基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于摄影测量的工装检测方法和系统，一种基于摄影测量的工装检测方法，包括：使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；将待测工装的图像转换为待测工装的关键控制点三维坐标值；根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；确定待测工装的关键控制点与待测工装的图纸中关键控制点理论值的偏差。本发明专利技术公开的基于摄影测量的工装检测方法和系统，能够提高工装型架的检测效率。能够提高工装型架的检测效率。能够提高工装型架的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统


[0001]本专利技术实施例涉及数字化检测技术，尤其涉及一种基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统。

技术介绍

[0002]为了保证产品装配的可靠性，需要在指定的周期内对工装型架进行检测，从而确定工装型架符合工装图纸要求，并可以进行后续产品的装配工作。
[0003]目前工装型架的周期定检都选用激光跟踪仪进行检测，检测时需要选择骨架上的基准点建立坐标系后，对工装型架上的定位件及定位孔进行检测。但在使用激光跟踪仪对工装型架上进行检测时，激光跟踪仪主机与被测点间不允许有任何遮挡，测量基准点和定位孔时必须使用对应的反射球底座才能进行检测。而使用激光跟踪仪对大型工装型架进行检测时，需要在被测工装型架上设置众多的控制点，并且需要多次转换激光跟踪仪的位置进行检测，耗时较长。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统，能够提高工装型架的检测效率。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种基于摄影测量的工装检测方法，包括：
[0006]使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；
[0007]将待测工装的图像转换为待测工装的关键控制点的三维坐标值；
[0008]根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；
[0009]确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中关键控制点理论值的偏差。
[0010]在第一方面一种可能的实现方式中，待测工装的基准孔还设置有摄影测量反射靶座；
[0011]根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐之前，还包括：
[0012]使用激光跟踪仪对待测工装的基准孔进行测量，确定待测工装的基准孔实测值；
[0013]使用待测工装的基准孔实测值对待测工装的三维图像中的数据进行比例缩放，以校准待测工装的图像中的坐标比例。
[0014]在第一方面一种可能的实现方式中，摄影测量反射靶座与激光跟踪仪球座补偿值相同。
[0015]在第一方面一种可能的实现方式中，待测工装的主定位孔或主定位件上设置有摄影测量反射靶座；
[0016]确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中关键控制点理论值的偏差，包括：
[0017]确定待测工装的三维图像中主定位孔或主定位件与待测工装的图纸中主定位孔或主定位件的偏差。
[0018]在第一方面一种可能的实现方式中，确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差，包括：
[0019]根据与待测工装的图纸对齐坐标系的待测工装的三维图像生成待测量文件；
[0020]将待测量文件与待测工装的图纸对应的标准文件进行比对，确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差。
[0021]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种基于摄影测量的工装检测系统包括：
[0022]相机测量模块，用于使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；
[0023]图像转换模块，用于将待测工装的图像转换为待测工装的三维图像；
[0024]数据处理模块，用于根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中的关键控制点的理论值偏差。
[0025]在第二方面一种可能的实现方式中，待测工装的基准孔还设置有摄影测量反射靶座；
[0026]系统还包括：激光测量模块，用于使用激光跟踪仪对待测工装的基准孔进行测量，确定待测工装的基准孔实测值；
[0027]数据处理模块，还用于使用待测工装的基准孔实测值对待测工装的三维图像中的数据进行比例缩放，以校准待测工装的图像中的坐标比例。
[0028]在第二方面一种可能的实现方式中，摄影测量反射靶座与激光跟踪仪球座补偿值相同。
[0029]在第二方面一种可能的实现方式中，待测工装的主定位孔或主定位件上设置有摄影测量反射靶座；
[0030]数据处理模块，还用于确定待测工装的三维图像中主定位孔或主定位件与待测工装的图纸中主定位孔或主定位件的偏差。
[0031]在第二方面一种可能的实现方式中，数据处理模块，具体用于根据与待测工装的图纸对齐坐标系的待测工装的三维图像生成待测量文件；将待测量文件与待测工装的图纸对应的标准文件进行比对，确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差。
[0032]本专利技术实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统，使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；将待测工装的图像转换为待测工装的关键控制点的三维坐标值；根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差，通过摄影测量的方式对待测工装进行测量，提高了测量效率，节约了测量所需时间。
附图说明
[0033]图1为本专利技术实施例提供的基于摄影测量的工装检测系统实施例一的流程图；
[0034]图2A-图2D为不同的摄影测量编码点的示意图；
[0035]图3示出四种不同而对摄影测量反射靶座的结构示意图；
[0036]图4为本专利技术实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法实施例一的流程图；
[0037]图5为本专利技术实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法实施例二的流程图。
具体实施方式
[0038]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0039]在大型设备的装配过程中，为了便于装配，并保证装配精度，需要使用工装型架辅助装配。工装型架由多个组合在一起或分离的部件组成，那么为了确保使用工装型架进行设备装配的精度，首先需要保证工装型架的精度符合工装图纸要求。为了确保工装型架的精度，目前主要选用激光跟踪仪对激光型架进行检测，但由于激光跟踪仪的测量范围有限，对于大型工装型架的检测，需要多次转换激光跟踪仪的位置，耗时较长。另外，采用激光跟踪仪进行检测时，激光跟踪仪与被测点间不允许有任何遮挡。因此采用激光跟踪仪对工装型架进行检测虽然能够保证工装型架的精度，但效率较低。而工装型架又需要按照指定的周期进行检测，导致对工装型架的检测占用了很多时间，影响生产效率。
[004本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于摄影测量的工装检测方法，其特征在于，包括：使用相机拍摄待测工装的图像，所述待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；将所述待测工装的图像转换为所述待测工装的三维图像；根据所述待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将所述待测工装的三维图像的坐标系与所述待测工装的图纸坐标系对齐；确定所述待测工装的三维图像与所述待测工装的图纸的偏差。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测工装的三维图像与所述待测工装的图纸的偏差，包括：确定所述待测工装的关键控制点的三维坐标值与所述待测工装的图纸中关键控制点的三维坐标理论值的偏差。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测工装的基准孔还设置有摄影测量反射靶座；所述根据所述待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将所述待测工装的三维图像的坐标系与所述待测工装的图纸坐标系对齐之前，还包括：使用激光跟踪仪对所述待测工装的基准孔进行测量，确定所述待测工装的基准孔实测值；使用所述待测工装的基准孔实测值对所述待测工装的三维图像中的数据进行比例缩放，以校准所述待测工装的图像中的坐标比例。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述摄影测量反射靶座与激光跟踪仪球座补偿值相同。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测工装的主定位孔或主定位件上设置有所述摄影测量反射靶座；所述确定所述待测工装的关键控制点的三维坐标三维图像与所述待测工装的图纸中关键控制点的理论值的偏差，包括：确定所述待测工装的三维图像中主定位孔或主定位件与所述待测工装的图纸中主定位孔或主定位件的偏差。6.根据权利要求1～4任一项所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测工装的三维图像与所述待测工装的图纸中的偏差，包括：根据与...

【专利技术属性】
技术研发人员：范晓骏，龚婷，童懿，余泽民，
申请(专利权)人：上海飞机制造有限公司，
类型：发明
国别省市：