一种具有防尘功能的集成电路测试仪器的应用制造技术

本发明专利技术公开了一种具有防尘功能的集成电路测试仪器的应用；在测试仪器使用完成后，将防尘盖盖在仪器主体上，通过防尘盖对仪器主体进行防尘，避免灰尘附着在控制面板与检测连接头上，便于对测试仪器进行防尘处理；在对测试仪器进行收纳时，将测试仪器安装在固定架上，固定架固定在墙壁上，使测试仪器能够挂在墙壁上，节省空间，便于对测试仪器进行收纳；设置有转动杆，当连接架与固定杆分离后，第一弹簧推动挡板向上推动，挡板带动连接杆与转动杆向上移动，使转动杆能够完全移出连接杆槽的内部，使防尘盖通过转动杆与连接杆产生转动，便于将防尘盖打开。防尘盖打开。防尘盖打开。

【技术实现步骤摘要】
一种具有防尘功能的集成电路测试仪器的应用


[0001]本专利技术涉及集成电路测试仪
，具体为一种具有防尘功能的集成电路测试仪器的应用。

技术介绍

[0002]集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一，集成电路测试技术是发展集成电路产业集成电路产业的三大支撑技术之一。
[0003]目前的集成电路测试仪器虽然种类和数量非常多，但现有的集成电路测试仪器仍存在了一定的问题，对集成电路测试仪器的使用带来一定的不便。
[0004]现有的集成电路测试仪器在放置时，仪器表面容易附着上大量的灰尘，仪器表面凹凸不平，不便对仪器灰尘进行清理，且测试仪器收纳会占用空间，不便使用，因此迫切需要能改进集成电路测试仪器结构的技术，来完善此装置。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种具有防尘功能的集成电路测试仪器的应用，以解决上述
技术介绍
提出的目前的集成电路测试仪器在放置时，仪器表面容易附着上大量的灰尘，仪器表面凹凸不平，不便对仪器灰尘进行清理，且测试仪器收纳会本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有防尘功能的集成电路测试仪器的应用，包括墙壁（1）、仪器主体（3）、第一弹簧（8）和第二弹簧（14），所述墙壁（1）的一侧固定有固定架（2），所述仪器主体（3）位于固定架（2）远离墙壁（1）的一侧，其中，所述仪器主体（3）靠近固定架（2）的一侧四角固定有支脚（4），所述仪器主体（3）远离支脚（4）的一侧设置有防尘盖（5），所述仪器主体（3）靠近防尘盖（5）的较短一边两侧开设有挡板槽（6），所述仪器主体（3）靠近挡板槽（6）的顶部开设有连接杆槽（7），所述连接杆槽（7）与挡板槽（6）相连通；所述第一弹簧（8）固定在挡板槽（6）的底部，所述第一弹簧（8）的顶部固定有挡板（9），所述挡板（9）远离第一弹簧（8）的一侧固定有连接杆（10），所述连接杆（10）远离挡板（9）的一侧转动连接有转动杆（11），所述转动杆（11）远离连接杆（10）的一端与防尘盖（5）固定连接，所述仪器主体（3）靠近防尘盖（5）的较短另一边两侧开设有弹簧槽（12）；所述防尘盖（5）靠近弹簧槽（12）的一侧固定有顶杆（13），所述第二弹簧（14）固定在弹簧槽（12）的内部，所述仪器主体（3）远离挡板槽（6）的一侧中部转动连接有连接架（15），所述防尘盖（5）远离转动杆（11）的一侧中部固定有固定杆（16），所述连接架（15）靠近固定杆（16）的一侧开设有固定槽（17）；所述固定架（2）靠近仪器主体（3）的四角开设有开口槽（18），所述固定架（2）靠近开口槽（18）的一侧开设有支脚槽（19），所述固定架（2）靠近仪器主体（3）一侧中部固定有卡块（20），所述仪器主体（3）靠近卡块（20）的一侧开设有卡槽（21）；在使用该具有防尘功能的集成电路测试仪器的应用时，首先，需要使用仪器主体3时，将仪器主体3放置在平面上，旋转第二支杆402，第二支杆402带动螺杆404转动，使螺杆404与第一支杆401产生相对移动，调节支脚4的高度，使仪器主体3保持平稳，避免仪器主体3产生晃动，之后使连接架15与固定杆16分离，第一弹簧8推动挡板9向上推动，挡板9带动连接杆10与转动杆11向上移动，使转动杆11能够完全移出连接杆槽7的内部，同时第二弹簧14推动顶杆13移出弹簧槽12的内部，使防尘盖5通过转动杆11与连接杆10产生转动，便于将防尘盖5打开，对集成电路进行测试，测试完成后，闭合防尘盖5，之后按压防尘盖5，使顶杆13进入弹簧槽12的内部，使第二弹簧14压缩，同时使转动杆11进入连接杆槽7的内部，避免转动杆11继续转动，使防尘盖5与仪器主体3贴紧，之后使连接架15转动，连接架15向固定杆16转动，使固定杆16进入固定槽17的内部，同时使第二弹簧14对防尘盖5产生推动，使固定杆16抵住固定槽17的顶部，避免固定杆16轻易移出固定槽17的内部，便...

【专利技术属性】
技术研发人员：王慧芳，
申请(专利权)人：深圳市凯合达智能设备有限公司，
类型：发明
国别省市：