一种基于光衰减法激光料位计制造技术

本实用新型专利技术属于容积指示技术领域，尤其涉及一种基于光衰减法激光料位计，包括激光发射装置和光电探测器接收装置，激光发射装置与光电探测器接收装置均设置在料仓的侧壁，激光发射装置与光电探测器接收装置为相对设置并位于同一水平面；激光发射装置发出激光，经被测物料时被物料吸收发生衰减，衰减后的激光被光电探测器接收装置接收，根据激光衰减程度判断物料的上限程度。本实用新型专利技术满足不同环境的料仓测量需求，既能测量腐蚀性物料，又能测量不规则物料，能够连续的测量各种物料的料位，耐高温高压，可穿透灰尘，适用于各种工况，甚至防爆场合。爆场合。爆场合。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光衰减法激光料位计


[0001]本技术属于容积指示
，尤其涉及一种基于光衰减法激光料位计。

技术介绍

[0002]现有的较常用的接触式测量的料位计是阻旋式料位计，这种料位计是利用介质阻挡其测量挡板正常转动从而输出报警信号的一种机械式料位计，阻旋式料位计结构简单，主要包括驱动电机、控制电路、密封转动轴、测量挡板四部分组成。接通电源后，驱动电机带动测量挡板开始转动，当没有物料阻挡挡板转动时，驱动开关保持闭合，电机得点转动；当有物料阻止挡板转动时，电机失电停止转动，发出报警信号。
[0003]常用的非接触式测量料位计是超声波料位计和雷达料位计，超声波料位计工作原理是由超声波探头发出高频超声脉冲遇到被测介质表面被反射回来，部分反射回波被接受探测器接收，转换成电信号，主要用于液体测量。雷达料位计测量原理是利用电磁波的特殊性能对料仓内的料位进行测量，主要元件为发射装置和探测装置，基本原理跟超声波测量原理类似，发射装置发射出一种特殊性质的电磁波，遇到被测介质，电磁波反射回来，被探测装置接受，接受信号转化成电信号，主要应用料面规则，粉尘较小的物料测量。
[0004]阻旋式料位计测量，是接触式测量方式，对物料的要求比较高，不能测量带有腐蚀性物料；由于阻旋部分要与物料长期接触，难免会造成机械损耗或损坏的情况，维修费用较高。对应用于上方进料的料仓内测量时，料仓进料是，会触碰到阻旋器，非常容易产生虚假信号。
[0005]超声波料位计和雷达料位计的基本原理相似，都是发射端发出信号，接受端接受信号的非接触式测量，超声波料位计主要是对液体料位进行测量，并且要求测量环境无噪音干扰，测量温度小于150℃。这就限制了超声波料位计的应用场所。雷达料位计测量时，要求被测物料的料面要规则，否则会引起较大误差，对于环境要求也比较高，雷达测量要在粉尘浓度小的环境中测量，因为雷达天线上附着大量灰尘，会造成测量装置不准，频繁的人工擦拭，也会对人员安全造成影响。
[0006]传统的激光料位计利用光反射原理，探测器和接收端安装在同一侧，安装在料仓的顶端，属于单点测量方式，经过物料反射光到接收端进行大量的计算来确定物料的位置，物料的材质也会影响光的反射率，对测量结果产生影响。
[0007]为此，我们提出一种基于光衰减法激光料位计。

技术实现思路

[0008]基于上述问题，本技术提供了一种光衰减法激光料位计，目的在于满足不同环境的测量需求，既能测量腐蚀性物料，又能测量不规则物料，能够连续的测量各种物料的料位，耐高温高压，可穿透灰尘，适用于各种工况，甚至防爆场合。
[0009]为实现上述目的，本技术采用的技术方案为：
[0010]一种基于光衰减法激光料位计，包括激光发射装置和光电探测器接收装置，激光
发射装置与光电探测器接收装置均设置在料仓的侧壁，激光发射装置与光电探测器接收装置为相对设置并位于同一水平面；
[0011]激光发射装置发出激光，经被测物料时被物料吸收发生衰减，衰减后的激光被光电探测器接收装置接收，根据激光衰减程度判断物料的上限程度。
[0012]进一步地，激光发射装置包括第一机壳，第一机壳的内部设有第一底座，第一底座的上端设有激光驱动电路模块和激光探头，激光驱动电路模块通过激光传输线与激光探头连接，激光探头设有第一探头支架作为支撑，激光探头发射路径上依次设有透镜、第一玻片；
[0013]进一步地，光电探测器接收装置包括第二机壳，第二机壳的内部设有第二底座，第二底座上设有光电转换模板和光电探测器，光电转换模板通过光电传输线连接光电探测器，光电探测器设有第二探头支架作为支撑，光电探测器的接收路径上依次设有第二玻片、聚焦镜；
[0014]进一步地，第一机壳与第二机壳离料仓最远的一面均设有防爆壳。
[0015]进一步地，第一机壳与第二机壳均通过法兰与料仓连接。
[0016]进一步地，第一机壳与第二机壳离料仓最近的一面均设有绝缘密封垫圈。
[0017]进一步地，第一机壳与第二机壳连接料仓处均设有反吹口。
[0018]进一步地，激光探头为红光半导体机关器。
[0019]进一步地，第一机壳与第二机壳上均设有开孔，开孔用于连接电源与信号器。
[0020]与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：
[0021]本技术通过在料仓的侧壁相对设置激光发射装置和光电探测器接收装置，激光发射装置和光电探测器接收装置位于同一水平面，采用对点接收的安装方式，安装在料仓料位高限或者底线的位置，激光发射装置的激光探头发出激光直接照射到被测物料上，如果超过限制，物料就会吸收激光光源，使光发生衰减，接收端直接接收衰减的光源信号，不存在接收不到信号的情况，接收到的信号通过光电转换后的电信号就能直接判断是否超过测量限制，不需要经过经过大量计算得出结果。避免了传统的激光料位计探测器和接收端安装在料仓的顶端的同一侧的单点测量方式，具有结构简单，灵敏度高、成本低，使用寿命长等优点。
[0022]本技术在激光发射装置和光电探测器接收装置的第一机壳和第二机壳与料仓的连接处分别设有绝缘密封垫圈保证机壳的密封性防止灰尘进入。第一机壳和第二机壳的内部分别设有第一探头支架和第二探头支架，用于调整激光探头和光电探测器的高度，使两者保持在同一水平线的位置。第一机壳与第二机壳连接料仓处均设有反吹口，定期对窗口进行吹灰处理，防止其影响测量准确度。激光探头选取红光半导体激光器，它具有效率高、寿命长、体积小、重量轻且价格低等优点。
附图说明
[0023]图1为基于光衰减法激光料位计的结构示意图；
[0024]图2为基于光衰减法激光料位计的激光发射装置结构示意图；
[0025]图3为基于光衰减法激光料位计的光电探测器接收装置结构示意图；
[0026]其中：1-料仓；2-激光发射装置；21-第一机壳；22-第一底座；23-第一探头支架；
24-第一玻片；3-光电探测器接收装置；31-第二机壳；32-第二底座；33-第二探头支架；34-第二玻片；4-激光驱动电路模块；5-激光探头；6-激光传输线；7-光电转换模板；8-光电探测器；9-光电传输线；10-聚焦镜；11-防爆壳；12-法兰；13-绝缘密封垫圈；14-反吹口；15-开孔；16-透镜。
具体实施方式
[0027]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0028]如图1所示，一种基于光衰减法激光料位计，其特征在于：包括激光发射装置2和光电探测器接收装置3，激光发射装置2与光电探测器接收装置3均设置在料仓1的侧壁，所述激光发射装置2与光电探测器接收装置3为相对设置并位于同一水平面。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光衰减法激光料位计，其特征在于：包括激光发射装置(2)和光电探测器接收装置(3)，所述激光发射装置(2)与光电探测器接收装置(3)均设置在料仓(1)的侧壁，所述激光发射装置(2)与光电探测器接收装置(3)为相对设置并位于同一水平面；所述激光发射装置(2)发出激光，经被测物料时被物料吸收发生衰减，衰减后的激光被光电探测器接收装置(3)接收，根据激光衰减程度判断物料的上限程度。2.根据权利要求1所述的基于光衰减法激光料位计，其特征在于：所述激光发射装置(2)包括第一机壳(21)，所述第一机壳(21)的内部设有第一底座(22)，所述第一底座(22)的上端设有激光驱动电路模块(4)和激光探头(5)，所述激光驱动电路模块(4)通过激光传输线(6)与所述激光探头(5)连接，所述激光探头(5)设有第一探头支架(23)作为支撑，所述激光探头(5)发射路径上依次设有透镜(16)、第一玻片(24)。3.根据权利要求2所述的基于光衰减法激光料位计，其特征在于：所述光电探测器接收装置(3)包括第二机壳(31)，所述第二机壳(31)的内部设有第二底座(32)，所述第二底座(32)上设有光电转换模板(7)和光电探测器(8)，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张召鹏，赵鑫，索东楠，
申请(专利权)人：大唐东北电力试验研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：