一种通过用激光来照射液晶屏的缺陷像素来修复液晶屏的方法，包括：在包含灰尘的缺陷像素中，在灰尘基本不会被激光照射到的同时，用激光照射所述灰尘之外的缺陷像素的至少一部分。或者，一种通过用激光来照射液晶屏的缺陷像素来修复液晶屏的方法，包括：在含有灰尘的缺陷像素中，确定含有所述灰尘的非照射区域以及不含有所述灰尘的照射区域，并且在所述非照射区域不被所述激光照射的同时用所述激光照射所述照射区域的至少一部分。一种用于修复液晶屏的装置，包括：发射激光的激光振荡器；其上安装有所述液晶屏的平台；将从所述激光振荡器中发射出的激光导向安装在所述平台上的所述液晶屏的光学部分；以及控制器，控制所述平台和所述光学部分至少之一，从而当所述液晶屏的缺陷像素中含有灰尘时，在所述灰尘基本不被所述激光照射到的同时，所述激光照射所述灰尘之外的缺陷像素的至少一部分。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及修理液晶屏的方法和装置，尤其涉及采用激光束照射具有灰尘引起的显示缺陷的像素来修理液晶屏的方法和装置。
技术介绍
液晶屏是现今包括电视、个人计算机和移动电话的各种家庭应用和信息终端的主流显示设备。为了进一步的发展，就需要增加屏幕面积和分辨率同时降低生产成本。一种用于修理有源矩阵液晶屏内有缺陷像素的修理方法是采用激光照射。例如，“亮点缺陷”的出现是因为由TFT(薄膜晶体管)故障引起的透射光的块失效以及像素电极或取向膜(alignment film)内的缺陷。为了修理有亮点缺陷的像素，有一种修理方法，它就是采用用激光照射有缺陷像素的取向膜来扰乱定向，从而减小透射比来降低亮点缺陷的对比度(例如，JP 5-313167A(1993)以及JP 8-015660A(1996))。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面，提供了一种通过采用激光照射有缺陷像素的液晶屏来修理液晶屏的方法，该方法包括在含有灰尘的有缺陷像素内，用激光照射至少部分该灰尘外的缺陷像素，而激光基本上不照射该灰尘。根据本专利技术的另一个方面，提供一种通过用激光照射缺陷像素的液晶屏来修理液晶屏的方法，该方法包括在含有灰尘的缺陷像素内，确定含有灰尘的非照射区域和不含有灰尘的照射区域，并用激光照射至少部分所述照射区域而非照射区域则不被激光照射。根据本专利技术的另一个方面，提供一种修理液晶屏的装置，该装置包括反射激光的激光振荡器；安装液晶屏的平台；将激光振荡器的发射的激光导入安装在平台上的液晶屏的光学部分；以及控制所述平台和所述光学部分的至少一个的控制器，使得在液晶屏的有缺陷像素内含有灰尘时，至少部分灰尘外的缺陷像素可由激光照射而灰尘则基本上不被激光照射。附图说明图1是根据本专利技术一个实施例示出修理液晶屏的方法步骤的流程图；图2是图1所示修理方法的一个实例流程图；图3是根据本专利技术实施例示出修理液晶屏的另一种方法步骤的流程图；图4是图3所示修理方法的一个实例流程图；图5是示出了用于实现这一实施例所述修理方法的修理装置基本结构的示意图；图6是示出了本专利技术使用的修理装置的另一种基本实例的示意图；图7是示出了由CCD照相机280所捕获图像的示意图；图8是示出了在该实施例内确定的扫描路径的示意图；图9是示出了没有灰尘D的情况下的扫描路径示意图；图10是示出了通过激光L照射来修理像素的示意图；图11是示出了灰尘被激光照射的示例性实验的照片；图12和13是示出了在本专利技术中使用的另一个示例性扫描路径的示意图；图14和15是示出了通过使用激光的间歇照射来干扰照射区域内的激光点S的方法示意图；图16是示出了使用激光照射缺陷像素的步骤流程图；图17和18是描述如何修理液晶屏的示意性截面图；图19是示出了一种选择用来照射有缺陷像素能量的方法的流程图；图20和21是示出了在本专利技术所使用的修复装置的另一个实例的示意图。具体实施例方式现在将参考附图描述本专利技术的实施例。图1是根据本专利技术一个实施例示出修理液晶屏的方法步骤的流程图。图2是详细示出图1所示修理方法的流程图。更具体地，如图1中所示，该实施例由观察缺陷像素(步骤S102)开始，并鉴别该灰尘的形状、大小和位置(步骤S104)。接下来，基于此结果确定照射区域和非照射区域，使得灰尘不被激光照射(步骤S106)。随后使用激光照射确定的照射区域(步骤S108)。由此，在灰尘不被激光照射的情况下，就能可靠地修理该缺陷像素而不引起该缺陷像素周围的损伤。图3是根据本专利技术该实施例示出修理液晶屏的另一种方法步骤的流程图。图4是详细示出图3所示修理方法的流程图。更具体地，在图3和图4中示出实例的基本步骤与图1和图2中示出的基本步骤相类似，除了前者在观察缺陷像素(步骤S102)之前还具有输入有缺陷像素数据的步骤(步骤S100)。有缺陷像素的数据例如可以表示诸如由LCD检查员观察到的亮点缺陷的缺陷像素的位置。图5是示出了用于实现这一修理方法的修理装置的基本结构示意图。图6是示出了用于该实施例的另一种修理装置的基本结构示意图。首先描述图5所示的修理装置。该实例的修理装置包括激光振荡器200、XY平台250、控制器260以及CCD照相机280。激光振荡器200输出的激光，所输出的激光由衰减器210调整，由功率监视器220监视，由半透明反射镜230参考其光路进行修改，由聚光透镜240会聚并在随后入射安装在XY平台250上的液晶屏。在此，可通过移动XY平台250来实现记激光对液晶屏的扫描。另外，如下将详述，可使用可移动反射镜或可移动透镜代替对XY平台250的移动来扫描激光。激光的照射可以不是连续的，而可由持续位移的照射点间断。在XY平台250之下设置透射照明装置290。液晶屏透射光学图像可由CCD(电荷耦合器件)照相机280通过聚光透镜240、半透明反射镜230和中继透镜270来观察。这些元件的操作由控制器260控制。可以使用该修理装置来实现这一实施例的修理方法。如下将参考图1至图6描述该实施例的所述修理方法。在此实施例中，所述方法由观察液晶屏中的缺陷像素(步骤S102)开始。例如，液晶屏W被安装在XY平台250上并由XY平台250下的透射照明装置290照射。这样，液晶屏W的图像信息103就被CCD照相机280采集。图7是示出了由CCD照相机280以此方式捕获的图像的示意图。更具体的是，在此实例中在以矩阵结构排列的像素Pn-1，Pn，Pn+1...，的像素中，像素Pn被灰尘D污染而引起亮点缺陷。当出现亮点缺陷时，像素Pn无法充分阻止透射光并通常呈现为一个比周围更亮的光点。在此实施例中，由CCD照相机280观察该缺陷像素(步骤S102)，且灰尘D被鉴别(步骤S104)。更具体地，可以获取灰尘D的大小、形状和位置信息。例如可以使用基于图像识别技术的自动化来鉴别灰尘D。更具体地，可以提供带有图像识别功能的控制器260，该功能可以分析由CCD照相机280采集的像素Pn的被观察图像，自动识别灰尘D并鉴别它的大小、形状和位置。例如，在此观察到的图像可进行二值化或其他技术处理。此外，还可通过圆形、矩形、多边形或其他近似技术对灰尘D进行图形近似。接下来，就可确定包括灰尘D的非照射区域和不包括灰尘D的照射区域(步骤S106)。更具体地，当如图2所示使用激光扫描时，就确定能避开灰尘D的激光扫描路径(步骤S106a)。另外如图3和图4所示，在观察到缺陷像素(步骤S102)之前，可以提供输入有缺陷像素数据的步骤(步骤S100)，以减少鉴别有缺陷像素的时间。可以使用由图6所示修理装置所表示的系统来实施图3和图4所示的液晶屏修理方法。图6所示的修理装置具有类似于图5所示修理装置的基本结构，除了连接至控制器260用于输入缺陷像素数据的检测器295。检测器295预先检查LCD中诸如亮点缺陷的缺陷像素，并把诸如地址或坐标的位置数据输出给控制器260。此处的检测器295可以直接连接控制器260，或者能够经由磁记录介质或其他记录介质将数据送至控制器260。基于从检测器295输入的数据，控制器260将XY平台250移动至准备修理有缺陷像素的给定位置。随后就观察有缺陷像素(步骤S102)并执行类似于前述用于图5所示修复装置的操作来修复液晶屏。图8是示出了在该实施例内确定的扫描路径的示意图。图9是本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种通过采用激光来照射液晶屏的缺陷像素来修复液晶屏的方法，包括：在包含灰尘的缺陷像素中，在灰尘基本不会被激光照射到时，用激光照射所述灰尘之外的至少一部分缺陷像素。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：川田义高，伊藤弘，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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