本实用新型专利技术涉及一种模拟电容器工作状况的测试装置，充电电源两端并联有储能单元，恒流功能模块串联有待测电容器，恒流功能模块与储能单元并联，储能单元通过恒流功能模块给待测电容器提供稳定的充电电流，触发单元连接有基准电压，数据转换单元与待测电容器并联，触发单元通过外部触发信号给MCU处理器信号，MCU处理器通过触发单元给恒流功能模块提供基准电压，MCU处理器控制数据转换单元采集待测电容器的升压过程数据，MCU处理器连接有数据传输模块，MCU处理器处理升压过程数据或者通过数据传输模块上传到上位机进行处理。本实用新型专利技术能有效将通电即爆炸的瑕疵电容器在出厂前检测出来，既提高产品品质，又能防止因电容器爆炸引起的人身伤亡及财产损失。爆炸引起的人身伤亡及财产损失。爆炸引起的人身伤亡及财产损失。
【技术实现步骤摘要】
一种模拟电容器工作状况的测试装置
[0001]本技术涉及电容器
，特别是一种模拟电容器工作状况的测试装置。
技术介绍
[0002]电容器是电子设备中大量使用的电子元件之一，广泛应用于电路中。电容器所使用的铝箔在分切环节会产生一些毛刺、铝屑等杂质，在老化与测试过程中由于充电电流较小不一定会出现故障，因此某些有瑕疵的不良品会出货到终端客户被安装到线路板，上电时由于充电电流非常大而出现电容爆炸。
[0003]通常交流电经过整流后连接到电容器，以220V50HZ交流电为例，每个周期为20mS，每个周期分为4象限，每个象限均能达到峰值的交流电压，即5mS时间内即可将电容器充至满电状态，电容器容量不同其充电电流也由几十A到几百安不等。
[0004]瑕疵品初次上电时发生爆炸是因为大电流充电时阳极箔与阳极箔均流过很大的电流，同时也会产生非常强力的磁场，阳极箔与阴极箔的电流相反而产生相反的磁场而相吸引，相当于在阳极箔与阴极箔上施加了非常大的压力，毛刺与铝屑刺穿电解纸而发生短路的现象，电容器也因此瞬间发生爆炸。
[0005]为此，提供一种模拟电容器工作状况的测试装置及方法，模拟电容器装机后通电时工作状况，检测电容器，关断电容器充电，防止电容器瑕疵品爆炸，将电容器瑕疵品检测出来。
技术实现思路
[0006]本技术目的是提供一种模拟电容器工作状况的测试装置，以解决电容器初次上电时产生瞬间充电电流，瑕疵品发生爆炸的问题，以及此类瑕疵品难以检测的问题。
[0007]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种模拟电容器工作状况的测试装置，其特征在于，包括
[0008]充电电源，所述充电电源两端并联有储能单元；
[0009]至少一个恒流功能模块，所述恒流功能模块串联有待测电容器，恒流功能模块与储能单元并联，储能单元通过恒流功能模块给待测电容器提供稳定的充电电流；
[0010]触发单元，所述触发单元连接有基准电压；
[0011]数据转换单元，所述数据转换单元与待测电容器并联；
[0012]MCU处理器，触发单元通过外部触发信号给MCU处理器信号，MCU处理器通过触发单元给恒流功能模块提供基准电压，MCU处理器控制数据转换单元采集待测电容器的升压过程数据；
[0013]MCU处理器连接有数据传输模块，MCU处理器处理待测电容器的升压过程数据或者通过数据传输模块上传到上位机进行处理。
[0014]作为进一步的优化，恒流功能模块包括：与电阻R4并联的电阻R1，与电阻R4串联的开关器件Q2、与电阻R1串联的开关器件Q1、电阻R2、电阻R3、恒流源放大器U1和恒功率放大
器U2，其中，
[0015]储能单元输出端通过电阻R2连接恒功率放大器U2反相输入端，触发单元提供的基准电压连接恒功率放大器U2同相输入端，恒功率放大器U2输出端连接恒流源放大器U1同相输入端，电阻R3的两端分别连接恒功率放大器U2的反相输入端和输出端；
[0016]开关器件Q2的输入端连接储能单元的输出端，输出端经过电阻R4连接待测电容器，控制端连接恒流源放大器U1输出端，输出端连接恒流源放大器U1反相输入端；
[0017]开关器件Q1的输入端经过电阻R1连接储能单元输出端，输出端连接待测电容器，控制端连接恒功率放大器U2同相输入端；
[0018]电阻R1为大功率负载电阻，电阻R2为电流采样电阻，触发单元给恒功率放大器U2同相输入端输入基准电压时，开关器件Q1导通，储能单元给待测电容器提供稳定的充电电流。
[0019]作为进一步的优化，还包括放电单元，所述放电单元与所述待测电容器并联。
[0020]作为进一步的优化，所述放电单元包括放电负载电阻R9与开关器件Q3，并由MCU处理器控制开关器件Q3的通断。
[0021]作为进一步的优化，所述开关器件Q3为电子开关器件或者机械开关器件。
[0022]作为进一步的优化，所述触发单元包括开关件和信号传输件，开关件输入端连接有基准电压，输出端连接恒流功能模块，信号传输件通过外部触发信号给MCU处理器信号，MCU处理器发出指令让开关器件导通时，触发单元给恒流功能模块提供基准电压。
[0023]作为进一步的优化，所述数据转换单元为独立于MCU处理器的器件或者集成于MCU处理器内部。
[0024]作为进一步的优化，MCU处理器通过数据传输模块连接有上位机，数据传输模块为有线通迅模块或者无线通讯模块。
[0025]与现有技术相比，本技术的优点和积极效果是：本技术能模拟电容器初次上电时的瞬间充电电流和通电时的状况，触发单元通过外部触发信号给MCU处理器传递触发信号，MCU处理器通过触发单元给恒流功能模块提供基准电压，基准电压使储能单元通过恒流功能模块给待测电容器充电，MCU处理器同时控制数据转换单元进行高速的数据采集和处理，并将结果暂存于MCU处理器内部存储器中。MCU处理器为单片机或者计算机以及其他智能设备的MCU处理器，可以单独进行数据分析和处理。MCU处理器可以作为上位机或者下位机的MCU处理器，当MCU处理器通过数据传输模块通讯连接有上位机时，外部触发信号也可以通过数据传输模块由上位机发出触发指令，MCU处理器通过数据传输模块将数据采集结果上传到上位机进行数据实时图形化显示、分析、存储和读取等。待测电容器并联有放电单元，测试完成后可对待测电容器进行放电。本技术装置的恒流功能模块使待测电容器的充电电流保持稳定，为模拟电容器初次上电时的瞬间提供稳定的充电电流，将通电即爆炸的瑕疵品检测出来，防止这类不良品流入市场，提升电容器出厂品质。
附图说明
[0026]图1为本技术的模拟电容器工作状况的测试装置电路图；
[0027]图2为本技术无上位机连接时的工作流程简图；
[0028]图3为本技术连接上位机时的工作流程简图。
具体实施方式
[0029]下面，结合附图以及具体实施方式，对本技术做进一步说明。
[0030]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0031]本技术的模拟电容器工作状况的测试装置如图1所示，包括充电电源，所述充电电源两端并联有储能单元；至少一个恒流功能模块，所述恒流功能模块串联有待测电容器，恒流功能模块与储能单元并联，储能单元通过恒流功能模块给待测电容器提供稳定的充电电流；触发单元，所述触发单元连接有基准电压；数据转换单元，所述数据转换单元与待测电容器并联；MCU处理器，触发单元通过外部触发信号给MCU处理器信号，MCU处理器通过触发单元给恒流功能模块提供基准电压，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种模拟电容器工作状况的测试装置，其特征在于，包括：充电电源，所述充电电源两端并联有储能单元；至少一个恒流功能模块，所述恒流功能模块串联有待测电容器，恒流功能模块与储能单元并联，储能单元通过恒流功能模块给待测电容器提供稳定的充电电流；触发单元，所述触发单元连接有基准电压；数据转换单元，所述数据转换单元与待测电容器并联；MCU处理器，触发单元通过外部触发信号给MCU处理器信号，MCU处理器通过触发单元给恒流功能模块提供基准电压，MCU处理器控制数据转换单元采集待测电容器的升压过程数据；MCU处理器连接有数据传输模块，MCU处理器处理待测电容器的升压过程数据或者通过数据传输模块上传到上位机进行处理。2.根据权利要求1所述的模拟电容器工作状况的测试装置，其特征在于：恒流功能模块包括：与电阻R4并联的电阻R1、与电阻R4串联的开关器件Q2、与电阻R1串联的开关器件Q1、电阻R2、电阻R3、恒流源放大器U1和恒功率放大器U2，其中，储能单元输出端通过电阻R2连接恒功率放大器U2反相输入端，触发单元提供的基准电压连接恒功率放大器U2同相输入端，恒功率放大器U2输出端连接恒流源放大器U1同相输入端，电阻R3的两端分别连接恒功率放大器U2的反相输入端和输出端；开关器件Q2的输入端连接储能单元的输出端，输出端经过电阻R4连接待测电容器，控制端连接恒流源放大器U1输出端，输出端连接恒流源放大器U1反相输入端；开关器件Q1的...
【专利技术属性】
技术研发人员：廖文昌，唐元安，
申请(专利权)人：深圳市众能达自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。