测试仪的截面图；
[0023]图5是示出工件与粗糙度测试仪接触的图；
[0024]图6是示出控制单元的功能框图；
[0025]图7是用于说明控制单元的操作的流程图；
[0026]图8是用于说明控制单元的操作的流程图；
[0027]图9是示出粗糙度测试仪的合适使用例的示例的图；
[0028]图10是示出通过粗糙度测试仪测量工件W的顶面的图；并且
[0029]图11是例示第一变型的图。
具体实施方式
[0030]参照附图中元件所附的附图标记来说明和描述本专利技术的实施方式。
[0031](第一示例性实施方式)
[0032]以下说明根据本专利技术的第一示例性实施方式的粗糙度测试仪。
[0033]图1是粗糙度测试仪的侧视图。
[0034]图2是当从Z轴的正侧观察时的粗糙度测试仪的视图。
[0035]图3是粗糙度测试仪的立体图。
[0036]图4是粗糙度测试仪的截面图。
[0037]根据本示例性实施方式的粗糙度测试仪100包括测量主体200、高度检测器300和控制单元400。(在图4和图6中示出控制单元400。)
[0038]测量主体200的构造与已知的粗糙度测试仪的构造基本上相同。
[0039]以下简要说明测量主体200的构造。
[0040]如图4所示，测量主体200包括例如触针单元210、驱动单元250和主体容纳部270。
[0041]触针单元210包括在内部具有空间的壳体220、以能在壳体220中摆动的方式设置的触针杆230以及触针位移检测单元240。
[0042]壳体220包括具有大直径的筒状躯干部221和从躯干部221的末端突出的鼻部222。鼻部222的末端设有滑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种粗糙度测试仪，其包括：驱动单元，其包括以利用马达的驱动力在预定的驱动轴线方向上前后移动的方式设置的可动件构件；触针单元，其包括触针和触针位移检测单元，所述触针以从滑动部的通孔突出和缩回到通孔中的方式设置并且被构造为沿着工件的表面进行扫描运动，所述触针位移检测单元被构造为检测所述触针的位移；联接装置，其用于在所述触针从所述滑动部的通孔突出的方向为第一方向且与所述驱动轴线方向正交的预定轴线为测量轴线时使所述触针单元与所述可动件构件在所述第一方向与所述测量轴线基本上平行的状态下联接；施力装置，其用于在所述第一方向上对所述触针单元施力；主体容纳部，其容纳所述驱动单元和所述触针单元，并允许所述触针单元从前端面突出以与所述驱动轴线方向平行地前后移动；以及高度检测器，其以面向所述主体容纳部的前端面且使所述滑动部介于所述高度检测器与所述前端面之间的方式设置，并且被构造为检测物体在与所述测量轴线平行的方向上的高度，其中，所述主体容纳部具有位于所述主体容纳部的第一方向上的基面，所述基面设置有在测量中要与所述工件的表面接触的主体支撑脚，并且所述驱动单元被构造为在所述高度检测器检测到在所述测量轴线方向上所述物体的高度与所述主体支撑脚的高度相同时自动开始驱动，从而使所述触针单元对所述工件的表面进行扫描测量。2.根据权利要求1所述的粗糙度测试仪，其特征在于，所述粗糙度测试仪还包括联接杆，所述联接杆与所述驱动轴线方向平行地从所述主体容纳部延伸，其中，所述高度检测器附接到所述联接杆的末端。3.根据权利要求1所述的粗糙度测试仪，其特征在于，所述高度检测器包括要与所述工件接触的检测器支撑脚，在所述测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：和泉直树，
申请(专利权)人：株式会社三丰，
类型：发明
国别省市：