【技术实现步骤摘要】
故障信息控制电路、半导体装置以及故障信息控制方法相关申请的交叉引用本申请要求2019年7月3日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2019-0080055的韩国专利申请的优先权,其公开内容通过引用整体合并于此。
各种实施例总体上涉及一种半导体电路,并且特别地,涉及一种故障信息控制电路、包括该故障信息控制电路的半导体装置、以及该半导体装置的故障信息控制方法。
技术介绍
对于包括存储器的半导体器件,可以对与存储器相关联的故障位进行计数。基于所计数的故障位的数量,可以执行错误校正码(ECC)校正操作,或者可以执行用冗余存储单元替换与故障位相关联的故障单元的修复操作。但是,这并不总是有效地利用存储空间。
技术实现思路
本文描述了能够有效利用存储区域的故障信息控制电路、包括该故障信息控制电路的半导体装置、以及该半导体装置的故障信息控制方法。在一个实施例中,一种故障信息控制电路可以包括:比较电路,其被配置为通过比较读取数据与写入数据来产生比较结果信号;故障位辨别电路,其被配置为响应于所述比较结果信号, ...
【技术保护点】
1.一种故障信息控制电路,包括:/n比较电路,其被配置为通过比较读取数据与写入数据来产生比较结果信号;/n故障位辨别电路,其配置为:响应于所述比较结果信号,/n产生第一故障辨别信号以用于辨别当所述写入数据具有第一值时检测到的故障;并/n产生第二故障辨别信号以用于辨别当所述写入数据具有第二值时检测到的故障;以及/n故障位计数器,其被配置为通过对所述第一故障辨别信号进行计数来产生第一计数信号,并且通过对所述第二故障辨别信号进行计数来产生第二计数信号。/n
【技术特征摘要】
20190703 KR 10-2019-00800551.一种故障信息控制电路,包括:
比较电路,其被配置为通过比较读取数据与写入数据来产生比较结果信号;
故障位辨别电路,其配置为:响应于所述比较结果信号,
产生第一故障辨别信号以用于辨别当所述写入数据具有第一值时检测到的故障;并
产生第二故障辨别信号以用于辨别当所述写入数据具有第二值时检测到的故障;以及
故障位计数器,其被配置为通过对所述第一故障辨别信号进行计数来产生第一计数信号,并且通过对所述第二故障辨别信号进行计数来产生第二计数信号。
2.根据权利要求1所述的故障信息控制电路,还包括:
计数信号校正电路,其被配置为:
将通过把所述第一计数信号的高电平位之中的除最高有效位之外的其余的位的电平复位到低电平所获得的信号输出为第一计数校正信号;以及
将通过把所述第二计数信号的高电平位之中的除最高有效位之外的其余的位的电平复位到低电平所获得的信号输出为第二计数校正信号。
3.根据权利要求1所述的故障信息控制电路,其中,所述故障位辨别电路包括:
第一逻辑门,其被配置为将所述写入数据反相并将反相的所述写入数据输出为输出信号;
第二逻辑门,其被配置为通过对所述比较结果信号与所述写入数据执行逻辑与运算来输出所述第二故障辨别信号;和
第三逻辑门,其被配置为通过对所述比较结果信号与所述第一逻辑门的所述输出信号执行逻辑与运算来输出所述第一故障辨别信号。
4.一种故障信息控制电路,包括:
比较电路,其被配置为通过比较读取数据与写入数据来产生比较结果信号;
故障位辨别电路,其被配置为:响应于所述比较结果信号,产生第一故障辨别信号以用于辨别当所述写入数据具有第一值时检测到的故障,并产生第二故障辨别信号以用于辨别在所述写入数据具有第二值时检测到的故障;和
故障信息输出电路,其被配置为:
通过对所述第一故障辨别信号和所述第二故障辨别信号进行计数来产生第一计数信号和第二计数信号;以及
通过将所述第一计数信号和所述第二计数信号的位之中的除第一电平的最高有效位之外的其余的位复位,来产生第一计数校正信号和第二计数校正信号。
5.根据权利要求4所述的故障信息控制电路,其中,所述故障位辨别电路包括:
第一逻辑门,其被配置为将所述写入数据反相并将反相的所述写入数据输出为输出信号;
第二逻辑门,其被配置为通过对所述比较结果信号和所述写入数据执行逻辑与运算来输出所述第二故障辨别信号;和
第三逻辑门,其被配置为通过对所述比较结果信号和所述第一逻辑门的所述输出信号执行逻辑与运算来输出所述第一故障辨别信号。
6.根据权利要求4所述的故障信息控制电路,其中,所述故障信息输出电路包括:
故障位计数器,其被配置为:
通过对所述第一故障辨别信号进行计数来产生第一计数信号;并
通过对所述第二故障辨别信号进行计数来产生第二计数信号;和
计数信号校正电路,其被配置为:
将通过把所述第一计数信号的具有第一电平的位之中的除最高有效位之外的其余的位的电平复位到第二电平而获得的信号输出为所述第一计数校正信号;以及
将通过把所述第二计数信号的具有所述第一电平的位之中的除最高有效位之外的其余的位的电平复位到所述第二电平而获得的信号输出为所述第二计数校正信号。
7.一种半导体装置,包括:
存储区域;
输入/输出焊盘;和
故障信息控制电路,其被配置为:
将故障分类为写入数据具有第一值的情况和所述写入数据具有第二值的情况,所述故障是根据对提供给所述存储区域的写入数据与从所述存储区域输出的读取数据进行比较的结果而检测到的;以及
对被分类的所述故障进行计数以产生第一计数信号和第二计数信号,
其中,所述第一计数信号和所述第二计数信号通过所述输入/输出焊盘而被输出到外部。
8.根据权利要求7所述的半导体装置,其中,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:姜在龙,
申请(专利权)人:爱思开海力士有限公司,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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