投影机的检查辅助装置制造方法及图纸

提供一种投影机检查用的检查辅助装置，它能够响应于市场需求迅速地配备，且增设成本低廉，而且能够减少用于配备的空间。该检查辅助装置（８）具有暗室（１０）和用于配置投影机（１００）的检查用架台（３０），根据上述投影机相对于屏幕（５０）投射出投射光以形成像所需的必要距离，对暗室（１０）的作业用开口和屏幕配置部的距离进行规定，投影机（１００）的投射光所不通过的区域被规定为配置检查用架台（３０）的一部分的检查用架台配置区域。

【技术实现步骤摘要】
投影机的检查辅助装置
本专利技术涉及一种在投影机的检查中使用的检查辅助装置。
技术介绍
一直以来，对从投影机投影到屏幕上的投射像进行观测，进行投影机内部部件的位置是否适合的检查。在这种检查中，例如存在灰度检查、色相不均性检查、用于光轴调整的检查等。为了确保这些检查的精度，在能够遮断由来自外部的光引起的干扰的暗室内进行这种检查。由所述暗室和载置投影机的检查用架台(也称作作业机)构成检查辅助装置。这种检查辅助装置由于在进行多种检查的每个工序中是必不可少的，所以对应于检查的种类而需要多个。因而，在投影机制造工厂，存在需要用于检查辅助装置的大空间的问题。针对此种情况，提出一种包括聚焦透镜、透过型屏幕、CCD照相机的小型检查辅助装置(例如专利文献1)。专利文献1：特开2004-4562号公报(参考：中国公开号CN1447185A)为了响应目前急剧变化的市场需求，有时需要迅速增设生产线。此时，也存在需要增设投影机检查用的检查辅助装置的情况。但是在上述技术中，例如必须供应聚焦透镜、透过型屏幕、CCD照相机这些部件，存在不能迅速增设检查辅助装置的情况。而且存在用于增设多个检查辅助装置的聚焦透镜等部件的供应成本过大的情况。
技术实现思路
-->本专利技术的目的是提供一种投影机检查用的检查辅助装置，即能够对应于市场需求迅速配备，且增设成本低廉，而且能够减少用于配备的空间的检查辅助装置。上述目的通过根据第1专利技术的检查辅助装置来实现。该检查辅助装置具有暗室和用于配置投影机的检查用架台，其特征在于：上述暗室具有配置屏幕的屏幕配置部、与上述屏幕配置部相对的作业用开口、设置于上述作业用开口的遮光帘、侧壁部、底部和顶部，其中，上述作业用开口和上述屏幕配置部的距离，根据上述投影机对上述屏幕投射出投射光以形成像所需的必要距离而规定；上述投影机的投射光不通过的区域被规定为配置上述检查用架台的一部分的检查用架台配置区域；上述遮光帘具有用于使来自上述投影机的投射光通过的入射用开口；上述检查用架台具有被规定为不容纳在上述暗室内部的部分的、配置上述投影机的投影机配置部；上述投影机配置部，在配置上述投影机时，被规定为上述投影机的投射透镜与上述遮光帘的上述入射用开口对应的位置。根据第1专利技术的结构，根据上述投影机相对于上述屏幕投射出投射光以形成像所需的必要距离，来规定上述作业用开口和上述屏幕配置部的距离。这意味着为了进行上述检查而确保所需的充分距离，同时沿纵深方向消除了无用空间。而且，上述投影机的投射光所不通过的区域被规定为配置上述检查用架台的一部分的检查用架台配置区域。因而，能够有效利用上述暗室内的空间，同时能够减少用于配备上述检查辅助装置的空间。此外，上述检查用架台具有被规定为不容纳在上述暗室内部的部分的、配置上述投影机的投影机配置部。上述投影机配置部，在配置上述投影机时，被规定为上述投影机的投射透镜与上述遮光帘的上述入射用开口对应的位置。因而在将上述投影机配置在上述暗室外时，能够仅使来自上述投影机的投射光入射到上述暗室内。而且检查操作者能够在上述暗室外进行检查作业。上述检查辅助装置仅通过规定其大小和形状就可构成，没有必要供应-->聚焦透镜、透过型屏幕、CCD照相机等部件，从而能够响应于市场需求迅速地配备，而且增设成本低廉。因而，上述检查辅助装置能够响应于市场需求迅速地配备，且增设成本低廉，而且能够减少用于配备的空间。第2专利技术的检查辅助装置的特征在于：在第1专利技术的结构中，上述检查用架台具有配置比较大的与检查相关的机器的、纵深方向长的下部区域，上述下部区域的一部分配置在上述检查用架台配置区域。。根据第2专利技术的结构，由于上述下部区域的一部分设置在上述检查用架台配置区域，能够减少用于配置上述检查辅助装置的空间。第3专利技术的检查辅助装置的特征在于：在第2专利技术的结构中，在配置于上述检查用架台配置区域的上述下部区域，设置有防止光的反射的反射防止单元。根据第3专利技术的结构，例如能够防止来自上述屏幕的反射光反射到配置在上述检查用架台配置区域的上述下部区域并且再到达上述屏幕。因而，能够防止来自上述下部区域的反射光成为检查的障碍。第4专利技术的检查辅助装置的特征在于：在第1专利技术的结构中，用于防止光的反射的遮光板配置在上述投影机配置部，上述遮光板具有使从上述投射透镜投射出的投射光通过的入射孔。根据第4专利技术的结构，由于上述检查辅助装置具有上述遮光板，能够防止不需要的光成为检查的障碍，同时能够使来自上述投射透镜的投射光入射到上述暗室内。附图说明图1是示出根据本专利技术的实施例的检查装置的简略侧视图；图2是示出暗室的简略透视图；图3是示出作业机的简略视图；图4是示出作业机的简略视图；图5是示出投影机的大致外观的一个示例的简略透视图；-->图6是构成投影机的光学单元4的主要部件的简略视图。符号说明8...检查装置；10...暗室；12...作业用开口；14...底部；16...屏幕配置壁；18A、18B...侧壁；20...顶板；50...屏幕；100...投射机；100b...投射透镜具体实施方式下文将参照附图对本专利技术的优选实施例进行详细说明。而且，因为将在下文说明的实施例是本专利技术的优选具体示例，虽然在技术上进行了优选的各种限定，但是，只要在下文说明中没有特别地对本专利技术进行限定的情况的记载，本专利技术的范围就不局限于这些实施例。(实施例)图1是示出根据本专利技术的实施例的检查装置8的简略侧视图。检查装置8是在后面所述的投影机100(参照图5)的检查中使用的检查装置。检查装置8是检查辅助装置的一个示例。图2是示出暗室10的简略透视图。暗室10是暗室的一个示例。图3是示出作业机30等的简略视图。作业机30是作业用架台的一个示例。投影机100配置在作业机30中。图4是示出作业机30等的简略视图。在检查装置8中，对从投影机100投射到屏幕50上的投射像进行观测，进行投影机100内部的部件位置是否适合的检查。在这种检查中，例如存在灰度检查、色相不均性检查、用于光轴调整的检查等。(投影机100的结构)图5是示出检查装置8中成为检查对象的投影机100的大致外观一个示例的简略透视图。图6是示出构成投影机100的光学单元4的主要部件的简略视图。首先对投影机100的结构进行简单说明。如图5所示，投影机100具有箱体100a和投射透镜100b等。-->如图6所示，投影机100的光学单元4具有积分器照明光学系统41、色分离光学系统42、中继光学系统43、将光调制光学系统和色合成光学系统一体化的光学装置44以及投射透镜100b。积分器照明光学系统41是用于对构成光学装置44的3个液晶面板441(对红、绿、蓝色光分别设为液晶面板441R、441G、441B)的图像形成区域进行大致均匀照明的光学系统。积分器照明光学系统41包括光源装置411、第1透镜阵列412、第2透镜阵列413、偏振变换元件414以及重叠透镜415。色分离光学系统42包括2个分色镜421、422和反射镜423。分色镜421、422具有将从积分器照明光学系统41射出的多个部分光束分离为红(R)、绿(G)、蓝(B)3色色光的功能。中继光学系统43包括入射侧透镜431、中继透镜433和反射镜432、434，具有将由色分离光学系统42所分离的色光即红色光引导到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查辅助装置，该装置具有暗室和用于配置投影机的检查用架台，其特征在于：上述暗室具有配置屏幕的屏幕配置部、与上述屏幕配置部相对的作业用开口、设置于上述作业用开口的遮光帘、侧壁部、底部和顶部，其中，上述作业用开口和上述屏幕配 置部的距离，根据上述投影机对上述屏幕投射出投射光以形成像所需的必要距离而规定；上述投影机的投射光不通过的区域被规定为配置上述检查用架台的一部分的检查用架台配置区域；上述遮光帘具有用于使来自上述投影机的投射光通过的入射用开口； 上述检查用架台具有被规定为不容纳在上述暗室内部的部分的、配置上述投影机的投影机配置部；上述投影机配置部，在配置上述投影机时，被规定为上述投影机的投射透镜与上述遮光帘的上述入射用开口对应的位置。

【技术特征摘要】
1 一种检查辅助装置，该装置具有暗室和用于配置投影机的检查用架台，其特征在于：上述暗室具有配置屏幕的屏幕配置部、与上述屏幕配置部相对的作业用开口、设置于上述作业用开口的遮光帘、侧壁部、底部和顶部，其中，上述作业用开口和上述屏幕配置部的距离，根据上述投影机对上述屏幕投射出投射光以形成像所需的必要距离而规定；上述投影机的投射光不通过的区域被规定为配置上述检查用架台的一部分的检查用架台配置区域；上述遮光帘具有用于使来自上述投影机的投射光通过的入射用开口；上述检查用架台具有被规定为不容纳在上述暗室内部的部分的、配置上述投影机的投影机配置部；上述投影机...

【专利技术属性】
技术研发人员：林挺，伊藤文人，钟日阳，马凤儒，彭太理，饶慧明，张华勇，堀岛稔，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]