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本发明公开了一种SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备，该SSD老化测试方法包括：接收治具已到位信息，在第一开卡设备处电连接载有待测SSD的待测治具，并烧录第一测试程序至每一片待测SSD，待烧录完成，断开与待测治具的电连接；控制待测治...
该专利属于深圳佰维存储科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳佰维存储科技股份有限公司授权不得商用。

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