SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备，该SSD老化测试方法包括：接收治具已到位信息，在第一开卡设备处电连接载有待测SSD的待测治具，并烧录第一测试程序至每一片待测SSD，待烧录完成，断开与待测治具的电连接；控制待测治具移动到处于空闲状态的第一温度箱体，在第一温度箱体中按照第一预设参数执行第一测试程序，并在检测到测试完成之后，控制待测治具移动到第二开卡设备；之后如上依次完成第二次开卡和第二次测试之后烧录出厂程序至每一片待测SSD，完成SSD老化测试。本发明专利技术实现了自动化SSD老化测试，能有效节省人力劳动，降低生产成本，减少人工操作失误造成损失，同时也能提高产量。

【技术实现步骤摘要】
SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备
本专利技术涉及存储芯片老化测试
，特别涉及一种SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
目前SSD(SolidStateDisk，固态硬盘)老化测试流程，需要对SSD进行RDT(ReliabilityDemonstrationTest，可靠性验证试验)开卡，完成后运送至周转区，在进行人工转换接卡，然后转至RDT老化测试，其中RDT老化测试的NG产品需要人工拿出来，RDT老化测试完成后需要把转接卡拆下来，完成后运送至周转区，再进行一次开卡，完成后运送至周转区，在进行人工转换接卡，然后转至BIT(BuiltInTest，机内自测试)老化测试，其中BIT老化测试的NG产品需要人工拿出来，BIT老化测试完成后也需要把转接卡拆下来，完成后运送至周转区，再进行二次开卡，完成后运送至周转区。目前，这一系列的步骤由人工完成，从开卡到老化测试周转，中间需要多次反复的操作几个流程，如此，不仅生产效率低下，人员的劳动强度大，也容易出现操作失误造成损失。
技术实现思路
本专利技术所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SSD老化测试方法，其特征在于，包括步骤：/n接收治具已到位信息，在第一开卡设备处电连接载有待测SSD的待测治具，并烧录第一测试程序至每一片所述待测SSD，待烧录完成，断开与所述待测治具的电连接；/n控制所述待测治具移动到处于空闲状态的第一温度箱体，在所述第一温度箱体中按照第一预设参数执行所述第一测试程序，并在检测到测试完成之后，控制所述待测治具移动到第二开卡设备；/n在所述第二开卡设备处电连接所述待测治具，并烧录第二测试程序至每一片所述待测SSD，待烧录完成，断开与所述待测治具的电连接；/n控制所述待测治具移动到处于空闲状态的第二温度箱体，在所述第二温度箱体中按照第二预设参数执行所述...

【技术特征摘要】
1.一种SSD老化测试方法，其特征在于，包括步骤：
接收治具已到位信息，在第一开卡设备处电连接载有待测SSD的待测治具，并烧录第一测试程序至每一片所述待测SSD，待烧录完成，断开与所述待测治具的电连接；
控制所述待测治具移动到处于空闲状态的第一温度箱体，在所述第一温度箱体中按照第一预设参数执行所述第一测试程序，并在检测到测试完成之后，控制所述待测治具移动到第二开卡设备；
在所述第二开卡设备处电连接所述待测治具，并烧录第二测试程序至每一片所述待测SSD，待烧录完成，断开与所述待测治具的电连接；
控制所述待测治具移动到处于空闲状态的第二温度箱体，在所述第二温度箱体中按照第二预设参数执行所述第二测试程序，并在检测到测试完成之后，控制所述待测治具移动到第三开卡设备，所述第二预设参数中的预设温度值与所述第一预设参数中的预设温度值不同；
在所述第三开卡设备处电连接所述待测治具，并烧录出厂程序至每一片所述待测SSD，完成SSD老化测试。


2.根据权利要求1所述的SSD老化测试方法，其特征在于，所述第一开卡设备处、所述第一温度箱体、所述第二开卡设备处、所述第二温度箱体和所述第三开卡设备处均设置有物体识别感应器，所述接收治具已到位信息具体包括步骤：
接收所述物体识别感应器返回的治具已到位信息；
所述第二开卡设备处和所述第三开卡设备处在电连接所述待测治具之前以及所述第一温度箱体和所述第二温度箱体在按照第一预设参数执行所述第一测试程序之前均包括以下步骤：
接收所述物体识别感应器返回的治具已到位信息。


3.根据权利要求2所述的SSD老化测试方法，其特征在于，所述物体识别感应器为光电传感器，每一个所述第一温度箱体和所述第二温度箱体的内部还设置有温度传感器。


4.根据权利要求1所述的SSD老化测试方法，其特征在于，所述第一温度箱体和所述第二温度箱体在按照第一预设参数执行所述第一测试程序之前均包括以下步骤：
电连接所述待测治具；
所述电连接所述待测治具具体包括以下步骤：
通过控制位于所述待测治具上方的PIN针下压，使得所述PIN针的针头与所述待测治具上的电路触点电连接。


5.根据权利要求1所述的SSD老化测试方法，其特征在于，控制所述待测治具移动到处于空闲状态的第N温度箱体，在所述第N温度箱体中按照第N预设参数执行所述第N测试程序，并在检测到测试完成之后，控制所述待测治具移动到下一个开卡设备具体包括以下步骤：
接收到移载机返回的治具已接上信息，判断是否存在处于空闲状态的第N温度箱体，若存在，则下发上料移动指令和处于空闲状态的第N温度箱体的位置信息至移载机，所述上料移动指令用于控制所述移载机将所述待测治具移动到处于空闲状态的第N温度箱体，所述N为一或二；
当所述待测治具通电之后，控制所述第N温度箱体的窗体挡板闭合，按照所述第N预设参数开始加热到第N预设温度；
实时判断每一个所述待测SSD上的预设固定块内是否都存储有第N测试结果，若是，则测试完成，并读取每一个所述待测SSD所对应的第N测试结果，所述第N测试结果为每一个所述待测SSD在通电之后自动运行所述预设固定块内的第N测试程序之后的所得到的测试结果；
断开与所述待测治具的电连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙成思，孙日欣，李振华，毛邦柱，曹帆熙，
申请(专利权)人：深圳佰维存储科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44