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本发明公开了一种具有防尘功能的集成电路测试仪器的应用；在测试仪器使用完成后，将防尘盖盖在仪器主体上，通过防尘盖对仪器主体进行防尘，避免灰尘附着在控制面板与检测连接头上，便于对测试仪器进行防尘处理；在对测试仪器进行收纳时，将测试仪器安装在固定...
该专利属于深圳市凯合达智能设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市凯合达智能设备有限公司授权不得商用。

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