能够可拆卸地联接到成像设备主体上的部件与成像设备制造技术

本发明专利技术涉及一种能被可拆卸地联接到成象设备主体上的部件，它具有用来显影被承载在图像载体上的潜像的显影装置，和用于贮存已从所述显影装置最后的显影操作中消逝的时间的记忆装置。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及诸如静电复印机、传真机和打印机的成象设备以及能被可拆卸地联接到成象设备主体上的部件。在适于静电复印机的成象设备中，通常已知有一种防止图象密度随各种条件(例如成象设备的使用环境和印刷次数的变化)而有巨大变化的这样的成象设备，每当进行预定数目成张纸的成像时，密度检测用的显影剂图像〔在下文中被称为膜片(patch)〕总是被形成在作为潜像载体的感光鼓上，膜片的显影剂密度是通过光学传感器等来检测的，并且检测到的显影剂密度被反馈给成像条件诸如显影处理条件的中显影偏压，因此进行图象密度控制使图象密度被保持在预定密度水平上。在前述的图象密度控制中，首先，当开始图象密度控制时，作为调整手段而被设置在成象设备中的图象密度控制电路引起图形产生电路产生表示密度检测膜片的图像信号，并且基于此信号，沿着旋转方向在感光鼓上形成n个膜片P1～Pn的潜像。随后，通过作为显影手段的显影装置将潜像显影。同时，高电压控制电路变化每一膜片的显影偏压(VDC)，以致随着显影偏压V1～Vn的变化使膜片P1～Pn分别被显影。被形成在感光鼓上的膜片P1～Pn的密度D1～Dn是由密度传感器分别测量的。在密度检测用的膜片的潜像是通过不同的显影偏压(VDC)来显影的情况中，显影偏压(VDC)与膜片的密度(O.D.)之间的关系(V-D特性曲线)成为如图4所示的那样的曲线。如图4中所见，V-D特性曲线是由其中特性变化很小的A部份与C部份和其中特性变化很大的B部份组成的。此V-D特性曲线还通过成象设备所安装的环境条件来变化。例如，获得如在图5中所示那样的特性曲线。在图5中，特性曲线a与图4的特性曲线a相同，特性曲线b是在高温与高湿度环境下的特性曲线，而特性曲线c是在低温与低湿度环境下的特性曲线。如在图4中所示，在V-D特性曲线中，密度变化在A部份与C部份是不稳定的，而密度变化在B部份是稳定增加的。因此，如图5中所示，在图像密度控制时，控制目标密度D目标被设定在B部份，而显影偏压V1～Vn是这样来设定的以致使相应膜片的密度D1～Dn成为D1＜D2＜...＜Di＜Di+1＜...＜Dn，而且控制目标密度D目标几乎处于密度D1～Dn的中部。显影偏压V1～Vn的值是这样来设定的，以致即使V-D特性曲线轻微变化且密度值D1～Dn变化时，控制目标密度D目标仍处于密度D1～Dn范围内，而且图中所示的显影偏压Vi与显影偏压Vi+1之间的间隔w被设定为约50V。如上所述，由于V-D特性曲线是受环境影响而有巨大的变化的，因此当显影偏压V1～Vn的值被固定时，图5中所示的特性曲线b和特性曲线c同样地被固定，控制目标密度D目标由密度D1～Dn的范围偏移。然后，显影偏压V1～Vn也根据每一环境情况而变化，以使控制目标密度D目标几乎处于密度D1～Dn的中部。例如，如图6中所示，在高温高湿度环境下，显影偏压V1～V4被用来进行图像密度控制。当开始图像密度控制时，在显影偏压V1～Vn中，根据被装在成象设备中的温度和湿度传感器计算出成象设备中的绝对湿度值来选出该时的一些适用图像密度控制的显影偏压。通过使用由密度传感器测量的相应膜片的密度D1～Dn和在形成相应膜片时的显影偏压V1～Vn，在图像密度控制电路中计算出用来获得控制目标密度D目标的显影偏压V目标最佳值。计算最佳显影偏压V目标的方法是这样的，首先，在密度D1～Dn中寻找出包含控制目标密度D目标的间隔，即，寻找出能建立Di≤D目标≤Di+1的间隔(i～i+1)。在找到这样间隔的情况下，使用基于等式1的线性内插法来计算为获得D目标的显影偏压V目标。(等式1)V目标＝{(Vi+1-Vi)/(Di+1-Di)}×(D目标-Di)+Vi最佳显影偏压V目标是用上述等式计算的。此显影偏压V目标被保存在记忆装置中，而成像是通过使用此值直至进行下一个图像密度控制时为止来进行的。然而，在这样的成象设备中，V-D特性曲线不仅受成象设备安装的环境影响而变化，而且还受到成象设备驱动状态的不同而变化。例如，类似于图7中所示的特性曲线c，在长的静止状态后显影剂的电荷量被暂时性地降低，以致使V-D特性曲线偏移到低密度一侧。因此，存在一种担心，即，担心控制目标密度D目标从密度D1～Dn范围偏移和出现误差。如果通过增加各种条件例如显影装置寿命的降低，V-D特性曲线被进一步偏移的话，发生误差的可能性就会进一步的增加。在出现误差的情况中，必须进行一种这样的过程以选择先前被作为显影偏压值V目标设定的欠缺的显影偏压。例如，欠缺的显影偏压是作为V1和Vn之间的一个这样的中间值，如果D目标＜D1的话它等于V1，或者如果Dn＜D目标的话它等于Vn。在此情况下，仅能保证最低限度的图像，而且不能获得具有稳定密度的图像。为了将这样的状态抑制到极限，可以考虑使用一种这样的方法来扩宽相应显影偏压V1～Vn之间的间隔W，或者是增加膜片的数目以扩宽能被控制的显影偏压的范围。然而，存在的问题是在扩宽显影偏压间的间隔的方法中线性内插的误差变得更大，或者是在增加膜片数目的方法中使被消耗的显影剂的量变大。静止之后显影剂电荷量的减少与V-D曲线的偏移是暂时性的，且当成像过程重新开始时，它们很快恢复到稳定状态。于是，随着电荷量的恢复，基于在静止后马上进行图像密度控制时的V-D曲线暂时偏移确定的V目标成为不合适的值，从而不可能获得具有稳定密度的图像。为了将这样的状态抑制到极限，可以考虑使用一种这样的方法，即，将图像密度控制的执行间隔设定为很短，以致在电荷量的恢复过程之后得到合适的V目标。然而，这会导致频繁地进行图像密度控制，结果使显影剂的消耗变大而成为一个问题。本专利技术的目的是提供一种能被可拆卸地联接到成象设备主体上并能获得具有稳定的显影剂密度的部件，以及成象设备。本专利技术的另一个目的是提供一种显影装置与一种成象设备，由于在静止状态后其中电荷量已变得很小之故，它们能够快速地随显影处理条件与成像处理条件的变化进行复印，从而能够在不挥霍性地消耗显影剂的情况下获得具有稳定的显影剂密度的图像。本专利技术的再一个目的是提供一种能被可拆卸地联接到成象设备主体上的部件，它包括用来显影被承载在图像承载体上的潜像的显影装置和贮存已从显影装置的最后显影作业中消逝的时间的记忆装置。本专利技术的还有的另一个目的是提供一种成象设备，它包括承载潜像用的图像承载体、用来显影被承载在图像承载体上的潜像的显影装置，和贮存已从显影装置的最后显影作业中消逝的时间的记忆装置。通过阅读下面的详细说明书并参考附图，本专利技术的除了上述目的以外的其他目的与本专利技术的特征将会变得更清楚。附图说明图1为表示本专利技术第一种实施例的成象设备结构的示意剖面图；图2为表示用来解释本专利技术第三实施例的图像密度控制方法的显影偏压与图像密度关系的曲线图；图3为表示用来解释本专利技术第四实施例的图像密度控制方法的显影偏压与图像密度关系的曲线图；图4为表示显影偏压与膜片密度之间关系的V-D特性曲线图；图5为表示在相应环境下的V-D特性和显影偏压与图像密度之间关系的曲线图，用来解释确定用于图像密度控制的显影偏压的方法；图6为表示显影偏压与图像密度之间关系的曲线图，用来解释在高温高温度环境下确定用于图像密度控制的显影偏压的方法；图7为表示在静止后马上得到的V-D特性与正常的V-D本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种能被可拆卸地联接到成象设备主体上的部件，包括： 显影被承载在图像承载体上的潜像用的显影装置；和 贮存已从所述显影装置最后的显影操作中消逝的时间用的记忆装置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：中川刚，星加令久，小林哲也，齐藤益朗，桥本和则，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]