【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】隐形指纹涂料及其形成方法专利技术人:M·维斯张俸准E·阿尔蒂纳克相关申请的交叉引用本申请根据35U.S.C.§119(e)要求于2018年5月24日提交的美国临时专利申请号62/676,052的优先权,其公开内容通过引用以其整体并入。
在示例性实施例中,本公开涉及用于涂覆基材以使指纹隐形或几乎隐形涂料组合物。
技术介绍
人从面部和指尖自然产生皮脂(来自皮脂腺)和其他油类。人会将这种油类沉积在手机(或其他物品)显示屏上,诸如玻璃(或屏幕保护器,通常为高分子塑料)、玻璃陶瓷、金属氧化物、树脂玻璃等材料或表面。通常,这种油类是可见的,并且会降低在设备上看到的图像的质量,并会(与污垢、灰尘等一起)降低屏幕的美观。隐形指纹(“IFP”)涂料通常为亲油性涂料,其通过使油类沿屏幕表面扩散而使得油类隐形或几乎隐形。油类可与屏幕材料(例如,玻璃)的折射率匹配,使得光通过,从而看起来没有指纹。这些指纹可能仍然存在,人只是看不到它们(至少在没有仔细检查表面的情况下看不到)。表现出IFP特性的涂料和涂料材料可能需要足够的疏水性,以使水形成水珠并蒸发。如果涂料太亲水,则可能能够看到指纹。然而,如果涂料太疏水,则表面可能无法显示出足够的特性。相反,“耐指纹”(“AFP”)涂料为疏油性涂料,可以防潮,并可以使确实形成的指纹更容易清洁,但不会阻止指纹的形成或降低确实形成的指纹的显著性。IFP涂料以与AFP涂料不同的方式起作用。期望具有能够提供光学透明性、机械耐久性和隐形指纹特性的涂料。 ...
【技术保护点】
1.一种耐指纹基材,其通过包括以下的方法制备:/n将用于耐指纹涂料的制剂施加到基材的表面上,/n其中所述耐指纹表面具有的ΔE小于2。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180524 US 62/676,0521.一种耐指纹基材,其通过包括以下的方法制备:
将用于耐指纹涂料的制剂施加到基材的表面上,
其中所述耐指纹表面具有的ΔE小于2。
2.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述耐指纹表面具有小于约40°的初始油角以及大于约65°的初始水角。
3.根据权利要求2所述的耐指纹基材,其中所述用于耐指纹涂料的制剂包括下式的烷基硅烷:
(RA)3SiRB,
其中每个RA独立地为-OC1-C6烷基、-OC2-C6烯基或-OC2-C6炔基;
RB为C1-C20烷基、C2-C20烯基或C2-C20炔基;其中-OC1-C6烷基、-OC2-C6烯基、-OC2-C6炔基、C1-C20烷基、C2-C20烯基或C2-C20炔基中的每个氢原子独立地任选地被氘、卤素、-OH、-CN、-OR1、-CO2H、-C(O)OR1、-C(O)OC1-C20-PO3H2、-C(O)NH2、-C(O)NH(C1-C6烷基)、-C(O)N(C1-C6烷基)2、-SC1-C6烷基、-S(O)C1-C6烷基、-S(O)2C1-C6烷基、-S(O)NH(C1-C6烷基)、-S(O)2NH(C1-C6烷基)、-S(O)N(C1-C6烷基)2、-S(O)2N(C1-C6烷基)2、-NH2、-NH(C1-C6烷基)、-N(H)C1-C6烷基-NH2、-N(H)C1-C6烷基-Si(-OC1-C6烷基)3、-N(R1)C1-C6烷基-N(R1)C1-C6烷基-Si(-OC1-C6烷基)3、-N(H)C1-C6烷基-OC1-C6烷基-Si(-OC1-C6烷基)3、-N(H)C1-C6烷基-N(H)C1-C6烷基-NH2、-P(C1-C6烷基)2、-P(O)(C1-C6烷基)2、-PO3H2或-Si(-OC1-C6烷基)3取代;并且其中-N(H)C1-C6烷基-O-C1-C6烷基-Si(-OC1-C6烷基)3的C1-C6烷基中的每个氢原子任选地被羟基取代;以及
R1独立地为氘、C1-C6烷基、C2-C6烯基、C2-C6炔基、C3-C6环烷基或-C1-C6烷基-O-C1-C6烷基,其中C1-C6烷基中的每个氢原子任选地被羟基取代。
4.根据权利要求3所述的耐指纹基材,其中RA为-OC1-C6烷基。
5.根据权利要求3所述的耐指纹基材,其中RB为C6-C20烷基或C10-C20烷基。
6.根据权利要求5所述的耐指纹基材,其中RB为C6-C20烷基或C10-C20烷基,并且C6-C20烷基或C10-C20中的每个氢原子独立地任选地被卤素、-OH、-CN、-OR1、-CO2H、-NH2、-NH(C1-C6烷基)、-N(C1-C6烷基)2、-P(C1-C6烷基)2、-P(O)(C1-C6烷基)2或-PO3H2取代,其中R1独立地为氘或-C1-C6烷基-O-C1-C6烷基。
7.根据权利要求6所述的耐指纹基材,其中所述烷基硅烷选自由以下组成的组:(氯十一烷基)(三乙氧基)硅烷、(氯十一烷基)(三甲氧基)硅烷、(氯己基)(三乙氧基)硅烷、(氯己基)(三甲氧基)硅烷、11-(2-甲氧基乙氧基)十一烷基三甲氧基硅烷、(氨基十一烷基)(三乙氧基)硅烷、(氨基十一烷基)(三甲氧基)硅烷、(羟基癸基)(三乙氧基)硅烷、(羟基癸基)(三甲氧基)硅烷、(11-十一碳烯酸)(三乙氧基)硅烷、(羟基庚基)(三乙氧基)硅烷、(羟基十一烷基)(三乙氧基)硅烷以及(11-磷酸基十一烷基)(三乙氧基)硅烷。
8.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述烷基硅烷不包含氟。
9.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述用于耐指纹涂料的制剂包括下式的POSS:
其中R为-C1-C6烷基、-AE-O-BF-CG-O-DH或-O-Si(C1-C6烷基)3,其中A为C1-C6烷基,B为-C1-C6烷基-O-,C为C1-C6烷基,D为C1-C6烷基,O为氧,E、G和H中的每一个至少为1,并且F为5至12的整数,并且其中-C1-C6烷基中的每个氢原子独立地任选地被氘、卤素、-OH、-CN、-OR2、-OC1-C6烷基、-NH2、-NH(C1-C6烷基)、-NH(C1-C6烷基)、-N(H)C1-C6烷基-NH2、-N(C1-C6烷基)2、-P(C1-C6烷基)2、-P(O)(C1-C6烷基)2或-OPO3H取代;以及
其中R2独立地为氘、C2-C6烯基、C2-C6炔基、C3-C6环烷基或-C1-C6烷基-O-C1-C6烷基。
10.根据权利要求9所述的耐指纹基材,其中R为-AE-O-BF-CG-O-DH或-O-Si(C1-C6烷基)3。
11.根据权利要求9所述的耐指纹基材,其中R为-AE-O-BF-CG-O-DH。
12.根据权利要求11所述的耐指纹基材,其中R为-(CH2)3O(CH2CH2O)9CH2CH2OCH3。
13.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述耐指纹基材具有小于约0.2的摩擦系数。
14.根据权利要求13所述的耐指纹基材,其中所述耐指纹基材具有小于约0.13的摩擦系数。
15.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述基材包括选自由玻璃、金属氧化物和丙烯酸类聚合物组成的组中的至少一种材料。
16.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述耐指纹基材具有至少小于约50°的初始油角。
17.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述耐指纹基材具有至少小于约45°的初始油角。
18.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述耐指纹基材具有至少小于约35°的初始油角。
19.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述耐指纹基材具有大于约65°的初始水角。
20.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述耐指纹基材具有约70°至约90°的初始水角。
21.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述耐指纹基材基本上不含氟化物。
22.根据权利要求1所述的耐指纹基材,其中所述ΔE小于约0.7。
23.一种用于耐指纹涂料的制剂,所述制剂包括:
烷基硅烷,
POSS,以及
溶剂。
24.根据权利要求23所述的制剂,其中所述烷基硅烷具有下式:
(RA)3SiRB,
其中每个RA独立地为-OC1-C6烷基、-OC2-C6烯基或-OC2-C6炔基;
RB为C1-C20烷基、C2-C20烯基或C2-C20炔基;其中-OC1-C6烷基、-OC2-C6烯基、-OC2-C6炔基、C1-C20烷基、C2-C20烯基或C2-C20炔基中的每个氢原子独立地任选地被氘、卤素、-OH、-CN、-OR1、-CO2H、-C(O)OR1、-C(O)OC1-C20-PO3H2、-C(O)NH2、-C(O)NH(C1-C6烷基)、-C(O)N(C1-C6烷基)2、-SC1-C6烷基、-S(O)C1-C6烷基、-S(O)2C1-C6烷基、-S(O)NH(C1-C6烷基)、-S(O)2NH(C1-C6烷基)、-S(O)N(C1-C6烷基)2、-S(O)2N(C1-C6烷基)2、-NH2、-NH(C1-C6烷基)、-N(H)C1-C6烷基-NH2、-N(H)C1-C6烷基-Si(-OC1-C6烷基)3、-N(R1)C1-C6烷基-N(R1)C1-C6烷基-Si(-OC1-C6烷基)3、-N(H)C1-C6烷基-OC1-C6烷基-Si(-OC1-C6烷基)3、-N(H)C1-C6烷基-N(H)C1-C6烷基-NH2、-P(C1-C6烷基)2、-P(O)(C1-C6烷基)2、-PO3H2或-Si(-OC1-C6烷基)3取代;并且其中-N(H)C1-C6烷基-O-C1-C6烷基-Si(-OC1-C6烷基)3的C1-C6烷基中的每个氢原子任选地被羟基取代;以及
R1独立地为氘、C1-C6烷基、C2-C6烯基、C2-C6炔基、C3-C6环烷基或-C1-C6烷基-O-C1-C6烷基,其中C1-C6烷基中的每个氢原子任选地被羟基取代。
25.根据权利要求24所述的制剂,其中RA为-OC1-C6烷基。
26.根据权利要求25所述的制剂,其中RB为C6-C20烷基或C10-C20烷基。
27.根据权利要求26所述的制剂,其中RB为C6-C20烷基或C10-C20烷基,并且C6-C20烷基或C10-C20中的每个氢原子独立地任选地被卤素、-OH、-CN、-OR1、-CO2H、-NH2、-NH(C1-C6烷基)、-N(C1-C6烷基)2、-P(C1-C6烷基)2、-P(O)(C1-C6烷基)2或-PO3H2取代,其中R1独立地为氘或-C1-C6烷基-O-C1-C6烷基。
28.根据权利要求27所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:M·格维斯,张俸准,E·阿尔蒂纳克,
申请(专利权)人:NBD纳米技术公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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